《電子技術(shù)應(yīng)用》
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一種基于多核嵌入式系統(tǒng)的TD-LTE同步校正方法
來源:電子技術(shù)應(yīng)用2014年第4期
郭麗強(qiáng), 陳發(fā)堂
(重慶郵電大學(xué) 重慶市移動(dòng)通信技術(shù)重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室,重慶400065)
摘要: 針對(duì)TD-LTE系統(tǒng)中同步性錯(cuò)誤隨機(jī)發(fā)生的問題, 提出了一種通過ARM+DSP+FPGA平臺(tái)的嵌入式系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)幀號(hào)和原語的同步校正方法。該方法基于TD-LTE射頻一致性測(cè)試儀表硬件平臺(tái),通過該嵌入式系統(tǒng)中ARM、DSP、FPGA間的協(xié)調(diào)工作,由GPMC模塊通過幀號(hào)和原語兩方面對(duì)系統(tǒng)同步性進(jìn)行校正。在TD-LTE射頻一致性測(cè)試儀表硬件平臺(tái)中進(jìn)行了驗(yàn)證,結(jié)果表明,該方法在實(shí)現(xiàn)幀號(hào)與子幀號(hào)同步校正的基礎(chǔ)上明顯提高了TD-LTE系統(tǒng)通信的穩(wěn)定性。
中圖分類號(hào): TN929.5
文獻(xiàn)標(biāo)識(shí)碼: A
文章編號(hào): 0258-7998(2014)04-0070-03
Approach of synchronization correction in TD-LTE based on multicore embedded system
Guo Liqiang, Chen Fatang
Chongqing Key Lab of Mobile Communications, Chongqing University of Posts and Telecommunications, Chongqing 400065, China
Abstract: For the problem that synchronization errors occur randomly in the TD-LTE system, an approach based on the ARM + DSP+FPGA embedded systems to achieve frame number and primitive synchronization is proposed. This method is based on TD-LTE RF Conformance Test System hardware platform, where the CPU of ARM, DSP, and FPGA work coordinately to do the synchronization correction from two aspects including frame number and primitive by GPMC. The method integrates aspects of TD-LTE system characteristics, and it has been tested in the hardware platform. The result shows this method achieves the synchronization correction of frame number and primitive as well as improves the stability of communication in TD-LTE.
Key words : LTE; embedded; ARM+DSP+FPGA; synchronization; correction

    LTE技術(shù)憑借OFDM[1]和MIMO[2]等諸多先進(jìn)技術(shù)在無線通信中取得領(lǐng)先優(yōu)勢(shì)。在LTE發(fā)展中,TD-LTE在繼承了LTE先進(jìn)技術(shù)的基礎(chǔ)上實(shí)現(xiàn)了數(shù)據(jù)的高速傳輸和系統(tǒng)吞吐量的提高等,其在減少系統(tǒng)時(shí)延的前提下使上行速率達(dá)到了50 Mb/s。但是與先進(jìn)國家相比,國內(nèi)的TD-LTE還處于未成熟的起步階段[3],很大一部分原因是在國內(nèi)還沒有一套針對(duì)TD-LTE終端和網(wǎng)絡(luò)端射頻一致性的硬件測(cè)試平臺(tái)。
    TD-LTE系統(tǒng)對(duì)通信同步性要求非常嚴(yán)格,一旦同步性問題發(fā)生,整個(gè)系統(tǒng)就會(huì)崩潰。所以同步性問題是TD-LTE發(fā)展的關(guān)鍵。關(guān)于同步性問題的解決方法的文獻(xiàn)有很多,但大多都僅限于自相關(guān)同步法[4]、互相關(guān)同步法[5]和混合同步法[6]等算法解決方案,本文就不再詳述,轉(zhuǎn)而根據(jù)嵌入式系統(tǒng)實(shí)時(shí)性高和控制能力強(qiáng)等優(yōu)點(diǎn),提出了通過ARM、DSP、FPGA等處理器協(xié)調(diào)工作由ARM處理器的GPMC[7]實(shí)現(xiàn)TD-LTE系統(tǒng)實(shí)時(shí)性校正的方法。該方法復(fù)雜度很低,穩(wěn)定性很高,非常適合在基于ARM、DSP、FPGA多核架構(gòu)的系統(tǒng)中應(yīng)用,對(duì)該方法進(jìn)行仿真和分析并在TD-LTE射頻儀表硬件平臺(tái)中反復(fù)進(jìn)行測(cè)試,實(shí)驗(yàn)結(jié)果驗(yàn)證了該方法的有效性。
1 TD-LTE射頻一致性測(cè)試儀表系統(tǒng)簡介
    TD-LTE射頻一致性測(cè)試儀表主要是針對(duì)LTE終端和網(wǎng)絡(luò)端的射頻測(cè)試方法,通過硬件方面的射頻開關(guān)設(shè)備和軟件方面的完整測(cè)試軟件實(shí)現(xiàn)TD-LTE和TD-SCDMA互操作條件下的射頻測(cè)試功能。TD-LTE射頻一致性測(cè)試儀表硬件平臺(tái)整體架構(gòu)如圖1所示。

