《電子技術(shù)應(yīng)用》
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吉時(shí)利4200-SCS升級(jí)版支持太陽(yáng)能電池測(cè)試、擴(kuò)展的C-V測(cè)量頻率范圍和九槽機(jī)架結(jié)構(gòu)

2009-04-14
作者:吉時(shí)利儀器公司
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先進(jìn)電氣測(cè)試儀器與系統(tǒng)的世界級(jí)領(lǐng)導(dǎo)者吉時(shí)利儀器公司(NYSEKEI),日前宣布對(duì)其屢獲殊榮的4200-SCS半導(dǎo)體特征分析系統(tǒng)進(jìn)行全面的硬件、固件和軟件升級(jí)。吉時(shí)利測(cè)試環(huán)境交互式軟件(KETIV7.2版經(jīng)過升級(jí)囊括九種新的太陽(yáng)能電池測(cè)試庫(kù),擴(kuò)展了系統(tǒng)電容-電壓(C-V)測(cè)量功能的頻率范圍,支持該公司最新九槽4200-SCS儀器架構(gòu)。?

KTEI V7.2新增測(cè)試庫(kù)增強(qiáng)了4200-SCS進(jìn)行太陽(yáng)能電池I-V、C-V和電阻測(cè)試的功能,隨著市場(chǎng)對(duì)可替代能源技術(shù)更加關(guān)注、政府支持力度加大的情況下,此類測(cè)試功能將變得更加重要。本次軟件升級(jí)支持最新太陽(yáng)能電池測(cè)試技術(shù)DLCPDrive-Level Capacitance Profiling,激勵(lì)電平電容壓型),而采用原來的測(cè)試方案很難精確測(cè)試。DLCP能提供薄膜太陽(yáng)能電池上的缺陷密度信息,200711月份推出的4200-CVU型電容-電壓測(cè)試卡經(jīng)過改動(dòng)可直接支持這一測(cè)試技術(shù)。KTEI V7.2版對(duì)現(xiàn)有4200-SCS用戶免費(fèi)。?

為支持DLCP測(cè)試,4200-CVU的頻率范圍從10kHz10MHz擴(kuò)展到1KHz10MHz。經(jīng)擴(kuò)展的頻率范圍也擴(kuò)大了系統(tǒng)的應(yīng)用領(lǐng)域,支持平板LCD和有機(jī)半導(dǎo)體(例如有機(jī)發(fā)光二極管OLED)測(cè)試。?

隨著I-V、脈沖和C-V特征分析應(yīng)用的不斷增長(zhǎng),需要更大測(cè)試靈活性和更強(qiáng)功能的4200-SCS用戶逐漸發(fā)現(xiàn)主機(jī)有些擁擠不堪。為滿足這一需要,本次V7.2版升級(jí)支持九槽主機(jī)架構(gòu)。以前的4200-SCS有八個(gè)插槽,安裝越來越多的源測(cè)量單元(SMU)、脈沖發(fā)生器和示波器卡以及電容-電壓測(cè)量卡。現(xiàn)在的4200-SCS系統(tǒng)經(jīng)過升級(jí)可以支持九個(gè)插槽;所有新的主機(jī)都將提供九個(gè)插槽。?

為支持V7.2版的升級(jí),吉時(shí)利推出一款新的高性能三同軸線纜套件,用于連接4200-SCS和探測(cè)器,能大大簡(jiǎn)化在直流I-V、C-V和脈沖測(cè)試配置之間轉(zhuǎn)換的過程。本款新的線纜套件無需用戶重新進(jìn)行布線即能消除由于布線誤差導(dǎo)致的測(cè)量誤差。其中包括兩種線纜套件——一種適用于Cascade Microtech探測(cè)器,另一種適用于SUSS MicroTec探測(cè)器。?

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不斷增強(qiáng)的系統(tǒng)功能確保產(chǎn)能不斷增長(zhǎng)?

吉時(shí)利4200-SCS以一套緊密集成的特征分析解決方案取代了多種分離的電氣測(cè)試工具,是可靠性實(shí)驗(yàn)室、材料與器件研究實(shí)驗(yàn)室進(jìn)行半導(dǎo)體技術(shù)研究、工藝研發(fā)和材料研究的理想選擇,能滿足所有需要臺(tái)式直流或脈沖測(cè)試儀的實(shí)驗(yàn)室的需要。自推出4200-SCS系統(tǒng)以來,吉時(shí)利不斷增強(qiáng)其硬件和軟件功能。吉時(shí)利對(duì)系統(tǒng)不斷更新的承諾確保用戶能夠獲得高性價(jià)比的升級(jí)途徑,用戶無需因?yàn)樵袃x器過時(shí)而購(gòu)買新的參數(shù)分析儀。系統(tǒng)通過高性價(jià)比的升級(jí)能滿足業(yè)界不斷增長(zhǎng)的測(cè)試需求,相比競(jìng)爭(zhēng)對(duì)手的測(cè)試方案,用戶對(duì)4200-SCS的固定資產(chǎn)投資有效期更長(zhǎng)。?

吉時(shí)利儀器公司作為半導(dǎo)體器件特征分析和參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)領(lǐng)先供應(yīng)商,為全球各地用戶提供電流-電壓(I-V)、電容-電壓(C-V)和脈沖I-V測(cè)量與分析所需的各種靈活解決方案。產(chǎn)品涵蓋從臺(tái)式儀器到成套系統(tǒng),應(yīng)用于材料分析、器件特征分析、圓片級(jí)可靠性分析、工藝控制監(jiān)測(cè)等領(lǐng)域。吉時(shí)利通過其龐大的現(xiàn)場(chǎng)服務(wù)中心網(wǎng)絡(luò)以及具有半導(dǎo)體專業(yè)技術(shù)知識(shí)的應(yīng)用工程師,為全球半導(dǎo)體用戶提供密切的服務(wù)。?

關(guān)于吉時(shí)利儀器公司?

美國(guó)吉時(shí)利儀器公司擁有60年的測(cè)試和測(cè)量的豐富經(jīng)驗(yàn),已經(jīng)成為涵蓋從DC(直流)RF(射頻)先進(jìn)的電子測(cè)量?jī)x器和系統(tǒng)的行業(yè)領(lǐng)導(dǎo)者。專為電子制造業(yè)對(duì)高性能的生產(chǎn)測(cè)試、工藝監(jiān)控、產(chǎn)品的研究與開發(fā)方面的特殊需要與挑戰(zhàn),提供卓越的解決方案。憑借在電子測(cè)試研發(fā)領(lǐng)域的優(yōu)勢(shì),吉時(shí)利儀器公司已經(jīng)成為一個(gè)在半導(dǎo)體、無線通訊、光電器件和其它精密電子測(cè)量領(lǐng)域世界級(jí)的測(cè)試技術(shù)領(lǐng)導(dǎo)者。吉時(shí)利儀器公司對(duì)客戶的核心價(jià)值在于:將先進(jìn)的精密測(cè)量技術(shù)與深入了解客戶應(yīng)用有機(jī)結(jié)合,從而幫助客戶提高產(chǎn)品質(zhì)量、產(chǎn)能與產(chǎn)量。?

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