《電子技術(shù)應(yīng)用》
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便攜式實(shí)時(shí)振動(dòng)監(jiān)測(cè)系統(tǒng)
Bipin M. Kanth
摘要: 基于NI CompactRIO 可重配置平臺(tái)以及靈活的RIO 技術(shù),開發(fā)實(shí)時(shí)的3 維振動(dòng)監(jiān)測(cè)系統(tǒng)。汽車部件在出廠前要接受隨機(jī)振動(dòng)測(cè)試。這套系統(tǒng)可以對(duì)部件受到隨機(jī)振動(dòng)的影響進(jìn)行實(shí)時(shí)而精確的分析。以前的系統(tǒng)主要做離線分析,只具備有限的在線監(jiān)測(cè)和分析能力
Abstract:
Key words :

"這套系統(tǒng)在每個(gè)部件的測(cè)試中可節(jié)省6 到8 個(gè)小時(shí),測(cè)試成本僅為現(xiàn)有系統(tǒng)的30%。"

 

開發(fā)一個(gè)在線監(jiān)測(cè)記錄系統(tǒng),監(jiān)測(cè)隨機(jī)振動(dòng)測(cè)試臺(tái)上汽車部件經(jīng)受的隨機(jī)振動(dòng)以研究隨機(jī)振動(dòng)對(duì)汽車不同部件的影響。

應(yīng)用方案:

基于NI CompactRIO 可重配置平臺(tái)以及靈活的RIO 技術(shù),開發(fā)實(shí)時(shí)的3 維振動(dòng)監(jiān)測(cè)系統(tǒng)。汽車部件在出廠前要接受隨機(jī)振動(dòng)測(cè)試。這套系統(tǒng)可以對(duì)部件受到隨機(jī)振動(dòng)的影響進(jìn)行實(shí)時(shí)而精確的分析。以前的系統(tǒng)主要做離線分析,只具備有限的在線監(jiān)測(cè)和分析能力。

軟件實(shí)現(xiàn)

● 實(shí)時(shí)采集

● 實(shí)時(shí)浮點(diǎn)運(yùn)算和記錄

● 離線數(shù)據(jù)分析

實(shí)時(shí)采集

在接收到由串口連接的LCD 面板發(fā)送的開始信號(hào),系統(tǒng)確認(rèn)控制器cRIO-9002 上的閃存空間數(shù)量,如果空間不夠系統(tǒng)會(huì)發(fā)送指示到串口連接的LCD 面板,以便在測(cè)試?yán)^續(xù)之前把閃存中的數(shù)據(jù)拷貝到筆記本電腦中。如果閃存空間足夠,采集即刻開始,通過cRIO-9233 采集IEPE 加速度傳感器信號(hào)并傳送到cRIO-9002 實(shí)時(shí)控制器中。

實(shí)時(shí)浮點(diǎn)運(yùn)算和記錄

實(shí)時(shí)浮點(diǎn)運(yùn)算包括對(duì)4096 點(diǎn)的數(shù)據(jù)塊計(jì)算RMS,峰值,F(xiàn)FT 變換。應(yīng)用合適的算法去除波形中的毛刺。在整個(gè)測(cè)試過程中RMS和峰值每隔五分鐘被記錄一次。整個(gè)測(cè)試時(shí)間長(zhǎng)達(dá)150 個(gè)小時(shí)。FFT 結(jié)果在測(cè)試開始后的5 分鐘和測(cè)試結(jié)束前的5 分鐘被記錄,用戶可根據(jù)需要決定在測(cè)試中間的某個(gè)時(shí)間段紀(jì)錄FFT 結(jié)果。測(cè)試中的RMS 和峰值也被傳送到操作者面板并且每隔一秒鐘更新一次,操作者借此可以監(jiān)察部件受到的振動(dòng)水平以確認(rèn)振動(dòng)是否在預(yù)期的范圍內(nèi)。

離線分析

筆記本電腦上的用戶界面允許用戶對(duì)已經(jīng)完成的測(cè)試進(jìn)行離線分析。操作順序如下:

1. 選擇需要的測(cè)試數(shù)據(jù)

2. 察看離線數(shù)據(jù)

3. 生成報(bào)告

結(jié)論

這套便攜式實(shí)時(shí)振動(dòng)監(jiān)測(cè)方案與市場(chǎng)上現(xiàn)有的昂貴而龐大的系統(tǒng)相比有明顯的優(yōu)勢(shì),它提供了定制而且便捷的振動(dòng)分析。這是一個(gè)可靠而堅(jiān)固的方案,它結(jié)合了NI RIO 技術(shù)和LabVIEW 的強(qiáng)大功能。系統(tǒng)提供了實(shí)時(shí)的振動(dòng)分析,因此在部件故障發(fā)生時(shí)可進(jìn)行及時(shí)的糾錯(cuò)操作。這套系統(tǒng)在每個(gè)部件的測(cè)試中可節(jié)省6 到8 個(gè)小時(shí),測(cè)試成本僅為現(xiàn)有系統(tǒng)的30%。

更多信息,請(qǐng)聯(lián)系:Bipin M. Kanth, BipinM@captronicsystems.com

 

作者信息:
Bipin Kanth
Captronic Systems, Pvt. Ltd.
Koramangaka
印度
Tel: 91-080-25535046
BipinM@captronicsystems.com

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