基于紅外測(cè)溫技術(shù)的石墨電極內(nèi)部缺陷診斷方法
所屬分類(lèi)：技術(shù)論文
上傳者：aet
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文檔介紹：提出了一種基于紅外測(cè)溫技術(shù)對(duì)石墨電極內(nèi)部缺陷進(jìn)行診斷的方法。根據(jù)熱傳導(dǎo)規(guī)律，物體表面的溫度完全取決于物體內(nèi)部的結(jié)構(gòu)、材料的熱物性、內(nèi)部的熱擴(kuò)散率以及表面與外界環(huán)境的熱交換,石墨電極內(nèi)部的缺陷都會(huì)以相關(guān)部位的溫度場(chǎng)異常為征兆表現(xiàn)出來(lái)。通過(guò)方差法找出缺陷點(diǎn)，并對(duì)紅外圖像中缺陷點(diǎn)形成的區(qū)域進(jìn)行分析，就可以對(duì)石墨電極內(nèi)部缺陷的類(lèi)別、位置、幾何尺寸與嚴(yán)重程度作出定量診斷。
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