文獻(xiàn)標(biāo)識碼: A
文章編號: 0258-7998(2012)09-0100-03
瞬時測向技術(shù)是電子戰(zhàn)的關(guān)鍵技術(shù)之一,其作用是快速測定敵方雷達(dá)的方位,引導(dǎo)干擾天線波束隨時對準(zhǔn)敵方雷達(dá),以達(dá)到高效壓制干擾的目的。瞬時測向系統(tǒng)的難點(diǎn)在于對各種原因?qū)е碌南辔徽`差、角度誤差進(jìn)行校正,保證在寬頻帶范圍具有良好的測向視角和精度。本文介紹的二維瞬時測向系統(tǒng)由兩個完全相同的三基線干涉儀測向通道組成,能快速測量X波段雷達(dá)的水平和垂直方位,在8 GHz~12 GHz范圍內(nèi)均能達(dá)到±60°的視角和±1°的精度。同時系統(tǒng)對天線尺寸、安裝的要求比較低,能滿足機(jī)載、彈載的要求。
1 系統(tǒng)設(shè)計
1.1 系統(tǒng)構(gòu)成
該瞬時測向系統(tǒng)采用三基線干涉儀測向原理[1], 在水平、垂直方向各放置4個平面螺旋天線,通過比較水平、垂直方向測向通道輸出的同一脈沖信號的相位差來計算目標(biāo)雷達(dá)的二維方位。每個測向通道包括有天線陣列、X波段放大器、鑒相器、視頻放大器、編碼電路等單元。系統(tǒng)的電路框圖如圖1所示。
由上式可知,測向誤差由相位誤差、頻率測量誤差、基線長度誤差等部分組成,而后兩項(xiàng)因素引起的測向誤差與第一項(xiàng)相比要小得多,可忽略不計。
因?yàn)榭赏ㄟ^硬件、軟件方法對相位誤差進(jìn)行校正,且測向誤差的指標(biāo)是工作空域和工作頻率范圍的均方統(tǒng)計值,所以測向精度可以滿足指標(biāo)要求。
1.3 接收靈敏度計算
對寬帶干涉儀測向而言,因前端有高增益限幅放大器,故靈敏度不受增益限制,而是受噪聲限制。由測向精度分析可見,當(dāng)輸入雷達(dá)信號的信噪比不低于20 dB時,由噪聲引起的干涉儀測向誤差將大大降低,其受噪聲限制的測向靈敏度為:
Prmin=KTF(2Br Bv)1/2D (4)
式(4)中,Br為射頻帶寬,取為4 000 MHz;Bv為視頻帶寬,取為10 MHz; F為測向前端的噪聲系數(shù), 取為4 dB;D為信噪比, 取為20 dB。由此可計算出最高接收靈敏度為-65.5 dBm。
2 組件設(shè)計
2.1 天線陣列
天線陣列選為線性陣,要求單元天線的相位一致性好,具有較寬的波束寬度,適合不同極化方式的目標(biāo)偵收、體積小,重量輕等。平面螺旋天線是干涉儀測向天線陣列中最普遍使用的單元天線,具有較寬的射頻帶寬、恒定的波束寬度和圓極化性能等優(yōu)點(diǎn),而且其相位中心在螺旋面上,因而具有優(yōu)良的相位特性,天線的相位一致性好。其缺點(diǎn)是天線增益較低,但因測向接收機(jī)中具有高增益低噪聲限幅放大器,可以彌補(bǔ)天線增益的不足,滿足靈敏度的要求,故平面螺旋天線仍為干涉儀測向天線陣中單元天線的最佳選擇。平面螺旋天線的主要技術(shù)指標(biāo)為:X波段,增益大于0 dB,波束寬度±60°,相位一致性優(yōu)于±10°,天線口面Φ為13 mm。
天線陣列由二維共8個平面螺旋天線組成,兩組天線以相互垂直的方式安裝,可以對前方±60°圓錐范圍內(nèi)的到達(dá)射頻信號進(jìn)行快速測向。每個方向的天線陣列采用二次諧波關(guān)系的間隔布置單元天線[3],l1=1.443 cm,l2=2l1=2.886 cm,l3=4l1=5.772 cm,如圖2所示。
2.2 測向前端
測向前端有兩套,分別用于水平方向和垂直方向。測向前端由一個四通道X波段放大器、一個四功分器和3個鑒相器組成?;鶞?zhǔn)信號經(jīng)基準(zhǔn)天線和限幅放大后功分3路,分別與其他3路天線過來的放大信號進(jìn)行鑒相,輸出3路正交的相差信號。為保證各接收通道的延遲和相位嚴(yán)格一致,各功能組件之間采用盡量等長電纜連接,最后借助矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀通過調(diào)整連接到天線的4根電纜長度來精確修正各通道相位。測試結(jié)果表明各通道相位差小于10°,達(dá)到設(shè)計要求。
四通道X波段放大器采用限幅放大器,對每個通道的幅相一致性要求很高。采用四個通道腔體一體化的設(shè)計,通道之間距離盡量減小,并采用凹槽以增加隔離距離。經(jīng)測試,四通道的增益均大于53 dB,通道之間增益不一致性小于2 dB。
鑒相器由相關(guān)器、4個平方律檢波器以及2個差分輸入、差分輸出的視頻放大器組成,采用多層結(jié)構(gòu)電路設(shè)計,實(shí)現(xiàn)耦合器的寬邊耦合。鑒相器的實(shí)物及視頻輸出如圖3所示。
