自動測試" title="自動測試">自動測試系統(tǒng)(ATS)是指那些采用計算機(jī)控制，能實現(xiàn)自動化測試的系統(tǒng)。自動測試系統(tǒng)一般由自動測試設(shè)備(ATE)和自動測試軟件平臺" title="軟件平臺">軟件平臺組成，自動測試系統(tǒng)的基本組成如圖1所示。
自動測試軟件平臺的開發(fā)有面向儀器和面向信號" title="面向信號">面向信號兩種。基于IVI規(guī)范面向儀器的自動測試軟件平臺，可以解決同類儀器的互換性問題，但不能實現(xiàn)不同類儀器之間的互換性問題。而面向信號的自動測試軟件平臺可以在儀器信號功能級實現(xiàn)儀器功能的可互換。
任何一種產(chǎn)品都會經(jīng)歷從設(shè)計到淘汰的全壽命周期過程，該過程涉及到不同級別的用戶，為了全面提升測試信息化能力，需要結(jié)合廣域測試環(huán)境" title="測試環(huán)境">測試環(huán)境（ABBET），在自動測試軟件平臺中實現(xiàn)標(biāo)準(zhǔn)的信息交換接口及服務(wù)方式用于實現(xiàn)產(chǎn)品全壽命周期測試、診斷和維修。
自動測試軟件平臺是與被測對象及其測試設(shè)備密切相關(guān)的軟件體系，軟件平臺一般由三部分組成：測試程序集（TPS）,TPS開發(fā)工具和測試資源庫。
1)測試程序集（TPS）
TPS是與被測對象及其測試要求密切相關(guān)的，由三部分組成：測試程序軟件、測試接口適配器和被測對象所需的各種文件。
a.接口適配器
由于每個UUT有著不同的連接要求和輸入/輸出端口，因此UUT連到ATE通常要求有相應(yīng)的接口設(shè)備，稱為接口適配器，它完成UUT到ATE的正確、可靠的連接，并且為ATE中的各個信號點(diǎn)到UUT中相應(yīng)I/O引腳指定信號路徑。
b.測試程序（TP）：
TP用于控制ATE的資源來測試指定的被測對象，它通過執(zhí)行測試文檔實現(xiàn)對測試過程的控制，完成被測對象是“正?！边€是“故障”的判斷。
c.測試文檔
用于描述對ATE資源的控制（如對ATE激勵、開關(guān)、測量儀器的選擇與控制、對激勵信號及測量點(diǎn)的選擇與控制等），還包含對所測得的響應(yīng)信號的處理。
2)測試資源庫
測試資源庫中包括了被測對象的測試需求、測試策略信息，信號接口信息，ATE中儀器的描述信息等。
3)TPS開發(fā)工具
TPS開發(fā)工具用于描述被測對象測試需求、策略信息，定義測試資源，生成測試文檔，描述信號路徑，測試結(jié)果分析及根據(jù)測試結(jié)果實現(xiàn)故障診斷等。 ? 2、IVI-Signal Interface規(guī)范
IVI-SignalInterface規(guī)范的體系結(jié)構(gòu)如圖2所示。
IVI-Signal Interface規(guī)范是IVI基金會在IVI-MSS模型的基礎(chǔ)上進(jìn)一步發(fā)展起來的，它對IVI-MSS的RCM進(jìn)一步封裝，以信號接口的形式對外提供測試服務(wù)。這些接口用一系列方法執(zhí)行信號操作,比如初始化(initialing)、建立(setup)、連結(jié)(fetch)、更改(change)等,允許客戶應(yīng)用程序控制儀器設(shè)備上物理信號的初始化、切換等操作。IVI信號組件" title="信號組件">信號組件控制一臺或多臺儀器產(chǎn)生客戶需要的信號,完成客戶的測試需求。它對儀器的控制是通過VISA、IVI驅(qū)動器、SCPI命令等實現(xiàn)的。
