高速高分辨率ADC有效位測(cè)試方法研究
所屬分類：技術(shù)論文
上傳者：aet
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文檔介紹：介紹了ADC的有效位計(jì)算公式，分析了ADC的性能參數(shù)測(cè)試方法，給出了ADC的有效位測(cè)試解決方案。對(duì)FFT方法在ADC性能測(cè)試中的應(yīng)用做了深入探討，包括頻譜泄露、相干采樣和加窗函數(shù)等。采用一種改進(jìn)的FFT方法對(duì)TI公司的ADS5400進(jìn)行有效位測(cè)試，得到其在400 MS/s采樣率的有效位ENOB=9.12 bit(fin=1.123 MHz)。
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