《電子技術應用》
您所在的位置:首頁 > 測試測量 > 新品快遞 > 2651A吉時利產(chǎn)品新成員

2651A吉時利產(chǎn)品新成員

2011-05-24
作者:吉時利

1、吉時利推出新產(chǎn)品2651A
    大功率2651A型數(shù)字源表進一步豐富了2600A系列產(chǎn)品。該源表專門針對大功率電子器件的特性分析和測試而優(yōu)化設計,可幫助用戶在研發(fā)、可靠性及生產(chǎn)領域提高生產(chǎn)力,包括高亮度LED、功率半導體、DC/DC轉換器、電池,以及其他大功率材料、元件、模塊和組件的特性分析和測試。
    與2600A系列產(chǎn)品的每個成員一樣,2651A具有高靈活性、四象限電壓和電流源/負載,組合了精密電壓和電流表。該源表可作為:
    半導體特性分析儀器
    ·電壓或電流波形發(fā)生器
    ·電壓或電流脈沖發(fā)生器
    ·精密電源
    ·真電流源
   · 數(shù)字多用表(直流電壓,直流電流,電阻和功率,分辨率達5½位)
    ·精密電子負載

2、2651A的特性
    兩種測量模式:數(shù)字化或積分
    2651A型有兩種測量模式可對瞬態(tài)和穩(wěn)態(tài)行為進行精密地特性分析,包括快速變化的熱效應。每種模式均由其獨立的模/數(shù)(A/D)轉換器定義。
    在數(shù)字化測量模式下,連續(xù)進行1μs/點采樣,每秒可捕獲1,000,000個讀數(shù)。其18位A/D轉換器使用戶能夠精密測量瞬態(tài)特性。對于更準確的測量,可利用基于22位A/D轉換器的積分測量模式。全部2600A系列儀器均具有積分測量模式。
    每種測量模式下使用兩個A/D轉換器(一個用于電流,另一個用于電壓),可同時運行用于準確源讀回,不會影響測試效率。

   雙數(shù)字化A/D轉換器以高達1μs/點速率進行連續(xù)采樣,同時對電流和電壓波形進行特性分析。

高速脈沖

   2651A型能夠準確輸出和測量短至100μs的脈沖,將測試期間的自熱效應影響降至最低。更大的控制靈活性使用戶能夠在100μs至DC范圍內(nèi)編程脈寬,在1%至100%范圍內(nèi)編程占空比。單臺儀器可輸出高達50A電流脈沖,兩臺組合可輸出高達100A電流脈沖。
擴展能力
    利用TSP-Link®,可將多臺2651A和其他2600A系列儀器組合在一起,形成最多64路通道的更大集成系統(tǒng)。利用內(nèi)置500ns觸發(fā)控制器,確保精密定時和嚴格通道同步。源表儀器的完全隔離、獨立通道確保了真正的SMU-per-pin測試。
 

吉時利的TSP和TSP-Link技術確保實現(xiàn)真正的SMU-per-pin測試,不存在基于主機系統(tǒng)的功率和/或通道限制。

    此外,兩臺2651A型采用TSP-Link并聯(lián)時,電流量程從50A擴展至100A。當兩個單元串聯(lián)時,電壓范圍從40V擴展至80V。內(nèi)置智能特性使多個單元可作為單臺儀器進行尋址,簡化了測試,由此形成業(yè)內(nèi)最佳的動態(tài)范圍(100A至1pA)。這種能力確保用戶可測試各種各樣的功率半導體和其他器件。
 