廣域測試環(huán)境體系結(jié)構(gòu)(ABBET)將自動測試系統(tǒng)劃分為五個概念層:產(chǎn)品描述層，測試策略/需求層，測試過程層，測試資源層，儀器控制層。其系列標(biāo)準(zhǔn)為各層間信息交互提供了軟件接口的標(biāo)準(zhǔn)化定義，通過標(biāo)準(zhǔn)接口將各層組件靈活方便的組合成系統(tǒng)平臺，迅速的把測試信息轉(zhuǎn)化為測試應(yīng)用，為構(gòu)建一個開放的軟件體系結(jié)構(gòu)提供了一種嶄新的思路和框架。
圖3描述了ABBET標(biāo)準(zhǔn)定義的測試基本框架(TFF)。此框架從測試資源，測試對象，測試環(huán)境三維的視角，分層次，分模塊的定義了測試領(lǐng)域內(nèi)的相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)，應(yīng)用部分在圖中被描述成為插人的模塊，它包括測試應(yīng)用和測試準(zhǔn)備分析工具。
在傳統(tǒng)自動測試軟件平臺的基礎(chǔ)上，結(jié)合廣域測試環(huán)境標(biāo)準(zhǔn)及IVI-Signal Interface規(guī)范，針對與被測對象(UUT)的相關(guān)性，面向信號的自動測試軟件平臺的框架結(jié)構(gòu)分為ATE無關(guān)部分和AET相關(guān)部分。在AET相關(guān)部分內(nèi)，在儀器信號功能級上實現(xiàn)儀器功能的可互換。面向信號的自動測試軟件平臺的總體框架結(jié)構(gòu)圖如圖4所示。
面向信號的自動測試軟件平臺在邏輯上分為三個層次：產(chǎn)品設(shè)計，ATE設(shè)計和信號組件設(shè)計。
產(chǎn)品設(shè)計部分按指定的格式描述UUT產(chǎn)品設(shè)計信息，包括UUT物理和電路設(shè)計描述、 UUT外部可測量的性能、響應(yīng)和需要的激勵。包括UUT測試要求、測試策略、自動測試生成、診斷模型以及維修數(shù)據(jù)的采集和整理的描述。為測試要求提供正式標(biāo)準(zhǔn)的定義，建立人工智能的系統(tǒng)模型，將維修測試數(shù)據(jù)標(biāo)準(zhǔn)化。根據(jù)產(chǎn)品描述層提供的信息和過去的維修測試數(shù)據(jù)決定測試策略，生成測試代碼。
產(chǎn)品設(shè)計部分生成的各項信息面向被測對象，同ATE設(shè)計無關(guān)。
產(chǎn)品設(shè)計包括四部分：產(chǎn)品描述，產(chǎn)品測試策略描述，測試及維修信息設(shè)計和故障診斷分析。
4.1.1產(chǎn)品描述
用于描述UUT產(chǎn)品設(shè)計信息，包括UUT物理和電路設(shè)計描述、 UUT外部可測量的性能、響應(yīng)和需要的激勵。UUT的描述信息可以用圖形表示，如圖5為一被測對象(UUT)的產(chǎn)品描述圖。
4.1.2產(chǎn)品測試策略描述
用于UUT的測試要求、測試策略。結(jié)合上面UUT的產(chǎn)品描述例子，其對應(yīng)的產(chǎn)品測試策略描述信息如下：
輸出AC信號（5V）；
測量AC信號（10V）；
接通開關(guān)（）；
測量電阻信號（100歐）；
斷開開關(guān)；
停止AC信號（5V）。
4.1.3故障診斷分析
用于描述診斷模型的設(shè)計。結(jié)合上面UUT的產(chǎn)品測試策略描述例子，其對應(yīng)的診斷模型信息如下：
If（ 測量AC信號（10V）== 10V && 測量電阻信號（100歐）==100歐 ）
{成功}
Else If（ 測量AC信號（10V）== 10V )
{失敗1}
Else If（ 測量電阻信號（100歐）==100歐 )
{失敗2}
