低導通電阻MOSFET測試中的自動校驗技術
所屬分類：技術論文
上傳者：aet
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文檔介紹：導通電阻的準確測量是低導通電阻MOSFET測試中的一個難點。介紹了一種用于低導通電阻MOSFET測試過程中自動校驗測試系統(tǒng)的方法。通過在DUT板上增加高精度低阻值標準電阻測試回路的方法，在正式測試前對測試系統(tǒng)進行自動校驗，校驗合格后繼續(xù)對MOS管進行測試，否則將停止測試；避免了由于自動測試設備（ATE）、DUT板、金手指等測試單元的精度漂移、器件老化等因素導致測試不準確的情況，保證了產(chǎn)品的測試精度，對提升測試的品質(zhì)具有重要意義。
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