《電子技術(shù)應(yīng)用》
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一種低功耗高精度帶隙基準(zhǔn)的設(shè)計(jì)
2015年電子技術(shù)應(yīng)用第3期
李 睿,馮全源
西南交通大學(xué) 微電子研究所,四川 成都611756
摘要: 基于UMC 0.25 μm BCD 工藝,在傳統(tǒng)帶隙基準(zhǔn)結(jié)構(gòu)的基礎(chǔ)上,設(shè)計(jì)了一種具有低功耗、高精度的基準(zhǔn),同時(shí)利用NMOS管工作在亞閾值區(qū)域時(shí)漏電流和柵極電壓的指數(shù)特性,對(duì)基準(zhǔn)溫度特性曲線進(jìn)行二階補(bǔ)償。仿真結(jié)果表明,電源電壓5 V時(shí),靜態(tài)電流功耗為3.16 μA;電源電壓2.5 V~5.5 V,基準(zhǔn)電壓變化53 μV;溫度在-40 ℃~130 ℃內(nèi),電路的溫度系數(shù)為 0.86×10-6/℃;三種工藝角下,低頻時(shí)電路電源抑制比都小于-95 dB。
中圖分類(lèi)號(hào): TN433
文獻(xiàn)標(biāo)識(shí)碼: A
文章編號(hào): 0258-7998(2015)03-0051-04
Design of a bandgap reference voltage with low power consumption and high-accuracy
Li Rui,F(xiàn)eng Quanyuan
Institute of Microelectronics, Southwest Jiaotong University, Chengdu 611756,China
Abstract: A new bandgap reference voltage with low consumption and high-accuracy performance, which is based on UMC 0.25 μm BCD process and the traditional bandgap reference construct. It uses the exponential response curve between leakage current and grid voltage when the N type MOS-FET is working in the sub-threshold region to compensate the temperature characteristic curve. The simulation shows that quiescent current is 3.16 μA when power supply is 5 V. The change amplitude of reference voltage is 53 μV when the power supply is from 2.5 V to 5.5 V. The temperature coefficient is 0.86×10-6/℃ from -40 ℃ to 130 ℃. The PSRR is lower than-60 dB at the three process corner.
Key words : bandgap reference;power consumption;curvature-compensation;low temperature drift

  

0 引言

  近年來(lái),隨著電子產(chǎn)品特別是智能電子產(chǎn)品硬件的不斷普及,對(duì)芯片的功耗和性能提出了越來(lái)越苛刻的要求[1]。

  基準(zhǔn)源(簡(jiǎn)稱基準(zhǔn))是模擬芯片所必不可少的基本部件,它為電路提供高質(zhì)量、高穩(wěn)定性的電流和電壓偏置,而且它的性能會(huì)直接影響到電路的性能[2]。傳統(tǒng)基準(zhǔn)存在精度低、溫漂大、功耗高和失調(diào)電壓高等缺點(diǎn)[3-4]。本文基于傳統(tǒng)基準(zhǔn)提出了一種低功耗基準(zhǔn),以期克服這些缺點(diǎn)。

1 帶隙基準(zhǔn)的基本原理分析

  對(duì)于一個(gè)雙極型晶體管(BJT)的基極-發(fā)射極電壓(VBE),更一般的是pn結(jié)二極管的正向電壓,具有負(fù)溫度系數(shù)[5]。BJT的VBE、集電極電流IC和飽和電流IS有以下關(guān)系:

  EL7L$4QD]U15}B@G]93WPDY.png

  其中,k為玻爾茲曼常數(shù),T表示熱力學(xué)溫度,q為電荷,少數(shù)載流子的遷移率,ni為硅的本征載流子濃度[6]。

001.jpg

  兩個(gè)雙極型晶體管工作在不同的電流密度下,它們之間的基極-發(fā)射極電壓之差(ΔVBE)具有正溫度系數(shù)[7]。將以上兩個(gè)具有相反溫度系數(shù)的變量加以適當(dāng)?shù)臋?quán)重,就可以得到滿意的零溫度系數(shù)基準(zhǔn)[8]。圖1是傳統(tǒng)的帶隙基準(zhǔn)電路,這里,運(yùn)算放大器AV以VX和VY為輸入,AV輸出用于驅(qū)動(dòng)R1和R2(R1=R2)的頂端,使得X點(diǎn)和Y點(diǎn)穩(wěn)定在近似相等的電壓?;鶞?zhǔn)電壓可以在運(yùn)算放大器的輸出端得到(不是Y點(diǎn))[9]。三極管基極-發(fā)射極電壓VBE具有負(fù)溫度系數(shù)。三極管Q2和Q1發(fā)射極有效面積比例為n:1,流過(guò)兩者的飽和電流和集電極電流存在以下關(guān)系:

  IS1=n·IS2    IC1=IC2(3)

  三極管Q2和Q1的基極-發(fā)射極電壓之差:

  ΔVBE=VBE1-VBE2=VT lnn(4)

  ΔVBE作用在電阻R3上,產(chǎn)生PTAT電流,使得R1上產(chǎn)生PTAT電壓[10],此電壓和VBE相疊加,得到輸出電壓:

  5.png

  VT具有正溫度系數(shù),通過(guò)調(diào)節(jié)R2、R3和三極管面積比例得到零溫度系數(shù)電壓,實(shí)際電路中基準(zhǔn)電壓溫度系數(shù)是一個(gè)開(kāi)口向下的曲線。VBE具有高階的溫度分量,所以需要對(duì)VBE進(jìn)行高階補(bǔ)償。

  針對(duì)傳統(tǒng)帶隙基準(zhǔn)啟動(dòng)失調(diào)電壓大、精度低的特點(diǎn),本文提出了具有低功耗高精度的電壓基準(zhǔn)。電路由兩個(gè)部分組成,分別為啟動(dòng)偏置電路、基準(zhǔn)核心電路(基準(zhǔn)電壓產(chǎn)生和補(bǔ)償結(jié)構(gòu)、基準(zhǔn)運(yùn)放),實(shí)際原理圖如圖2所示。

002.jpg

2 新型帶隙基準(zhǔn)電壓源設(shè)計(jì)

  2.1 啟動(dòng)電路和PTAT偏置電路

  為了擺脫電源上電時(shí)電路的簡(jiǎn)并偏置點(diǎn),啟動(dòng)電路是不可缺少的。本設(shè)計(jì)中啟動(dòng)電路由R2、C1、NM0、NM1、NM4組成。電路正常上電時(shí),VDD通過(guò)R2向電容C1充電,NM0的柵極電壓升高,使NM0和NM4導(dǎo)通,PM1、PM4的柵極電壓拉低,偏置電路源開(kāi)始正常工作;隨著NM2柵電壓逐漸升高,NM1導(dǎo)通,NM0和NM4柵極電壓被拉低,NM0和NM4截止,此時(shí)關(guān)閉啟動(dòng)電路。

  偏置電路為整個(gè)電路提供一個(gè)與電源無(wú)關(guān)的PTAT偏置電流。如圖2,偏置電路是由PM1、PM2、PM3、PM4、NM2、NM3和R1構(gòu)成的自偏置峰值電流源。PM1~PM4的寬長(zhǎng)比相同,構(gòu)成了Cascode電流鏡,形成自偏置機(jī)制,同時(shí)增加整體電路的電源抑制比。利用NM2和NM3工作在亞閾值區(qū)域時(shí)的柵源電壓之差作用在電阻R1產(chǎn)生正溫度系數(shù)的電流。在亞閾值區(qū)域時(shí),MOS管漏電流ID為:

  6.png

  式中k為亞閾值斜率修正因子,VTH為MOS管閾值電壓[11]。漏源電壓VGS遠(yuǎn)大于VT,式(6)可簡(jiǎn)化為:

  7.png

  可以推導(dǎo)出PTAT偏置電流為:

  8.png

  式中m為NM3和NM2寬長(zhǎng)比之比。從式(8)可以看出,VT具有正溫度系數(shù),所得偏置電流與溫度成正比和電源電壓無(wú)關(guān)。

  2.2 帶隙基準(zhǔn)核心電路

  本文設(shè)計(jì)的基準(zhǔn)產(chǎn)生電路由Q1、Q2、R3~R6、PM12和PM13組成。Q2和Q1的有效發(fā)射極面積之比為n:1,電阻R4和R5的阻值相等。根據(jù)上文式(1)~(5)的推導(dǎo),可以得出基準(zhǔn)電壓Vref的表達(dá)式:

  9.png

  晶體管的VBE并不是與溫度呈線性關(guān)系:

  10.png

  式中,VBG0是帶隙電壓,約為1.12 V;T是絕對(duì)溫度;T0是參考溫度;VBE0是在溫度為T(mén)0時(shí)的發(fā)射結(jié)電壓;?濁是與工藝有關(guān)且與溫度無(wú)關(guān)的常數(shù);的值與集電極電流的溫度特性有關(guān)。調(diào)節(jié)三極管和電阻選取的大小,能很好地對(duì)式(10)中的第一項(xiàng)進(jìn)行補(bǔ)償。為了得到更低的溫度系數(shù),必須對(duì)式(10)中的第二項(xiàng)進(jìn)行補(bǔ)償。