4.1.4測試及維護(hù)信息設(shè)計
用于描述測試和維護(hù)信息管理結(jié)構(gòu)設(shè)計。結(jié)合上面UUT的產(chǎn)品故障診斷模型描述例子，其對應(yīng)的測試及維護(hù)信息如下：
If（ 成功 ）
{正常}
Else If（ 失敗1 )
{更換配件1}
Else If（ 失敗2? )
{更換配件2}
4.2 ATE設(shè)計
ATE設(shè)計包括三個部分：測試信號組件描述，ATE開發(fā)和測試執(zhí)行程序。
這部分用于把跟ATE無關(guān)的UUT測試策略轉(zhuǎn)換為ATE相關(guān)的測試流程，測試流程中對儀器的操作針對抽象的信號組件，實現(xiàn)測試流程的面向信號驅(qū)動，以便實現(xiàn)儀器可互換。。
4.2.1測試信號組件描述
測試信號組件描述用于提取出UUT測試策略中的各種信號描述用于ATE的設(shè)計，ATE設(shè)計中結(jié)合系統(tǒng)的設(shè)計合并同類信號作為單獨(dú)的一個信號組件，測試流程即針對該信號組件設(shè)計，具體執(zhí)行過程中綁定該組件到相應(yīng)物理儀器的對應(yīng)信號組件。
結(jié)合上面的產(chǎn)品描述例子，我們可以提出四個信號組件描述如下：
ATE開發(fā)主要包括三個部分：適配器通路的描述，測試策略到測試流程的轉(zhuǎn)換和信號組件的使用。
4.2.2.1 適配器通路的描述
這部分包括UUT端點(diǎn)定義、ITA端點(diǎn)定義、ICA端點(diǎn)定義和信號組件端點(diǎn)的定義，儀器到UUT端的路徑描述。
信號組件和ICA端點(diǎn)是一一對應(yīng)的關(guān)系，UUT端點(diǎn)和ICA端點(diǎn)之間經(jīng)過了信號轉(zhuǎn)換或者增益，需被描述出來并最終反應(yīng)到信號組件參數(shù)的變化上。
4.2.2.2 測試策略到測試流程的轉(zhuǎn)換
測試策略是對UUT測試過程的描述，該描述同ATE無關(guān)。需把該測試策略轉(zhuǎn)換成跟ATE相關(guān)的測試流程才能實現(xiàn)針對UUT的測試。
圖6是測試策略和測試流程之間轉(zhuǎn)換的一個例子。該UUT需要一個20V的激勵輸入，并產(chǎn)生一個20V的輸出。根據(jù)測試儀器及一些其它方面的考慮設(shè)計適配器的增益倍數(shù)和衰減倍數(shù)分別為2。轉(zhuǎn)換測試策略到測試流程過程中，測試流程中相應(yīng)信號組件的參數(shù)將相應(yīng)改變，經(jīng)測試儀器的驅(qū)動和適配器的調(diào)理，到UUT端的時候?qū)崿F(xiàn)測試策略的需求。
測試策略中提出的信號組件轉(zhuǎn)換為測試流程的信號組件，針對測試流程中的信號組件，將設(shè)計基于實際儀器的信號組件，來實現(xiàn)測試流程中信號組件的功能。測試流程只實現(xiàn)對信號組件的定義，而實現(xiàn)是在實際儀器的基礎(chǔ)上封裝的。
如圖7是信號組件使用的一個例子。測試策略中提出兩個信號組件，測試流程中相應(yīng)的對應(yīng)了兩個信號組件，在兩個測試儀器上分別實現(xiàn)了信號組件1。實際使用過程中即可動態(tài)的綁定到不同的儀器實現(xiàn)儀器可互換。
測試執(zhí)行應(yīng)用程序通過執(zhí)行測試流程，調(diào)用信號組件驅(qū)動相應(yīng)硬件儀器完成切換開關(guān)、發(fā)送激勵、控制測量等，實現(xiàn)對UUT的測試并保存測試結(jié)果。
4.3 信號組件的設(shè)計
