文獻(xiàn)標(biāo)識(shí)碼: A
文章編號(hào): 0258-7998(2015)03-0051-04
0 引言
近年來(lái),隨著電子產(chǎn)品特別是智能電子產(chǎn)品硬件的不斷普及,對(duì)芯片的功耗和性能提出了越來(lái)越苛刻的要求[1]。
基準(zhǔn)源(簡(jiǎn)稱基準(zhǔn))是模擬芯片所必不可少的基本部件,它為電路提供高質(zhì)量、高穩(wěn)定性的電流和電壓偏置,而且它的性能會(huì)直接影響到電路的性能[2]。傳統(tǒng)基準(zhǔn)存在精度低、溫漂大、功耗高和失調(diào)電壓高等缺點(diǎn)[3-4]。本文基于傳統(tǒng)基準(zhǔn)提出了一種低功耗基準(zhǔn),以期克服這些缺點(diǎn)。
1 帶隙基準(zhǔn)的基本原理分析
對(duì)于一個(gè)雙極型晶體管(BJT)的基極-發(fā)射極電壓(VBE),更一般的是pn結(jié)二極管的正向電壓,具有負(fù)溫度系數(shù)[5]。BJT的VBE、集電極電流IC和飽和電流IS有以下關(guān)系:
其中,k為玻爾茲曼常數(shù),T表示熱力學(xué)溫度,q為電荷,少數(shù)載流子的遷移率,ni為硅的本征載流子濃度[6]。
兩個(gè)雙極型晶體管工作在不同的電流密度下,它們之間的基極-發(fā)射極電壓之差(ΔVBE)具有正溫度系數(shù)[7]。將以上兩個(gè)具有相反溫度系數(shù)的變量加以適當(dāng)?shù)臋?quán)重,就可以得到滿意的零溫度系數(shù)基準(zhǔn)[8]。圖1是傳統(tǒng)的帶隙基準(zhǔn)電路,這里,運(yùn)算放大器AV以VX和VY為輸入,AV輸出用于驅(qū)動(dòng)R1和R2(R1=R2)的頂端,使得X點(diǎn)和Y點(diǎn)穩(wěn)定在近似相等的電壓?;鶞?zhǔn)電壓可以在運(yùn)算放大器的輸出端得到(不是Y點(diǎn))[9]。三極管基極-發(fā)射極電壓VBE具有負(fù)溫度系數(shù)。三極管Q2和Q1發(fā)射極有效面積比例為n:1,流過(guò)兩者的飽和電流和集電極電流存在以下關(guān)系:
IS1=n·IS2 IC1=IC2(3)
三極管Q2和Q1的基極-發(fā)射極電壓之差:
ΔVBE=VBE1-VBE2=VT lnn(4)
ΔVBE作用在電阻R3上,產(chǎn)生PTAT電流,使得R1上產(chǎn)生PTAT電壓[10],此電壓和VBE相疊加,得到輸出電壓:
VT具有正溫度系數(shù),通過(guò)調(diào)節(jié)R2、R3和三極管面積比例得到零溫度系數(shù)電壓,實(shí)際電路中基準(zhǔn)電壓溫度系數(shù)是一個(gè)開(kāi)口向下的曲線。VBE具有高階的溫度分量,所以需要對(duì)VBE進(jìn)行高階補(bǔ)償。
針對(duì)傳統(tǒng)帶隙基準(zhǔn)啟動(dòng)失調(diào)電壓大、精度低的特點(diǎn),本文提出了具有低功耗高精度的電壓基準(zhǔn)。電路由兩個(gè)部分組成,分別為啟動(dòng)偏置電路、基準(zhǔn)核心電路(基準(zhǔn)電壓產(chǎn)生和補(bǔ)償結(jié)構(gòu)、基準(zhǔn)運(yùn)放),實(shí)際原理圖如圖2所示。
2 新型帶隙基準(zhǔn)電壓源設(shè)計(jì)
2.1 啟動(dòng)電路和PTAT偏置電路
為了擺脫電源上電時(shí)電路的簡(jiǎn)并偏置點(diǎn),啟動(dòng)電路是不可缺少的。本設(shè)計(jì)中啟動(dòng)電路由R2、C1、NM0、NM1、NM4組成。電路正常上電時(shí),VDD通過(guò)R2向電容C1充電,NM0的柵極電壓升高,使NM0和NM4導(dǎo)通,PM1、PM4的柵極電壓拉低,偏置電路源開(kāi)始正常工作;隨著NM2柵電壓逐漸升高,NM1導(dǎo)通,NM0和NM4柵極電壓被拉低,NM0和NM4截止,此時(shí)關(guān)閉啟動(dòng)電路。
