《電子技術(shù)應(yīng)用》
您所在的位置:首頁 > 測(cè)試測(cè)量 > 解決方案 > 使用PXI模塊化儀器完成超低功耗ASIC設(shè)計(jì)的結(jié)構(gòu)和內(nèi)存測(cè)試

使用PXI模塊化儀器完成超低功耗ASIC設(shè)計(jì)的結(jié)構(gòu)和內(nèi)存測(cè)試

2012-08-15

 

"我們已使用PXI Express自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)完成多個(gè)項(xiàng)目,并獲得非常滿意的效果。自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)大大減少了芯片測(cè)試的時(shí)間,而其快速、準(zhǔn)確的直流測(cè)試更是實(shí)驗(yàn)室的寶貴財(cái)富。"

- Mario Konijnenburg, Holst Centre/imec

The Challenge:
創(chuàng)建靈活的測(cè)試系統(tǒng)用于自動(dòng)驗(yàn)證和表征新的超低功耗半導(dǎo)體芯片設(shè)計(jì)

The Solution:
使用NI LabVIEW軟件和NI PXI Express高速數(shù)字I/O設(shè)備開發(fā)自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng),前者讀取測(cè)試向量,后者產(chǎn)生和接收數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù),并同時(shí)以很高的精度測(cè)量芯片設(shè)計(jì)的直流損耗。 

 

本站內(nèi)容除特別聲明的原創(chuàng)文章之外,轉(zhuǎn)載內(nèi)容只為傳遞更多信息,并不代表本網(wǎng)站贊同其觀點(diǎn)。轉(zhuǎn)載的所有的文章、圖片、音/視頻文件等資料的版權(quán)歸版權(quán)所有權(quán)人所有。本站采用的非本站原創(chuàng)文章及圖片等內(nèi)容無法一一聯(lián)系確認(rèn)版權(quán)者。如涉及作品內(nèi)容、版權(quán)和其它問題,請(qǐng)及時(shí)通過電子郵件或電話通知我們,以便迅速采取適當(dāng)措施,避免給雙方造成不必要的經(jīng)濟(jì)損失。聯(lián)系電話:010-82306118;郵箱:aet@chinaaet.com。