一般說來，信號組件是ATE相關(guān)的。適配器設(shè)計過程中會相應(yīng)的考慮實際硬件儀器的功能來定義增益或者衰減，適配器功能決定后，將根據(jù)測試策略中的信號組件定義ATE中使用的實際信號組件。
實際信號組件定義后，流程中的操作將面向這些信號組件。然后分別在實際儀器上封裝相應(yīng)的信號組件。
信號組件中為實現(xiàn)其功能，在對實際儀器的驅(qū)動封裝過程中，將會增加一些標(biāo)定算法等實現(xiàn)該組件對實際信號的測量不會同其它信號組件的測量結(jié)果出現(xiàn)偏差。
4.3.1 信號組件設(shè)計中各種驅(qū)動程序的使用
信號組件不限于必須封裝在IVI驅(qū)動程序上，可以封裝在各種類型的驅(qū)動程序之上，如圖8所示。
如果信號組件的設(shè)計是面向IVI驅(qū)動的，即操作是針對IVI類驅(qū)動的，則可以實現(xiàn)該信號組件的通用性，即實現(xiàn)對提供類IVI驅(qū)動的儀器硬件實現(xiàn)互換性，如圖9所示。不過此時存在一個缺陷，有可能這個缺陷是致命的，即無法消除同類儀器中不同儀器的測量結(jié)果的差異性。
自動測試軟件平臺的開發(fā)有面向儀器和面向信號" title="面向信號">面向信號兩種。基于IVI規(guī)范面向儀器的自動測試軟件平臺，可以解決同類儀器的互換性問題，但不能實現(xiàn)不同類儀器之間的互換性問題。而面向信號的自動測試軟件平臺可以在儀器信號功能級實現(xiàn)儀器功能的可互換。
任何一種產(chǎn)品都會經(jīng)歷從設(shè)計到淘汰的全壽命周期過程，該過程涉及到不同級別的用戶，為了全面提升測試信息化能力，需要結(jié)合廣域測試環(huán)境" title="測試環(huán)境">測試環(huán)境（ABBET），在自動測試軟件平臺中實現(xiàn)標(biāo)準(zhǔn)的信息交換接口及服務(wù)方式用于實現(xiàn)產(chǎn)品全壽命周期測試、診斷和維修。
自動測試軟件平臺是與被測對象及其測試設(shè)備密切相關(guān)的軟件體系，軟件平臺一般由三部分組成：測試程序集（TPS）,TPS開發(fā)工具和測試資源庫。
1)測試程序集（TPS）
TPS是與被測對象及其測試要求密切相關(guān)的，由三部分組成：測試程序軟件、測試接口適配器和被測對象所需的各種文件。
a.接口適配器
由于每個UUT有著不同的連接要求和輸入/輸出端口，因此UUT連到ATE通常要求有相應(yīng)的接口設(shè)備，稱為接口適配器，它完成UUT到ATE的正確、可靠的連接，并且為ATE中的各個信號點(diǎn)到UUT中相應(yīng)I/O引腳指定信號路徑。
b.測試程序（TP）：
TP用于控制ATE的資源來測試指定的被測對象，它通過執(zhí)行測試文檔實現(xiàn)對測試過程的控制，完成被測對象是“正?！边€是“故障”的判斷。
c.測試文檔
用于描述對ATE資源的控制（如對ATE激勵、開關(guān)、測量儀器的選擇與控制、對激勵信號及測量點(diǎn)的選擇與控制等），還包含對所測得的響應(yīng)信號的處理。
2)測試資源庫
測試資源庫中包括了被測對象的測試需求、測試策略信息，信號接口信息，ATE中儀器的描述信息等。
3)TPS開發(fā)工具
TPS開發(fā)工具用于描述被測對象測試需求、策略信息，定義測試資源，生成測試文檔，描述信號路徑，測試結(jié)果分析及根據(jù)測試結(jié)果實現(xiàn)故障診斷等。 ? 2、IVI-Signal Interface規(guī)范
IVI-SignalInterface規(guī)范的體系結(jié)構(gòu)如圖2所示。