差分放大器對測向前端輸出的相差信號進(jìn)行視頻放大,增益約為40 dB,帶寬為10 MHz。求反正切函數(shù)電阻網(wǎng)絡(luò)的多個抽頭信號送入比較器,產(chǎn)生格雷編碼[2]并送入FPGA進(jìn)行角度解算。MCU主要完成角度的校正,通過串口實(shí)現(xiàn)RS422通信,輸入頻率碼或輸出二維方位碼。差分放大器輸出的相差信號分別是相位差?漬的正、余弦函數(shù),通過求反正切函數(shù)可計算出相位差?漬,進(jìn)而計算出方位角θ。
測向算法主要完成反正切函數(shù)電阻網(wǎng)絡(luò)的格雷編碼、各接收支路相位差的校正、角度編碼和角度校正等功能,其流程圖如圖5所示。
編碼時,用長支路的32 bit比較器輸出直接產(chǎn)生角度碼的低6 bit,然后高位要依次進(jìn)行校正編碼。以長支路同步校正中支路,中支路同步校正短支路,最后產(chǎn)生8 bit的角度碼輸出。
要在X波段全頻帶內(nèi)保證測向的視角和精度,需對頻率的變化、微波通道的相位不平衡等原因造成的各支路相位差進(jìn)行校正,這也是瞬時測向系統(tǒng)研制的重點(diǎn)和難點(diǎn)。系統(tǒng)除采用電纜匹配等硬件校正方法外,還采用軟件算法進(jìn)行校正,大大減輕了硬件調(diào)試的工作量。各支路相位差校正的主要內(nèi)容如下:
(1)雷達(dá)信號頻率的變化引起各支路相位差的變化;
(2)各支路微波通道的相位不平衡導(dǎo)致的相位差;
(3)天線陣列的互耦效應(yīng)造成的各支路相位差,短支路尤為明顯。
另外還需根據(jù)測試結(jié)果對8 bit角度編碼進(jìn)行校正。角度校正的主要內(nèi)容如下:
(1)由于天線的尺寸誤差、安裝的位置誤差等因素造成的角度編碼的整體偏差;
(2)由于器件的特性等因素造成的角度編碼在特定方位區(qū)域的偏差;
(3)各支路在編碼翻轉(zhuǎn)區(qū)域容易產(chǎn)生的奇異點(diǎn)。
3 實(shí)驗(yàn)結(jié)果
將瞬時測向系統(tǒng)放置在轉(zhuǎn)臺上,轉(zhuǎn)臺可水平轉(zhuǎn)動,以模擬目標(biāo)雷達(dá)方位角的變化。信號源(模擬目標(biāo)雷達(dá))放置在3.5 m遠(yuǎn)處,通過X波段喇叭天線(增益20 dB)發(fā)射脈沖信號, 設(shè)置參數(shù)為: 頻率8 GHz~12 GHz, 功率-16 dBm,重復(fù)頻率10 kHz,占空比50%。測試的結(jié)果如表2所示。
從試驗(yàn)結(jié)果可以看出,該系統(tǒng)在8 GHz~12 GHz頻帶內(nèi)均滿足±60°視角和±1°精度的技術(shù)要求。另外,實(shí)測接收靈敏度為-63.4 dBmW,滿足-60 dBmW的設(shè)計指標(biāo)要求。
瞬時測向系統(tǒng)的各接收通道之間存在相位不平衡,且會隨著溫度等環(huán)境條件的改變而變化,如何進(jìn)行校正是研制的重點(diǎn)和難點(diǎn)。除通過調(diào)節(jié)電纜長度、增加恒溫裝置等硬件措施外,采用軟件算法也能達(dá)到比較好的效果。
三基線干涉儀瞬時測向系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)較為簡單,體積較小,成本也較低,適合小型機(jī)載、彈載平臺的使用,主要缺點(diǎn)是不能對多個雷達(dá)目標(biāo)進(jìn)行識別。該瞬時測向系統(tǒng)已在大功率電子干擾機(jī)、反輻射導(dǎo)引頭等多個項(xiàng)目中得到了應(yīng)用,效果良好。
參考文獻(xiàn)
[1] 馮小平,李鵬,楊紹全. 通信對抗原理[M].西安:西安電子科技大學(xué)出版社,2009.
[2] 胡來招. 瞬時測頻[M].北京:國防工業(yè)出版社,2002.
[3] 魏星,萬建偉,皇甫堪. 基于長短基線干涉儀的無源定位系統(tǒng)研究[J].現(xiàn)代雷達(dá),2007,29(5):22-35.
[4] 周亞強(qiáng),皇甫堪.噪聲條件下數(shù)字式多基線相位干涉儀解模糊問題[J].通信學(xué)報, 2005,26(8):16-21.
[5] 季曉光, 高曉光. 一種機(jī)載無源定位方法—干涉儀定位[J].火力與指揮控制,2008,33(11):158-161.
[6] ERNEST J. Ambiguity resolution in interferometer[J]. IEEE Trans.AES,1981,l17(6):766-780.
[7] MALLOY N J. Analysis and synthesis of general planar interferometer arrays[A].IEEE ICASSP[C].1983:352-355.