《電子技術(shù)應(yīng)用》
您所在的位置:首頁 > 模擬設(shè)計(jì) > 設(shè)計(jì)應(yīng)用 > 運(yùn)放參數(shù)的詳細(xì)解釋和分析3—輸入失調(diào)電壓Vos及溫漂
運(yùn)放參數(shù)的詳細(xì)解釋和分析3—輸入失調(diào)電壓Vos及溫漂
摘要: 在運(yùn)放的應(yīng)用中,不可避免的會碰到運(yùn)放的輸入失調(diào)電壓Vos問題,尤其對直流信號進(jìn)行放大時(shí),由于輸入失調(diào)電壓Vos的存在,放大電路的輸出端總會疊加我們不期望的誤差。
關(guān)鍵詞: 放大器 電壓 信號 電路
Abstract:
Key words :

   在運(yùn)放的應(yīng)用中,不可避免的會碰到運(yùn)放的輸入失調(diào)電壓Vos問題,尤其對直流信號進(jìn)行放大時(shí),由于輸入失調(diào)電壓Vos的存在,放大電路的輸出端總會疊加我們不期望的誤差。舉個(gè)簡單,老套,而經(jīng)典的例子,由于輸入失調(diào)電壓的存在,會讓我們的電子秤在沒經(jīng)調(diào)校時(shí),還沒放東西,就會有重量顯示。我們總不希望,買到的重量與實(shí)際重有差異吧,買蘋果差點(diǎn)還沒什么,要是買白金戒指時(shí),差一克可是不少的money哦。下面介紹一下運(yùn)放的失調(diào)電壓,以及它的計(jì)算。最后再介紹一些TI的低輸入失調(diào)電壓運(yùn)放。不足之處,多多拍磚。

       理想情況下,當(dāng)運(yùn)放兩個(gè)輸入端的輸入電壓相同時(shí),運(yùn)放的輸出電壓應(yīng)為0V,但實(shí)際情況確是,即使兩輸入端的電壓相同,放大電路也會有一個(gè)小的電壓輸出。如下圖,這就是由運(yùn)放的輸入失調(diào)電壓引起的。


        當(dāng)然嚴(yán)格的定義應(yīng)為,為了使運(yùn)放的輸出電壓等于0,必需在運(yùn)放兩個(gè)輸入端加一個(gè)小的電壓。這個(gè)需要加的小電壓即為輸入失調(diào)電壓Vos。注意,是為了使出電壓為0,而加的輸入電壓,而不是輸入相同時(shí),輸出失調(diào)電壓除以增益(微小區(qū)別)。

         運(yùn)放的輸入失調(diào)電壓來源于運(yùn)放差分輸入級兩個(gè)管子的不匹配。如下圖。受工藝水平的限制,這個(gè)不匹配是不可避免的。差分輸入級的不匹配是個(gè)壞孩子,它還會引起很多其他的問題,以后介紹。

 

        曾經(jīng)請教過資深的運(yùn)放設(shè)計(jì)工程師,據(jù)他講,兩個(gè)管子的匹配度在一定范圍內(nèi)是與管子的面積的平方根成正比,也就是說匹配度提高為原來的兩倍。面積要增加四倍,當(dāng)?shù)竭_(dá)一個(gè)水平時(shí),即使再增加面積也不會提高匹配度了。提高面積是要增加IC的成本的哦。所在有一個(gè)常被使用的辦法,就是在運(yùn)放生產(chǎn)出來后,進(jìn)行測試,然后再Trim(可以理解為調(diào)校了)。這樣就能使運(yùn)放的精度大在提高。當(dāng)然,測試和Trim都是需要成本的哦。所以精密運(yùn)放的價(jià)格都比較貴。這段只當(dāng)閑聊,呵呵。

        我們關(guān)注輸入失調(diào)電壓,是因?yàn)樗麜o放大電路帶來誤差。下面就要分析它帶來的誤差。在計(jì)算之前,我們再認(rèn)識一個(gè)讓我們不太爽的參數(shù),失調(diào)電壓的溫漂,也就是說,上面提到的輸入失調(diào)電壓會隨著溫度的變化而變化。而我們的實(shí)際電路的應(yīng)用環(huán)境溫度總是變化的,這又給我們帶來了棘手的問題。下表就是在OPA376 datasheet上截取下來的參數(shù)。它溫漂最大值為1uV/℃(-40℃to 85℃)。一大批運(yùn)放的Vos是符合正態(tài)分布的,因此datasheet一般還會給出offset分布的直方圖。

 

       當(dāng)溫度變化時(shí),輸入失調(diào)電壓溫漂的定義為:

 

     剛忘記了另一個(gè)重要的參數(shù),就是運(yùn)放輸入失調(diào)電壓的長期漂移,一般會給出類似uV/1000hours或uV/moth等。有些datasheet會給出這一參數(shù)。

     下面舉例計(jì)算一下OPA376,在85℃時(shí)的最大失調(diào)電壓,主要是兩部分,一部分是25度時(shí)的輸入失調(diào)電壓,另一部分是溫度變化引起的失調(diào)電壓漂移。

具體步聚如下圖。從結(jié)果來看似1uV/℃溫漂,在乘上溫度變化時(shí),就成為了誤差的主導(dǎo)。因此,如果設(shè)計(jì)的電路在寬的溫度范圍下應(yīng)用,需在特別關(guān)注溫漂。

 

Vos(85℃)= 25uV+60uV=85uV.

如果放大電路的Gain改為100,則最大輸出失調(diào)電壓就為8.5mV。這是最差的情況。

        關(guān)于輸入失調(diào)電壓的測試在"運(yùn)放參數(shù)的詳細(xì)解釋和分析-part2,如何測量輸入偏置電流Ib,失調(diào)電流Ios"中有介紹,感興趣的話,可以去看看。還有簡單的測試方法,如下圖:

Vos = Vout/1001

        需要提醒的是,使用簡易方法測試單電源運(yùn)放的輸入失調(diào)電壓時(shí),需要將輸入端短路并提供一個(gè)低噪聲的穩(wěn)定電壓偏置。如下圖。


        TI的運(yùn)放水平在全球一直處于領(lǐng)選地位,下面列一些TI的低溫漂運(yùn)放,它們的最大漂移只有0.05uV/℃。輸入失調(diào)電壓Vio最大值只有5uV。

此內(nèi)容為AET網(wǎng)站原創(chuàng),未經(jīng)授權(quán)禁止轉(zhuǎn)載。