IVI-Signal Interface規(guī)范是IVI基金會在IVI-MSS模型的基礎(chǔ)上進(jìn)一步發(fā)展起來的，它對IVI-MSS的RCM進(jìn)一步封裝，以信號接口的形式對外提供測試服務(wù)。這些接口用一系列方法執(zhí)行信號操作,比如初始化(initialing)、建立(setup)、連結(jié)(fetch)、更改(change)等,允許客戶應(yīng)用程序控制儀器設(shè)備上物理信號的初始化、切換等操作。IVI信號組件" title="信號組件">信號組件控制一臺或多臺儀器產(chǎn)生客戶需要的信號,完成客戶的測試需求。它對儀器的控制是通過VISA、IVI驅(qū)動器、SCPI命令等實現(xiàn)的。
廣域測試環(huán)境體系結(jié)構(gòu)(ABBET)將自動測試系統(tǒng)劃分為五個概念層:產(chǎn)品描述層，測試策略/需求層，測試過程層，測試資源層，儀器控制層。其系列標(biāo)準(zhǔn)為各層間信息交互提供了軟件接口的標(biāo)準(zhǔn)化定義，通過標(biāo)準(zhǔn)接口將各層組件靈活方便的組合成系統(tǒng)平臺，迅速的把測試信息轉(zhuǎn)化為測試應(yīng)用，為構(gòu)建一個開放的軟件體系結(jié)構(gòu)提供了一種嶄新的思路和框架。
圖3描述了ABBET標(biāo)準(zhǔn)定義的測試基本框架(TFF)。此框架從測試資源，測試對象，測試環(huán)境三維的視角，分層次，分模塊的定義了測試領(lǐng)域內(nèi)的相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)，應(yīng)用部分在圖中被描述成為插人的模塊，它包括測試應(yīng)用和測試準(zhǔn)備分析工具。
在傳統(tǒng)自動測試軟件平臺的基礎(chǔ)上，結(jié)合廣域測試環(huán)境標(biāo)準(zhǔn)及IVI-Signal Interface規(guī)范，針對與被測對象(UUT)的相關(guān)性，面向信號的自動測試軟件平臺的框架結(jié)構(gòu)分為ATE無關(guān)部分和AET相關(guān)部分。在AET相關(guān)部分內(nèi)，在儀器信號功能級上實現(xiàn)儀器功能的可互換。面向信號的自動測試軟件平臺的總體框架結(jié)構(gòu)圖如圖4所示。
面向信號的自動測試軟件平臺在邏輯上分為三個層次：產(chǎn)品設(shè)計，ATE設(shè)計和信號組件設(shè)計。
產(chǎn)品設(shè)計部分按指定的格式描述UUT產(chǎn)品設(shè)計信息，包括UUT物理和電路設(shè)計描述、 UUT外部可測量的性能、響應(yīng)和需要的激勵。包括UUT測試要求、測試策略、自動測試生成、診斷模型以及維修數(shù)據(jù)的采集和整理的描述。為測試要求提供正式標(biāo)準(zhǔn)的定義，建立人工智能的系統(tǒng)模型，將維修測試數(shù)據(jù)標(biāo)準(zhǔn)化。根據(jù)產(chǎn)品描述層提供的信息和過去的維修測試數(shù)據(jù)決定測試策略，生成測試代碼。
產(chǎn)品設(shè)計部分生成的各項信息面向被測對象，同ATE設(shè)計無關(guān)。
產(chǎn)品設(shè)計包括四部分：產(chǎn)品描述，產(chǎn)品測試策略描述，測試及維修信息設(shè)計和故障診斷分析。
4.1.1產(chǎn)品描述
用于描述UUT產(chǎn)品設(shè)計信息，包括UUT物理和電路設(shè)計描述、 UUT外部可測量的性能、響應(yīng)和需要的激勵。UUT的描述信息可以用圖形表示，如圖5為一被測對象(UUT)的產(chǎn)品描述圖。
4.1.2產(chǎn)品測試策略描述
用于UUT的測試要求、測試策略。結(jié)合上面UUT的產(chǎn)品描述例子，其對應(yīng)的產(chǎn)品測試策略描述信息如下：