偏置電路為整個(gè)電路提供一個(gè)與電源無(wú)關(guān)的PTAT偏置電流。如圖2,偏置電路是由PM1、PM2、PM3、PM4、NM2、NM3和R1構(gòu)成的自偏置峰值電流源。PM1~PM4的寬長(zhǎng)比相同,構(gòu)成了Cascode電流鏡,形成自偏置機(jī)制,同時(shí)增加整體電路的電源抑制比。利用NM2和NM3工作在亞閾值區(qū)域時(shí)的柵源電壓之差作用在電阻R1產(chǎn)生正溫度系數(shù)的電流。在亞閾值區(qū)域時(shí),MOS管漏電流ID為:
式中k為亞閾值斜率修正因子,VTH為MOS管閾值電壓[11]。漏源電壓VGS遠(yuǎn)大于VT,式(6)可簡(jiǎn)化為:
可以推導(dǎo)出PTAT偏置電流為:
式中m為NM3和NM2寬長(zhǎng)比之比。從式(8)可以看出,VT具有正溫度系數(shù),所得偏置電流與溫度成正比和電源電壓無(wú)關(guān)。
2.2 帶隙基準(zhǔn)核心電路
本文設(shè)計(jì)的基準(zhǔn)產(chǎn)生電路由Q1、Q2、R3~R6、PM12和PM13組成。Q2和Q1的有效發(fā)射極面積之比為n:1,電阻R4和R5的阻值相等。根據(jù)上文式(1)~(5)的推導(dǎo),可以得出基準(zhǔn)電壓Vref的表達(dá)式:
晶體管的VBE并不是與溫度呈線性關(guān)系:
式中,VBG0是帶隙電壓,約為1.12 V;T是絕對(duì)溫度;T0是參考溫度;VBE0是在溫度為T(mén)0時(shí)的發(fā)射結(jié)電壓;?濁是與工藝有關(guān)且與溫度無(wú)關(guān)的常數(shù);的值與集電極電流的溫度特性有關(guān)。調(diào)節(jié)三極管和電阻選取的大小,能很好地對(duì)式(10)中的第一項(xiàng)進(jìn)行補(bǔ)償。為了得到更低的溫度系數(shù),必須對(duì)式(10)中的第二項(xiàng)進(jìn)行補(bǔ)償。
本設(shè)計(jì)提出了一種簡(jiǎn)單且效果明顯的補(bǔ)償方式,利用NMOS管工作在亞閾值區(qū)域時(shí)漏電流和柵極電壓的指數(shù)特性,對(duì)基準(zhǔn)電壓進(jìn)行二階曲率補(bǔ)償。補(bǔ)償電路由NM8、R7、R8、PM14、PM15組成,補(bǔ)償基準(zhǔn)在高溫下的溫度特性曲線。PM14和PM15鏡像PTAT電流,作用在電阻R7上,產(chǎn)生PTAT電壓,該電壓使NM8工作在亞閾值狀態(tài),隨著溫度的增加,補(bǔ)償電流逐漸增大。由式(6)和式(7),可得:
忽略R8上的壓降,補(bǔ)償電流:
式中是PM14和PM15的鏡像比例因子。加上二階曲率補(bǔ)償電流后,式(9)可改寫(xiě)為:
運(yùn)算放大器由PM5~PM11、NM5~NM7和C2組成。本設(shè)計(jì)采用兩級(jí)運(yùn)放結(jié)構(gòu),具有較大的開(kāi)環(huán)增益。同時(shí)運(yùn)用PM11輸出跟隨器,減小輸出電阻。為了減小運(yùn)放的失調(diào)電壓,加大了PM9和PM10的寬長(zhǎng)比,并保證了一級(jí)運(yùn)放和二級(jí)運(yùn)放之間的對(duì)稱性。電容C1作為補(bǔ)償電容,得到一個(gè)低頻極點(diǎn),增加電路的穩(wěn)定性。
3 仿真結(jié)果
本文設(shè)計(jì)電路采用UMC 0.25 μm BCD工藝模型,電路中n=8,m=2。利用Hspice仿真軟件,對(duì)電路進(jìn)行了仿真。
在TT工藝角下。溫度為25 ℃時(shí),基準(zhǔn)電壓線性調(diào)整率如圖3所示。仿真結(jié)果表明,基準(zhǔn)電壓的典型值為1.203 V。供電電壓VDD在2.5 V~5.5 V范圍內(nèi),基準(zhǔn)電壓變化了53 μV,線性調(diào)整率為0.001 8%。供電電壓VDD為5 V,在-40 ℃~130 ℃的溫度范圍內(nèi),基準(zhǔn)電壓的溫度特性仿真結(jié)果如圖4所示。仿真結(jié)果表明,基準(zhǔn)電壓的平均值為1.203 V,基準(zhǔn)電壓的波動(dòng)范圍為175 μV,溫度系數(shù)為0.86×10-6/℃。