    圖中ARM+DSP雙核架構(gòu)中ARM芯片具有豐富的應(yīng)用模塊與接口,功能上負(fù)責(zé)為射頻一致性測(cè)試儀表搭建硬件平臺(tái)以及實(shí)現(xiàn)MAC[8]層之上的協(xié)議棧各層任務(wù),與DSP芯片進(jìn)行數(shù)據(jù)交互的方式為雙端口RAM(簡稱DP-RAM)。各射頻測(cè)試功能模塊與FPGA芯片相連。文中所介紹的實(shí)現(xiàn)幀號(hào)與子幀號(hào)同步校正的模塊GPMC正是基于圖中的ARM+DSP芯片。在ARM+DSP異構(gòu)雙核系統(tǒng)[9]中ARM 核為主處理器,DSP核為輔處理器,主處理器負(fù)責(zé)輔處理器的電源域控制、復(fù)位控制以及入口點(diǎn)的設(shè)置等。處理器間通過郵箱中斷或硬件自旋鎖實(shí)現(xiàn)通信。
    GPMC是基于雙核處理器芯片的可控制多種存儲(chǔ)設(shè)備的通用存儲(chǔ)控制器,對(duì)于存儲(chǔ)設(shè)備,GPMC通過靈活的可編程模式特點(diǎn)配置產(chǎn)生相應(yīng)的控制時(shí)序,不但為TD-LTE射頻一致性測(cè)試儀表系統(tǒng)的存儲(chǔ)設(shè)備提供較多的類型選擇而且是實(shí)現(xiàn)TD-LTE幀號(hào)與子幀號(hào)等同步校正的硬件基礎(chǔ)。
    GPMC模塊在結(jié)構(gòu)上包括6部分: 互聯(lián)總線接口、 地址譯碼器、GPMC編譯器、片選配置器、 訪問引擎、緩存、錯(cuò)誤校正引擎及外部設(shè)備接口。對(duì)于整個(gè)硬件平臺(tái),GPMC模塊提供總大小為512 MB的連續(xù)地址空間,但是ARM處理器和DSP處理器由于采用不同的MMU對(duì)內(nèi)存地址進(jìn)行相應(yīng)的映射,相對(duì)于兩處理器的地址范圍可能不同。此512 MB地址空間可被分為8個(gè)獨(dú)立的片選,每個(gè)片選有獨(dú)立的起始地址與片選大小,但是每個(gè)片選大小必須大于16 MB且小于256 MB。
    在TD-LTE射頻一致性測(cè)試儀表系統(tǒng)中,幀號(hào)與子幀號(hào)的同步性會(huì)隨機(jī)地發(fā)生錯(cuò)誤,造成系統(tǒng)參數(shù)異步以至系統(tǒng)崩潰,極大地影響了TD-LTE通信系統(tǒng)的穩(wěn)定性,所以本論文通過嵌入式系統(tǒng)獨(dú)立地對(duì)TD-LTE的通信同步性進(jìn)行校正。在測(cè)試儀表系統(tǒng)中,由于GPMC片選0已被選作NAND Flash作為啟動(dòng)代碼和應(yīng)用程序存儲(chǔ)設(shè)備,所以選擇片選1作為DP-RAM。
2 原語與幀同步
    LTE項(xiàng)目是第三代移動(dòng)通信技術(shù)的演進(jìn),繼承并增強(qiáng)了第三代移動(dòng)通信的空中接入技術(shù)。LTE具備兩種雙工模式:時(shí)分雙工TDD(Time Division Duplexing)和頻分雙工。但是由于時(shí)分雙工具有諸如更好地利用頻分雙工無法利用到的零碎的頻段,提高了頻譜利用率。TDD用時(shí)間來分離接收和發(fā)送信道。TDD的幀結(jié)構(gòu)如圖2所示,由圖可知TDD幀結(jié)構(gòu)的一個(gè)無線幀分為兩個(gè)長度為5 ms的半幀,每個(gè)半幀由5個(gè)長度為1 ms的子幀組成,包括4個(gè)普通子幀和1個(gè)特殊子幀。普通子幀由兩個(gè)0.5 ms時(shí)隙構(gòu)成,特殊子幀由3個(gè)特殊時(shí)隙UpPTS、GP和DwPTS組成:GP是TDD上下行轉(zhuǎn)換的保護(hù)間隔,UpPTS用于上行信號(hào)的發(fā)送,DwPTS用于下行信號(hào)的發(fā)送。