高達50A (2個單元可達100A)的精密測量確保更完善和準確的特性分析。

     1μV測量分辨率和高達50A (2個單元可達100A)的電流源輸出確保低電平Rds測量,支持新一代器件。

2600A系列儀器的標準能力
    每款2651A均具備其他2600A系列儀器提供的全部特性和能力,包括:
    ·既可作為臺式I-V特性分析工具,又可作為多通道I-V測試系統(tǒng)的組成部分。
    ·無需編程或安裝,TSP Express軟件即可快速、簡便地執(zhí)行常見的I-V測試。
    ·ACS基本版軟件,用于半導體元器件特性分析(選件)。ACS基本版軟件現(xiàn)在具備一種Trace模式,用于產(chǎn)生一套特性曲線。
    ·吉時利的TSP®(測試腳本處理器)軟件,能夠創(chuàng)建用戶自定義測試腳本,實現(xiàn)自動化程度更高的測試,并且支持創(chuàng)建編程序列,使儀器在沒有PC直接控制的情況下異步工作。
   ·多臺2600A系列儀器連接在一個系統(tǒng)中,實現(xiàn)并行測試和精密定時。
    · 符合LXI class C標準。
    ·14位I/O線,與探針臺、元件裝卸裝置或其他自動化工具直接交互。
    · USB端口,利用USB存儲裝置實現(xiàn)更大的數(shù)據(jù)和程序存儲空間。

3、 2651A的應用領域
    輕松支持當今具有挑戰(zhàn)性的應用:
    ·功率半導體、HBLED和光器件特性分析和測試
    ·GaN、SIC及其他復合材料和器件的特性分析
    ·半導體結溫特性分析
    ·高速、高精度數(shù)字化
    ·電遷移研究
    ·大電流、大功率器件測試

 
     1. 每種測量模式下使用兩個A/D轉換器(一個用于電流,另一個用于電壓),可同時運行用于準確源讀回,不會影響測試效率。
當用于一個系統(tǒng)時,全部2600A系列的通道以500ns同步,實現(xiàn)真正的SMU-per-pin測試,主機不存在功率或通道限制。
    2. 將熱效應降至最小,準確特性分析半導體結溫效應
     ·  準確源出和測量短至100μs的脈沖,并且脈沖從100μs至直流、上升時間從25μs、占空比從1%至100%可編程。
    · 捕獲快速變化現(xiàn)象,速率達1,000,000讀數(shù)/秒,連續(xù)1μs/點采樣。
    3. 提高試驗可靠性和可重復性
    精密定時和嚴格的通道同步對當今的測試要求至關重要。2651A型具有一款高性能觸發(fā)型號,精確控制每一源測量步驟的定時。它還嚴格同步通道之間和/或其他2600A系列儀器之間的工作,采用TSP-Link,硬件速度<500ns。更重要的是,SMU-per-pin測試防止測量和負載信號失真。這些功能可幫助您提高吞吐量,降低可能損壞DUT的影響,并獲得高準確度和可復現(xiàn)的測量結果。
    4. 快速、簡便地執(zhí)行I-V測試
    無需編程或安裝,TSP® Express軟件工具即執(zhí)行常見的I-V測試。嵌入式測試腳本處理器(TSP®)使用戶能夠創(chuàng)建儀器可直接運行的腳本,進一步提高測試自動化。
    該TSP Express測量屏幕所示為利用兩臺2651A單元并聯(lián)獲得100A脈沖能力。能夠以圖形或表格格式查看結果,然后導出至.csv格式文件,可用于電子表格軟件。
    從基本測試到高級測試,利用TSP Express都能快速、簡便的配置。
 

本站內(nèi)容除特別聲明的原創(chuàng)文章之外,轉載內(nèi)容只為傳遞更多信息,并不代表本網(wǎng)站贊同其觀點。轉載的所有的文章、圖片、音/視頻文件等資料的版權歸版權所有權人所有。本站采用的非本站原創(chuàng)文章及圖片等內(nèi)容無法一一聯(lián)系確認版權者。如涉及作品內(nèi)容、版權和其它問題,請及時通過電子郵件或電話通知我們,以便迅速采取適當措施,避免給雙方造成不必要的經(jīng)濟損失。聯(lián)系電話:010-82306118;郵箱:aet@chinaaet.com。