近日，德州儀器推出了業(yè)內(nèi)首款80V、10A集成氮化鎵 (GaN) 場(chǎng)效應(yīng)晶體管 (FET) 功率級(jí)原型機(jī)。此次原型機(jī)由位于四方扁平無引線 (QFN) 封裝內(nèi)的一個(gè)高頻驅(qū)動(dòng)器和兩個(gè)采用半橋配置的GaN FET組成，使之非常易于設(shè)計(jì)。如需了解更多信息，敬請(qǐng)?jiān)L問www.ti.com.cn/lmg5200-pr-cn。

       全新的LMG5200 GaN FET功率級(jí)原型機(jī)將有助于加快下一代GaN電源轉(zhuǎn)換解決方案的市場(chǎng)化，此方案為空間有限且高頻的工業(yè)應(yīng)用和電信應(yīng)用提供更高的功率密度和效率。

       TI高壓電源解決方案業(yè)務(wù)部副總裁Steve Lambouses表示：“過去基于GaN的電源設(shè)計(jì)面對(duì)的一大挑戰(zhàn)是與驅(qū)動(dòng)GaN FET有關(guān)的不確定性，以及由封裝方式和設(shè)計(jì)布局布線所導(dǎo)致的寄生效應(yīng)。我們將采用先進(jìn)、易于設(shè)計(jì)封裝的經(jīng)優(yōu)化集成模塊、驅(qū)動(dòng)器和高頻控制器，組成的完整、可靠電源轉(zhuǎn)換生態(tài)系統(tǒng)，從而使設(shè)計(jì)人員可以充分實(shí)現(xiàn)GaN技術(shù)在電源應(yīng)用方面的全部潛能。”

       實(shí)現(xiàn)GaN的優(yōu)勢(shì)

       通常情況下，使用GaN FET在高頻下進(jìn)行開關(guān)的設(shè)計(jì)人員必須謹(jǐn)慎對(duì)待電路板布局布線，以避免振鈴和電磁干擾 (EMI)。TI的LMG5200雙80V功率級(jí)原型機(jī)極大地簡(jiǎn)化了這個(gè)問題，同時(shí)又通過減少關(guān)鍵柵極驅(qū)動(dòng)回路中的封裝寄生電感增加了功率級(jí)效率。LMG5200的特色就在于運(yùn)用了高級(jí)多芯片封裝技術(shù)，在優(yōu)化后還能夠支持頻率高達(dá)5MHz的電源轉(zhuǎn)換拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)。

       易于使用的6mmx8mm QFN 封裝無需底部填充，從而大大簡(jiǎn)化了生產(chǎn)制造過程。封裝尺寸的減少進(jìn)一步提升了GaN技術(shù)的應(yīng)用價(jià)值，并且有助于擴(kuò)充GaN電源設(shè)計(jì)的用途，包括從高頻無線充電應(yīng)用到48V電信和工業(yè)設(shè)計(jì)的許多全新應(yīng)用。如需了解與TI完整GaN解決方案相關(guān)的更多信息，敬請(qǐng)?jiān)L問http://www.ti.com.cn/lsds/ti_zh/power-management/gate-driver-products.page。

LMG5200的關(guān)鍵特性和優(yōu)勢(shì)：

       · 最高功率密度。相對(duì)基于硅工藝的設(shè)計(jì)，首款集成80V半橋GaN功率級(jí)將功率損耗減少了25%，從而實(shí)現(xiàn)了單級(jí)轉(zhuǎn)換。

       · 增加可靠性的綜合GaN專用質(zhì)量保證計(jì)劃。如需了解更多內(nèi)容，敬請(qǐng)單擊此處。

       · 關(guān)鍵柵極驅(qū)動(dòng)回路中的最低封裝寄生電感增加了功率級(jí)效率，并在減少EMI的同時(shí)提高dV/dt抗擾度。

       · 簡(jiǎn)化的布局布線和可制造性。易于使用的QFN封裝免除了對(duì)于底部填充的需要，以解決高壓間隔方面的顧慮，從而提高了電路板的可制造性并降低了成本。

       工具和軟件

       除了訂購(gòu)已上市的LMG5200評(píng)估模塊 (EVM)，設(shè)計(jì)人員使用針對(duì)LMG5200的PSpice和TINA-TI模塊來仿真這項(xiàng)技術(shù)的性能和開關(guān)頻率優(yōu)勢(shì)，以便更快地開始設(shè)計(jì)工作。

       供貨情況

　　   目前可在TIStore中購(gòu)買GaN功率級(jí)的原型機(jī)樣片。

　　   其他資源：

       · 查看TI GaN解決方案的綜合產(chǎn)品組合。

       · 下載以下白皮書：

       GaN模塊性能優(yōu)勢(shì)與硅工藝的對(duì)比。

       限定GaN產(chǎn)品可靠性的綜合方法。

       用GaN的發(fā)展前景推進(jìn)電源解決方案不斷進(jìn)步。

       · 加入德州儀器在線支持社區(qū)，尋找解決方案，獲得幫助，并與同行工程師和TI專家分享知識(shí)和解決難題。