    TDD模式有一個(gè)劣勢(shì)就是對(duì)于通信時(shí)間的要求方面非常嚴(yán)格,但通過引入嵌入式實(shí)時(shí)系統(tǒng)能很好地解決此問題。由于該測(cè)試儀的實(shí)現(xiàn)是基于LTE的TDD模式,協(xié)議標(biāo)準(zhǔn)的各個(gè)層都需要基于LTE的幀號(hào)和子幀號(hào)來開展工作,所以協(xié)議棧須與其他層保持實(shí)時(shí)同步,即同時(shí)處于同一個(gè)幀的同一個(gè)子幀上。
 在TD-LTE射頻一致性測(cè)試儀表系統(tǒng)幀號(hào)與子幀號(hào)的同步校正中,采用嵌入式系統(tǒng)處理方式。在傳統(tǒng)模式中,由FPGA芯片每1 ms通過GPIO提供一個(gè)脈沖給ARM和DSP芯片,ARM和DSP處理器接收到此脈沖后便產(chǎn)生一個(gè)IRQ中斷,ARM處理器通過此中斷對(duì)子幀號(hào)和幀號(hào)進(jìn)行計(jì)數(shù)統(tǒng)計(jì),每次統(tǒng)計(jì)后向各自處理器代碼執(zhí)行區(qū)(DDR2)寫入更新后的幀號(hào)與子幀號(hào)以供物理層和協(xié)議棧讀取,但由于ARM和DSP處理器間的中斷處理機(jī)制不同以及不可避免的硬件原因等,兩者之間的幀和子幀會(huì)隨機(jī)地出現(xiàn)不同的情況,造成系統(tǒng)的非同步性錯(cuò)誤,雖然概率不大,但一旦發(fā)生就會(huì)造成整個(gè)系統(tǒng)癱瘓。對(duì)此,通過異構(gòu)多核嵌入式系統(tǒng)由共享存儲(chǔ)區(qū)實(shí)現(xiàn)同步校正。
    原語交互時(shí)需要確保配送的原語能完好無損地傳送給接收方,故本次配送的原語不能被下次配送的原語破壞。為了方便原語解析,在原語交互時(shí)應(yīng)該對(duì)原語的類型進(jìn)行分類,即將數(shù)據(jù)原語與控制原語分開發(fā)送。所以在射頻一致性測(cè)試儀表測(cè)試系統(tǒng)中把用于共享存儲(chǔ)區(qū)的DP-RAM分為8個(gè)區(qū),其中讀寫各4個(gè)區(qū),讀寫4個(gè)區(qū)中有兩個(gè)分區(qū)分別為數(shù)據(jù)原語和控制原語區(qū),在數(shù)據(jù)原語或控制原語的兩個(gè)區(qū)之間通過乒乓機(jī)制實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)高效率讀寫。在實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)和控制原語分開處理的功能時(shí),通過設(shè)置相應(yīng)功能的標(biāo)志位來實(shí)現(xiàn), 例如read_style_flag1和sread_tyle_flag2分別為讀原語數(shù)據(jù)時(shí)的數(shù)據(jù)原語區(qū)和控制原語區(qū)標(biāo)志位,read_flag5和write_flag6分別為原語數(shù)據(jù)的讀和寫標(biāo)志位,在實(shí)現(xiàn)乒乓機(jī)制時(shí)通過設(shè)置E_flag7與O_flag8實(shí)現(xiàn)對(duì)兩個(gè)相同性質(zhì)的RAM區(qū)讀寫數(shù)據(jù),這兩個(gè)標(biāo)志位分別決定即將讀寫的DP-RAM乒乓塊,其中E_flag7為偶次讀寫標(biāo)志位。
    根據(jù)以上機(jī)制在處理協(xié)議棧到物理層之間的原語發(fā)送或接受時(shí)的具體過程如下:首先發(fā)送端若是發(fā)送數(shù)據(jù)原語,先把write_style_flag6與write_style_flag4置位以通知接收方所發(fā)原語為數(shù)據(jù)原語類型,當(dāng)發(fā)送原語為偶數(shù)次時(shí)把o_flag7置位,奇數(shù)次時(shí)把j_flag8置位,以決定乒乓機(jī)制中對(duì)RAM塊的讀寫選擇,在發(fā)送原語數(shù)據(jù)結(jié)束后通過向DP-RAM特定的地址寫數(shù)據(jù)觸發(fā)中斷,接收方響應(yīng)中斷,此時(shí),先判斷flag3和flag4以判斷發(fā)送方所發(fā)生的原語類型,判斷原語類型后根據(jù)乒乓機(jī)制便可從相應(yīng)的RAM塊中讀取原語后再清除中斷,至此發(fā)送端到接收端的原語交互結(jié)束。
    測(cè)試儀之前幀號(hào)與子幀號(hào)是通過FPGA芯片分別給ARM處理器和DSP發(fā)送子幀中斷。ARM端與DSP端中斷處理函數(shù)中對(duì)幀號(hào)和子幀號(hào)進(jìn)行統(tǒng)計(jì)計(jì)數(shù),統(tǒng)計(jì)后的數(shù)據(jù)寫往各自對(duì)應(yīng)的DDR2代碼區(qū)由物理層或協(xié)議棧讀取。針對(duì)由各種原因引起的協(xié)議棧與物理層之間非同步性造成的問題,結(jié)合TD-LTE射頻一致性測(cè)試儀表硬件平臺(tái)特點(diǎn),采用由FPGA給ARM處理器和DSP處理器分別發(fā)送子幀中斷以對(duì)幀號(hào)和子幀號(hào)統(tǒng)計(jì)計(jì)數(shù),然后由ARM處理器對(duì)幀號(hào)和子幀號(hào)進(jìn)行校正的方案。該方案中DSP端在與協(xié)議棧協(xié)商后把其統(tǒng)計(jì)的幀信息寫入到DP-RAM,由于在所有的幀中,子幀號(hào)1是沒有分配特殊任務(wù)的,所以每一個(gè)幀的第1號(hào)子幀系統(tǒng)都由ARM處理器通過GPMC控制的DP-RAM讀取之前DSP統(tǒng)計(jì)的幀信息以校正幀號(hào)和子幀號(hào),所以在協(xié)議棧校正幀號(hào)與子幀號(hào)前DSP處理器必須把物理層的幀信息寫入DP-RA。其整體過程如圖3所示。

