是德科技公司（NYSE：KEYS）日前宣布，其最新型場發(fā)射掃描電子顯微鏡（FE-SEM）――8500B 即將上市。Keysight 8500B 是一款技術(shù)領(lǐng)先的緊湊型低電壓 FE-SEM（場發(fā)射掃描電子顯微鏡），可以為科學(xué)家提供強(qiáng)大的能譜分析功能。

這款場即插即用型發(fā)射掃描電子顯微鏡的安裝方式非常簡單，只需連接交流電源插座即可使用，是各類實驗室的理想選擇。緊湊型 8500B 的圖像分辨率可與更大型、更高檔的 FE-SEM 相媲美。

最新 8500B 系統(tǒng)具有完全集成的硅漂移 x 射線探測器、數(shù)字多通道分析儀和直觀的軟件界面，因此研究人員可以使用EDS對任意點、連續(xù)線掃描結(jié)果以及自定義區(qū)域的定量元素面分布進(jìn)行分析。Keysight 8500B 可以探測從碳到镅的所有元素。

8500B 不僅能夠?qū)崟r分析和顯示 EDS 結(jié)果，還能導(dǎo)出數(shù)據(jù)以供研究人員進(jìn)行后續(xù)的離線分析。是德科技專利的事件流譜圖成像技術(shù)使用戶可以保存每個像素的完整譜線，用于日后的分析和顯示。動態(tài)元素面分布功能使用戶可以實時選擇或編輯元素，并可在譜圖采集的同時對元素和處理參數(shù)進(jìn)行選擇和調(diào)整。

8500B 提供多種低電壓成像技術(shù)，不僅能夠增強(qiáng)表面對比度，還能觀察各種納米結(jié)構(gòu)材料的納米級特性，例如：聚合物、薄膜、生物材料以及在任何基底（甚至是玻璃）上的其他對電子束輻照比較敏感的樣品。這種獨特的緊湊型全靜電場透鏡和電子鏡筒設(shè)計使其一致性和可重復(fù)性得到了更好的保證，因此用戶無須再經(jīng)常對電子鏡筒進(jìn)行調(diào)整。 

此外，Keysight 8500B FE-SEM 為低電壓工作提供了優(yōu)化的連續(xù)可調(diào)整加速電壓，這使得不導(dǎo)電樣品表面鍍金的需求得到最大程度的減少。由軟件自動程控的X/Y/Z 樣品臺使樣品導(dǎo)航變得更為方便簡單。

Keysight 8500B 的圖片請參見 www.keysight.com/find/8500_images。其他 FE-SEM 研究圖片請參見 www.keysight.com/find/fe-sem。

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