  本設(shè)計(jì)提出了一種簡(jiǎn)單且效果明顯的補(bǔ)償方式,利用NMOS管工作在亞閾值區(qū)域時(shí)漏電流和柵極電壓的指數(shù)特性,對(duì)基準(zhǔn)電壓進(jìn)行二階曲率補(bǔ)償。補(bǔ)償電路由NM8、R7、R8、PM14、PM15組成,補(bǔ)償基準(zhǔn)在高溫下的溫度特性曲線。PM14和PM15鏡像PTAT電流,作用在電阻R7上,產(chǎn)生PTAT電壓,該電壓使NM8工作在亞閾值狀態(tài),隨著溫度的增加,補(bǔ)償電流逐漸增大。由式(6)和式(7),可得:

  11.png

  忽略R8上的壓降,補(bǔ)償電流:

  12.png

  式中是PM14和PM15的鏡像比例因子。加上二階曲率補(bǔ)償電流后,式(9)可改寫(xiě)為:

  13.png

  運(yùn)算放大器由PM5~PM11、NM5~NM7和C2組成。本設(shè)計(jì)采用兩級(jí)運(yùn)放結(jié)構(gòu),具有較大的開(kāi)環(huán)增益。同時(shí)運(yùn)用PM11輸出跟隨器,減小輸出電阻。為了減小運(yùn)放的失調(diào)電壓,加大了PM9和PM10的寬長(zhǎng)比,并保證了一級(jí)運(yùn)放和二級(jí)運(yùn)放之間的對(duì)稱性。電容C1作為補(bǔ)償電容,得到一個(gè)低頻極點(diǎn),增加電路的穩(wěn)定性。

3 仿真結(jié)果

  本文設(shè)計(jì)電路采用UMC 0.25 μm BCD工藝模型,電路中n=8,m=2。利用Hspice仿真軟件,對(duì)電路進(jìn)行了仿真。

003.jpg

  在TT工藝角下。溫度為25 ℃時(shí),基準(zhǔn)電壓線性調(diào)整率如圖3所示。仿真結(jié)果表明,基準(zhǔn)電壓的典型值為1.203 V。供電電壓VDD在2.5 V~5.5 V范圍內(nèi),基準(zhǔn)電壓變化了53 μV,線性調(diào)整率為0.001 8%。供電電壓VDD為5 V,在-40 ℃~130 ℃的溫度范圍內(nèi),基準(zhǔn)電壓的溫度特性仿真結(jié)果如圖4所示。仿真結(jié)果表明,基準(zhǔn)電壓的平均值為1.203 V,基準(zhǔn)電壓的波動(dòng)范圍為175 μV,溫度系數(shù)為0.86×10-6/℃。

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  如圖5為電源電壓VDD為5 V,溫度為25 ℃,在三種工藝角下的電源抑制比(PSRR)仿真結(jié)果,在三種工藝角下低頻PSRR都小于-95 dB,具有很好的電源抑制能力。圖6為瞬態(tài)仿真下的電流功耗大小,從仿真結(jié)果可以看出,電路的靜態(tài)電流功耗為3.16 μA。

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  表1為本文和文獻(xiàn)[2]、[8]和[9]的性能參數(shù)比較。本文提出的結(jié)構(gòu)具有明顯優(yōu)勢(shì)。

4 結(jié)論

  提出了一種基于傳統(tǒng)結(jié)構(gòu)的低功耗、高精度的帶隙基準(zhǔn)電壓源。本設(shè)計(jì)采用Cascode結(jié)構(gòu)來(lái)提高整體電路的電源抑制比。通過(guò)增加運(yùn)放輸入差分對(duì)管的尺寸,添加輸出緩沖級(jí)結(jié)構(gòu)以及保證運(yùn)放的對(duì)稱性來(lái)減小失調(diào)電壓。并運(yùn)用二階曲率補(bǔ)償來(lái)對(duì)基準(zhǔn)電壓進(jìn)行溫度補(bǔ)償。采用UMC 0.25 μm BCD 工藝,仿真結(jié)果表明,基準(zhǔn)電壓源在2.5 V~5 V的電壓范圍內(nèi)提供1.203 V的基準(zhǔn)電壓,線性調(diào)整率為0.001 8%,靜態(tài)功耗只有3.16 μA,在-40 ℃~130 ℃溫度范圍內(nèi)的溫度系數(shù)為0.86 ppm,低頻電源抑制比為-95 dB。

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