中國北京，2014年4月25日– 全球示波器市場的領(lǐng)導(dǎo)廠商---泰克公司日前宣布，對其MSO/DPO70000系列數(shù)字及混合信號示波器上的分析系統(tǒng)功能進行擴展，增加了包括使用IBIS-AMI模型和S參數(shù)對片上硅行為進行建模等功能。其顯著加強了測量和仿真之間的關(guān)聯(lián)，有助于更準確地鑒定片上硅行為及性能特征，滿足當(dāng)今移動、企業(yè)及數(shù)據(jù)通信標準的要求。

隨著串行數(shù)據(jù)速率的增加，大多數(shù)下一代串行技術(shù)都要求在遠端（此時眼圖完全閉合）進行測量。在測量之前必須進行均衡，以便使眼圖張開。到目前為止，一致性測試中一直使用基于數(shù)學(xué)模型的參考均衡器，但這些均衡器欠缺與仿真器的關(guān)聯(lián)且無法表現(xiàn)復(fù)雜的實際硅行為。相比之下，IBIS-AMI模型是使用實際接收器硅的架構(gòu)而設(shè)計的。

“準確的系統(tǒng)特征鑒定需要對片上行為的可視性”，泰克公司高性能示波器總經(jīng)理Brian Reich表示，“直到最近，實時示波器尚不具備這一條件，無法滿足最新高速串行數(shù)據(jù)規(guī)范——如SuperSpeed USB或PCI Express 3.0——的要求。IBIS-AMI模型的引入使硅芯片供應(yīng)商能夠模擬芯片行為，而且這些模型現(xiàn)在能夠在泰克示波器上使用，代替準確性較低的參考均衡模型。”

對IBIS-AMI的支持是Serial Data Link Analysis Visualizer（SDLA Visualizer）軟件包的一部分，該軟件包為在硅驗證、系統(tǒng)驗證、背板特征鑒定和嵌入式系統(tǒng)性能測試中去嵌電纜、夾具及探頭效應(yīng)提供了完整的解決方案。SDLA Visualizer還支持通過模擬發(fā)射器均衡和S參數(shù)按比例縮放進行通道分析，使設(shè)計工程師無需使用物理通道模型就能預(yù)測系統(tǒng)性能。

使用IBIS-AMI模型的一個顯著優(yōu)勢是與仿真結(jié)果的關(guān)聯(lián)性和對由此產(chǎn)生的測量與系統(tǒng)行為相匹配的確信。“由于仿真常常是在可以獲得硅或物理電路板之前進行的，所以仿真與示波器測量之間的關(guān)聯(lián)一直是我們客戶面臨的挑戰(zhàn)”，LSI公司集成電路模擬驗證工程師Brian Burdick表示，“有了IBIS-AMI支持，示波器現(xiàn)在能做的遠不止簡單的波形采集，還能提供硅行為的更佳表現(xiàn)，從而帶來顯著的時間和成本節(jié)省。”

網(wǎng)絡(luò)研討會：利用EDA和測量解決方案克服下一代設(shè)計挑戰(zhàn)

泰克公司和鏗騰電子科技公司（Cadence Design Systems, Inc.）將于2014年5月8日星期四太平洋標準時間上午10:00聯(lián)合舉辦一場題為“利用EDA和測量解決方案克服下一代設(shè)計挑戰(zhàn)”的網(wǎng)絡(luò)研討會。討論重點是從仿真環(huán)境轉(zhuǎn)向?qū)嶒炇液蛷膶嶒炇肄D(zhuǎn)向仿真環(huán)境的方法論。演講者將通過一個從第三代PCIe轉(zhuǎn)向第四代PCIe的例子，來幫助與會者回答當(dāng)速度加倍時8 Gbps硬件如何工作的問題。這個新方法論將幫助工程師快速獲得他們需要的答案。如欲報名請訪問http://info.tek.com/sdlawebinar.html。

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關(guān)于泰克公司

60多年以來，工程師們不斷向泰克尋求測試，測量和監(jiān)測解決方案以應(yīng)對設(shè)計挑戰(zhàn)，提高生產(chǎn)效率，大幅縮短產(chǎn)品上市時間。泰克公司是一家領(lǐng)先的測試儀器提供商，為專注于電子設(shè)計、制造及先進技術(shù)開發(fā)的工程師提供支持。泰克公司的總部設(shè)在美國俄勒岡州畢佛頓，為全球范圍內(nèi)的客戶提供備受贊譽的服務(wù)和支持。獲得前沿技術(shù)，請登陸www.tektronix.com.cn。