《電子技術(shù)應(yīng)用》
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PXI TAC2009——引領(lǐng)自動(dòng)化測(cè)試發(fā)展新趨勢(shì)

2009-09-02
作者:王 偉

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  2009年5月26日, 第六屆“中國(guó)PXI技術(shù)和應(yīng)用論壇”(PXI Technology & Application Conference,即PXI TAC)于北京成功舉辦。本次技術(shù)論壇吸引了近600位相關(guān)領(lǐng)域的工程師和技術(shù)人員到會(huì)。Aeroflex、MAC Panel、VPC、Pickering、凌華科技以及北京中科泛華、上海聚星儀器、陜西海泰等8家國(guó)內(nèi)外知名的PXI供應(yīng)商向觀眾現(xiàn)場(chǎng)展示了其基于PXI的最新產(chǎn)品和解決方案。
  本次活動(dòng)開幕儀式由PXI系統(tǒng)聯(lián)盟技術(shù)委員會(huì)主席暨NI研發(fā)總部首席工程師Mark Wetzel先生代表PXISA致歡迎詞,并結(jié)合PXI技術(shù)誕生十余年來的發(fā)展歷程介紹了PXI的技術(shù)優(yōu)勢(shì)以及PXI在全球的應(yīng)用情況,展望了PXI技術(shù)的發(fā)展前景。此外,特邀嘉賓——清華大學(xué)汽車研究所副所長(zhǎng)盧青春教授在主題演講中向與會(huì)聽眾介紹了最近基于PXI技術(shù)的學(xué)術(shù)研究。
  NI中國(guó)技術(shù)市場(chǎng)工程師徐赟為觀眾帶來題為“2009測(cè)試測(cè)量行業(yè)發(fā)展趨勢(shì)”的主題演講。報(bào)告從全球經(jīng)濟(jì)狀況對(duì)于測(cè)量效率和測(cè)試成本提出的更為嚴(yán)格的要求以及測(cè)試測(cè)量工程師面臨的挑戰(zhàn)等問題入手,分析了伴隨著測(cè)試需求的多樣化和復(fù)雜化,軟件定義的儀器系統(tǒng)已成為測(cè)試測(cè)量行業(yè)重要的發(fā)展趨勢(shì)和主流技術(shù),可幫助用戶在提高效率的同時(shí)降低測(cè)試成本。作為測(cè)試測(cè)量行業(yè)的領(lǐng)導(dǎo)者,為順應(yīng)測(cè)試測(cè)量行業(yè)主流發(fā)展趨勢(shì),NI基于“以軟件為核心的模塊化系統(tǒng)架構(gòu)”,進(jìn)一步展望了2009自動(dòng)化測(cè)試的應(yīng)用發(fā)展趨勢(shì),包括多核技術(shù)下的并行測(cè)試、基于FPGA的自定義儀器設(shè)計(jì)、基于軟件無線電的射頻測(cè)試,以及協(xié)議感知(Protocol-Aware)的半導(dǎo)體驗(yàn)證與測(cè)試等,同時(shí)進(jìn)一步將PXI平臺(tái)的應(yīng)用從測(cè)試領(lǐng)域延伸至控制、設(shè)計(jì)等領(lǐng)域。整個(gè)會(huì)議現(xiàn)場(chǎng)的技術(shù)演講與產(chǎn)品展示都體現(xiàn)了這五大趨勢(shì)的應(yīng)用。
????全天的活動(dòng)特辟3個(gè)分會(huì)場(chǎng)的專題講座:“自動(dòng)化測(cè)試平臺(tái)專題”著重詮釋以軟件為中心的模塊化測(cè)試平臺(tái),并以此構(gòu)建自動(dòng)化的測(cè)試應(yīng)用;“行業(yè)應(yīng)用專題”注重PXI平臺(tái)從科研到生產(chǎn)線、從直流到射頻等多個(gè)行業(yè)領(lǐng)域的應(yīng)用;“PXI開發(fā)者專題”則為正在或?qū)⒁O(shè)計(jì)PXI模塊的工程師提供技術(shù)方面的培訓(xùn)和指導(dǎo)。各個(gè)分會(huì)場(chǎng)內(nèi),與會(huì)觀眾積極與演講工程師進(jìn)行互動(dòng),就工程應(yīng)用問題展開討論。而在現(xiàn)場(chǎng)應(yīng)用展示區(qū)內(nèi),NI聯(lián)手其他8家PXI供應(yīng)商和集成商,不僅與與會(huì)工程師分享了PXI技術(shù)的最新行業(yè)應(yīng)用及發(fā)展趨勢(shì),同時(shí)還提供了良好的與客戶交流技術(shù)經(jīng)驗(yàn)和分享成功案例的平臺(tái)。
  在以軟件為核心的模塊化儀器架構(gòu)已經(jīng)成為測(cè)試測(cè)量行業(yè)的主流趨勢(shì)之際,F(xiàn)PGA、多核等新興的商業(yè)技術(shù)發(fā)展勢(shì)必為測(cè)量與自動(dòng)化行業(yè)帶來進(jìn)一步的創(chuàng)新變革。而PXI平臺(tái)憑借其開放式的架構(gòu)、靈活性以及基于PC技術(shù)的優(yōu)勢(shì)始終引領(lǐng)著自動(dòng)化測(cè)試新趨勢(shì)。
  經(jīng)過為期5年的發(fā)展,PXI TAC已經(jīng)逐漸發(fā)揮其品牌效應(yīng),成為業(yè)內(nèi)工程師們分享最新測(cè)試技術(shù)、了解最新市場(chǎng)動(dòng)態(tài)的交流平臺(tái)。據(jù)今年會(huì)議現(xiàn)場(chǎng)的調(diào)查顯示,高達(dá)99%的與會(huì)者認(rèn)為此次活動(dòng)對(duì)他們的實(shí)際工作有很大的幫助,近85%的用戶將把PXI作為他們今后的首選測(cè)試測(cè)量平臺(tái)。

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