 

 

3 測(cè)試結(jié)果及分析
    由于協(xié)議棧與物理層兩端幀信息是由其對(duì)應(yīng)的ARM和DSP處理器所得,所以其同步信息可由ARM與DSP兩端的子幀中斷處理波形圖(如圖4)所驗(yàn)證。
    圖中通道0兩個(gè)脈沖的間隔為1 ms,與FPGA發(fā)送子幀脈沖的時(shí)間是一致的,波形表示DSP端接收到的FPGA發(fā)送的子幀脈沖后產(chǎn)生子幀中斷,每次產(chǎn)生中斷后電平拉高后馬上拉低,在中斷中對(duì)子幀號(hào)和幀號(hào)進(jìn)行統(tǒng)計(jì)計(jì)數(shù)。通道1波形圖中有脈沖和矩形波,脈沖是ARM端接收到FPGA發(fā)送的子幀脈沖后產(chǎn)生子幀中斷(同理DSP端)所致,矩形波為協(xié)議棧在所對(duì)應(yīng)的子幀中處理信息所致。由圖可知,通道0和通道1的脈沖是上下一致的,則DSP和ARM端子幀號(hào)與幀號(hào)的子幀中斷處理是同步的,所以幀號(hào)與子幀號(hào)同步。

    本文根據(jù)TD-LTE系統(tǒng)的需求和射頻一致性測(cè)試儀表硬件平臺(tái)特點(diǎn),通過基于ARM+FPGA+DSP的嵌入式系統(tǒng)解決了原語數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)交互和幀號(hào)、子幀號(hào)同步性問題,在TD-LTE系統(tǒng)中物理層與協(xié)議棧間的同步性解決方案中有較大參考價(jià)值。以上設(shè)計(jì)過程均已實(shí)現(xiàn)為程序代碼并在Code Composer Studio 5.2中經(jīng)過編譯調(diào)試和測(cè)試板驗(yàn)證,所得結(jié)果均與理論值一致。本方法在較大地提高了TD-LTE系統(tǒng)通信的穩(wěn)定性前提下滿足了 TD-LTE射頻一致性測(cè)試儀表的系統(tǒng)需求并應(yīng)用在其中。
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