如圖5為電源電壓VDD為5 V,溫度為25 ℃,在三種工藝角下的電源抑制比(PSRR)仿真結(jié)果,在三種工藝角下低頻PSRR都小于-95 dB,具有很好的電源抑制能力。圖6為瞬態(tài)仿真下的電流功耗大小,從仿真結(jié)果可以看出,電路的靜態(tài)電流功耗為3.16 μA。
表1為本文和文獻(xiàn)[2]、[8]和[9]的性能參數(shù)比較。本文提出的結(jié)構(gòu)具有明顯優(yōu)勢(shì)。
4 結(jié)論
提出了一種基于傳統(tǒng)結(jié)構(gòu)的低功耗、高精度的帶隙基準(zhǔn)電壓源。本設(shè)計(jì)采用Cascode結(jié)構(gòu)來(lái)提高整體電路的電源抑制比。通過(guò)增加運(yùn)放輸入差分對(duì)管的尺寸,添加輸出緩沖級(jí)結(jié)構(gòu)以及保證運(yùn)放的對(duì)稱性來(lái)減小失調(diào)電壓。并運(yùn)用二階曲率補(bǔ)償來(lái)對(duì)基準(zhǔn)電壓進(jìn)行溫度補(bǔ)償。采用UMC 0.25 μm BCD 工藝,仿真結(jié)果表明,基準(zhǔn)電壓源在2.5 V~5 V的電壓范圍內(nèi)提供1.203 V的基準(zhǔn)電壓,線性調(diào)整率為0.001 8%,靜態(tài)功耗只有3.16 μA,在-40 ℃~130 ℃溫度范圍內(nèi)的溫度系數(shù)為0.86 ppm,低頻電源抑制比為-95 dB。
參考文獻(xiàn)
[1] Chen Junda,Ye Chengkai.Design of a CMOS bandgap ref-erence circuit with a wide temperature range,high precisionand low temperature coefficient[J].Journal of Circuits,Sys-tem,and Computers,2014,23(8):1450107.
[2] 朱龍飛,莫太山,葉甜春.高電源抑制比低溫漂帶隙基準(zhǔn)源設(shè)計(jì)[J].集成電路應(yīng)用,2013,39(5):35-38.
[3] Lu Shibi.A 19-ppm/℃ bandgap voltage reference source[C].Networks Security Wireless Communications and Trusted Computing,Wuhan:IEEE,2010:409-411.
[4] 楊曉春.一種采用斬波調(diào)制的高精度帶隙基準(zhǔn)源的設(shè)計(jì)[J].微電子學(xué)與計(jì)算機(jī),2013,30(1):86-89.
[5] GRAY P R.Analysis and design of analog integrated circuits[M].America:Lehigh Press,2001.
[6] Feng Chao,Wang Jinhui,Wu Wei.CMOS 1.2 V Bandgap Voltage Reference Design[C].IEEE 10th International Con-ference on ASIC,Shenzhen:IEEE,2013:1-4.
[7] RAZAVI B.模擬CMOS集成電路設(shè)計(jì)[M].陳貴燦,程軍,譯.西安:西安交通大學(xué)出版社,2002.
[8] 唐宇.一種低溫漂低功耗帶隙基準(zhǔn)的設(shè)計(jì)[J].電子元件與材料,2014,33(2):35-38.
[9] Zhang Kun.A high performance bandgap voltage referencedesign[C].Information Science and Engineering(ICISE),2010 2nd International Conference on,Hangzhou:IEEE,2010:4838-4841.
[10] 魏廷存,陳瑩梅,胡正飛.模擬CMOS集成電路設(shè)計(jì)[M].北京:清華大學(xué)出版社,2010.
[11] 林少波.高精度高電源電壓抑制比CMOS帶隙基準(zhǔn)源設(shè)計(jì)[D].西安:西安電子科技大學(xué),2012.