BIT設(shè)計(jì)與發(fā)展綜述
所屬分類：技術(shù)論文
上傳者：aet
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文檔介紹：機(jī)內(nèi)測(cè)試BIT（Built-In Test）是一種能顯著提高系統(tǒng)測(cè)試性和診斷能力的重要技術(shù)，是實(shí)現(xiàn)可測(cè)試性設(shè)計(jì)的重要技術(shù)手段之一。介紹了機(jī)內(nèi)測(cè)試技術(shù)的定義、特點(diǎn)、分類、設(shè)計(jì)內(nèi)容以及設(shè)計(jì)流程等，詳細(xì)闡述了機(jī)內(nèi)測(cè)試技術(shù)的發(fā)展歷程，并對(duì)測(cè)試性技術(shù)的新趨勢(shì)進(jìn)行了探討和展望。
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