輸出AC信號（5V）；
測量AC信號（10V）；
接通開關(guān)（）；
測量電阻信號（100歐）；
斷開開關(guān)；
停止AC信號（5V）。
4.1.3故障診斷分析
用于描述診斷模型的設(shè)計。結(jié)合上面UUT的產(chǎn)品測試策略描述例子，其對應(yīng)的診斷模型信息如下：
If（ 測量AC信號（10V）== 10V && 測量電阻信號（100歐）==100歐 ）
{成功}
Else If（ 測量AC信號（10V）== 10V )
{失敗1}
Else If（ 測量電阻信號（100歐）==100歐 )
{失敗2}
4.1.4測試及維護(hù)信息設(shè)計
用于描述測試和維護(hù)信息管理結(jié)構(gòu)設(shè)計。結(jié)合上面UUT的產(chǎn)品故障診斷模型描述例子，其對應(yīng)的測試及維護(hù)信息如下：
If（ 成功 ）
{正常}
Else If（ 失敗1 )
{更換配件1}
Else If（ 失敗2? )
{更換配件2}
4.2 ATE設(shè)計
ATE設(shè)計包括三個部分：測試信號組件描述，ATE開發(fā)和測試執(zhí)行程序。
這部分用于把跟ATE無關(guān)的UUT測試策略轉(zhuǎn)換為ATE相關(guān)的測試流程，測試流程中對儀器的操作針對抽象的信號組件，實現(xiàn)測試流程的面向信號驅(qū)動，以便實現(xiàn)儀器可互換。。
4.2.1測試信號組件描述
測試信號組件描述用于提取出UUT測試策略中的各種信號描述用于ATE的設(shè)計，ATE設(shè)計中結(jié)合系統(tǒng)的設(shè)計合并同類信號作為單獨(dú)的一個信號組件，測試流程即針對該信號組件設(shè)計，具體執(zhí)行過程中綁定該組件到相應(yīng)物理儀器的對應(yīng)信號組件。
結(jié)合上面的產(chǎn)品描述例子，我們可以提出四個信號組件描述如下：
ATE開發(fā)主要包括三個部分：適配器通路的描述，測試策略到測試流程的轉(zhuǎn)換和信號組件的使用。
4.2.2.1 適配器通路的描述
這部分包括UUT端點(diǎn)定義、ITA端點(diǎn)定義、ICA端點(diǎn)定義和信號組件端點(diǎn)的定義，儀器到UUT端的路徑描述。
信號組件和ICA端點(diǎn)是一一對應(yīng)的關(guān)系，UUT端點(diǎn)和ICA端點(diǎn)之間經(jīng)過了信號轉(zhuǎn)換或者增益，需被描述出來并最終反應(yīng)到信號組件參數(shù)的變化上。
4.2.2.2 測試策略到測試流程的轉(zhuǎn)換
測試策略是對UUT測試過程的描述，該描述同ATE無關(guān)。需把該測試策略轉(zhuǎn)換成跟ATE相關(guān)的測試流程才能實現(xiàn)針對UUT的測試。
圖6是測試策略和測試流程之間轉(zhuǎn)換的一個例子。該UUT需要一個20V的激勵輸入，并產(chǎn)生一個20V的輸出。根據(jù)測試儀器及一些其它方面的考慮設(shè)計適配器的增益倍數(shù)和衰減倍數(shù)分別為2。轉(zhuǎn)換測試策略到測試流程過程中，測試流程中相應(yīng)信號組件的參數(shù)將相應(yīng)改變，經(jīng)測試儀器的驅(qū)動和適配器的調(diào)理，到UUT端的時候?qū)崿F(xiàn)測試策略的需求。
測試策略中提出的信號組件轉(zhuǎn)換為測試流程的信號組件，針對測試流程中的信號組件，將設(shè)計基于實際儀器的信號組件，來實現(xiàn)測試流程中信號組件的功能。測試流程只實現(xiàn)對信號組件的定義，而實現(xiàn)是在實際儀器的基礎(chǔ)上封裝的。
