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泰克為PCI Express 3.0測試解決方案增添新功能

邏輯協(xié)議分析儀的增強功能,包括創(chuàng)新的鳥瞰圖,可加快PCIe調試、分析速度
2011-12-29
作者:泰克

  全球領先的測試、測量和監(jiān)測儀器提供商---泰克公司日前宣布,TLA7SA08 和 TLA7SA16 邏輯協(xié)議分析儀模塊新增了軟件功能,支持下一代PCIe規(guī)范,即PCI Express 3.0規(guī)范。新的功能包括創(chuàng)新的鳥瞰圖(BEV),幫助工程師洞察和分析復雜的流控制問題,并且只需一鍵式校準和自動配置,從而使PCIe系統(tǒng)調試和分析變得更迅速,更容易。
 
  PCIe 3.0規(guī)范支持兩倍于上代規(guī)范的數據率和更高的I/O帶寬,給物理層和協(xié)議層帶來了新的復雜性和測試挑戰(zhàn)。而且,PCIe適用于廣泛的應用,這給測試儀器跟蹤動態(tài)鏈路寬度變化、動態(tài)速度變化、通道(lane)排序、極性變化和多個省電模式等特征帶來了壓力。憑借這些新功能,泰克邏輯協(xié)議分析儀有助于工程師與PCIe 3.0規(guī)范保持與時俱進,并高效地將產品推向市場。
 
  泰克公司數字分析產品線總監(jiān)Dave Farrell表示:“新版本的PCIe邏輯協(xié)議分析儀軟件,向客戶提供了市場上獨有的強大工具來隔離和調試PCIe流控制問題,并加快可執(zhí)行信息的存取速度。泰克邏輯協(xié)議分析儀為調試和驗證工程師提供了智能的分析功能。”
 
新功能包括:
  •鳥瞰圖(BEV)提供全新的信息可視化方式,以便快速分析PCI Express流控制問題,這些問題可能是最具挑戰(zhàn)性的一些調試問題。在這之前,協(xié)議工具只能提供已解碼分組數據的視圖。事務窗口(Transaction Window)是泰克邏輯協(xié)議分析儀上的一個創(chuàng)新窗口,提供數據包和事務層面(間或有物理層活動)的協(xié)議行為視圖。鳥瞰圖是泰克公司的一個創(chuàng)新,其完全集成于事務窗口之內,提供整個采集的高級視圖。當在鳥瞰圖窗口中看到潛在問題時,用戶可使用鳥瞰圖快速導航至可疑數據,并通過查看事務窗口中的對應數據,立即識別和隔離導致問題的根本事件。這項全新的分析功能在業(yè)內沒有競爭對手可以與之相比。
  •一鍵式校準結合使用邏輯協(xié)議分析儀的采集硬件和觸發(fā)功能來全面測試數以百計甚至數以千計可能的儀器設置,來自動確定最佳設置,確保儀器采集數據時沒有比特錯誤。
  •PCIe“個性化”(Personalization)功能有助于用戶縮短設置時間并迅速開始調試他們的設計。該軟件會自動檢測TLA7SAxx模塊,并彈出PCI Express協(xié)議分析儀設置屏幕,并開始“自動配置”過程。配置完成后,用戶即可開始采集數據和查看“列表”和“事務”窗口(在采集期間自動打開)中的信息。PCIe“個性化”可確保軟件在正確的時間顯示正確的信息,以便在建立測試系統(tǒng)的數分鐘內快速實現采集數據的可視化。
  •自動配置功能根據PCIe鏈路特征自動配置邏輯協(xié)議分析儀的工作參數,如鏈路速度、通道排序和通道極性。設置窗口與校準細節(jié)表相結合,以近實時方式提供有關被測系統(tǒng)工作條件的關鍵指標,這些信息可在單一、易于使用的屏幕中查看,甚至在完成采集之前。
  
  Visual Network Systems的主管工程師William Winston提前使用了這個新解決方案來協(xié)助他應對系統(tǒng)調試挑戰(zhàn):“我能非常迅速地將我的系統(tǒng)連接至泰克邏輯協(xié)議分析儀,并開始進行有意義的測試。在較短的時間內,我就能夠識別我的系統(tǒng)中的問題,而且更重要的是能夠排除其他潛在問題。”
 
  推出于2010年4月,并獲得2011年《測試與測量世界》“最佳測試產品獎”(Best in Test Award)的TLA7SAxx模塊為PCI Express 1.0/2.0/3.0規(guī)范提供了全面的測試解決方案。有了這些新特點,用戶現在能夠使用TLA7SAxx模塊上的增強型PCIe調試和驗證功能。該解決方案包括8或16通道邏輯協(xié)議分析儀模塊、總線支持軟件、插槽界接探測器(Slot Interposer)、Midbus 探頭以及專用solder-down探頭,為PCIe開發(fā)者提供關于系統(tǒng)行為的強大時間相關視圖,從協(xié)議分析開始一直到物理層,以幫助查找棘手問題的根本原因。
 
上市時間
  TLA7SA08和TLA7SA16邏輯協(xié)議分析儀模塊及支持軟件現已面向全球發(fā)售。
 
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