如圖7是信號組件使用的一個例子。測試策略中提出兩個信號組件，測試流程中相應(yīng)的對應(yīng)了兩個信號組件，在兩個測試儀器上分別實現(xiàn)了信號組件1。實際使用過程中即可動態(tài)的綁定到不同的儀器實現(xiàn)儀器可互換。
測試執(zhí)行應(yīng)用程序通過執(zhí)行測試流程，調(diào)用信號組件驅(qū)動相應(yīng)硬件儀器完成切換開關(guān)、發(fā)送激勵、控制測量等，實現(xiàn)對UUT的測試并保存測試結(jié)果。
4.3 信號組件的設(shè)計
一般說來，信號組件是ATE相關(guān)的。適配器設(shè)計過程中會相應(yīng)的考慮實際硬件儀器的功能來定義增益或者衰減，適配器功能決定后，將根據(jù)測試策略中的信號組件定義ATE中使用的實際信號組件。
實際信號組件定義后，流程中的操作將面向這些信號組件。然后分別在實際儀器上封裝相應(yīng)的信號組件。
信號組件中為實現(xiàn)其功能，在對實際儀器的驅(qū)動封裝過程中，將會增加一些標(biāo)定算法等實現(xiàn)該組件對實際信號的測量不會同其它信號組件的測量結(jié)果出現(xiàn)偏差。
4.3.1 信號組件設(shè)計中各種驅(qū)動程序的使用
信號組件不限于必須封裝在IVI驅(qū)動程序上，可以封裝在各種類型的驅(qū)動程序之上，如圖8所示。
如果信號組件的設(shè)計是面向IVI驅(qū)動的，即操作是針對IVI類驅(qū)動的，則可以實現(xiàn)該信號組件的通用性，即實現(xiàn)對提供類IVI驅(qū)動的儀器硬件實現(xiàn)互換性，如圖9所示。不過此時存在一個缺陷，有可能這個缺陷是致命的，即無法消除同類儀器中不同儀器的測量結(jié)果的差異性。
圖9 面向IVI驅(qū)動的信號組件的通用性 ? ?
面向信號的自動測試軟件平臺在兩個層次上分別實現(xiàn)了獨(dú)立性，即：測試策略和UUT的獨(dú)立性，測試流程和實際儀器的獨(dú)立性。信號組件的實現(xiàn)需要結(jié)合具體儀器，因此無法預(yù)先實現(xiàn)，但可以通過提供VC下Wizard向?qū)В┯脩舴奖愕倪M(jìn)行組件的開發(fā)。面向信號的自動測試軟件平臺具備通用性，即提供軟總線功能，用戶可以自定義信號組件加入平臺。
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北京航天測控技術(shù)開發(fā)公司以通用測控產(chǎn)品為主，主要有六大類：基礎(chǔ)測試測量儀器，包括16大類230余種的VXI/PXI/LXI/CPCI/CAN/GPIB總線系列化儀器模塊及信號調(diào)理模塊；軟件及信息化產(chǎn)品，包括虛擬儀器測試開發(fā)環(huán)境和遠(yuǎn)程分布式測試與故障診斷系統(tǒng)；通用測試系統(tǒng)，包括“廣靈通”通用測試平臺及其系列產(chǎn)品；測試與維修保障系統(tǒng)，包括“華佗”電子設(shè)備電路板維修測試與診斷系統(tǒng)及其系列產(chǎn)品和裝備維修測試與診斷系統(tǒng)；自動化控制系統(tǒng)，包括遙測遙控及工業(yè)自動化等系統(tǒng)產(chǎn)品；測試系統(tǒng)輔助配套產(chǎn)品。同時公司還可以根據(jù)用戶的具體需求，提供ATE/ATS、DCS/FCS的系統(tǒng)集成、方案設(shè)計、技術(shù)咨詢、軟件開發(fā)、結(jié)構(gòu)設(shè)計以及遠(yuǎn)程信息化測試、測試/診斷程序開發(fā)及技術(shù)培訓(xùn)與維護(hù)等服務(wù)。
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