庫存管理系統(tǒng)現(xiàn)在依靠無源RFID技術(shù)進(jìn)行產(chǎn)品的實時自動識別。對許多應(yīng)用來說，使用RFID的投資回報是可接受的。這些系統(tǒng)必須能夠?qū)崟r捕獲到全部在場庫存產(chǎn)品的信息，這就要求RFID系統(tǒng)必須能夠百分百地讀取所有被貼以標(biāo)簽的物品。RFID系統(tǒng)的讀取能力是涉及到許多變量的一個函數(shù)，這些變量包括：標(biāo)簽大小、方向、放置方式，以及查詢器天線（IA）設(shè)計。不幸的是，對所有單天線設(shè)計來說都存在讀不到標(biāo)簽的“黑洞”。通過分析并確認(rèn)這些黑洞，業(yè)界已開發(fā)出一種方法，即利用對ISO 15693/ISO 18000-3（13.56-MHz）物品等級系統(tǒng)的多樣性來實現(xiàn)百分之百的讀取能力。

諸如智能卡車/貨柜等高頻（HF）RFID系統(tǒng)在該領(lǐng)域發(fā)揮著作用，很多制造商和方案供應(yīng)商都提供此類產(chǎn)品。這些并不昂貴的系統(tǒng)采用無源RFID標(biāo)簽（大量生產(chǎn)時單價不到25美分），這項技術(shù)在跟蹤臨床高價值物品時具有巨大潛力，其中一些物品有一定的保質(zhì)期。例如，在醫(yī)院的心導(dǎo)管實驗室通常會有的儲物柜內(nèi)，可能會存放著250多個支架，總價值估計達(dá)37.5萬美元。取決于醫(yī)院規(guī)模，有可能會使用四個這樣的儲物柜，其內(nèi)的物品每4個月要被消耗掉，相當(dāng)于這樣一個儲物柜每年“經(jīng)手”的物品價值高達(dá)1.125百萬美元。植入式心臟去纖顫器（ICD）也是醫(yī)院內(nèi)的高價值物品。它們體積小（采用約3×4×6英寸的包裝），但是價值卻在10，000至20，000美元。它們通常儲存在諸如加鎖儲物柜等安全空間。在此類應(yīng)用中，使用RFID可以降低因某些物品備貨不足或過量而導(dǎo)致的成本損失，并且可以更好地掌控這些貴重物品的下落。

一個基本的RFID系統(tǒng)包括一個主機(jī)系統(tǒng)和多個RF組件（圖 1）。RF組件包括一個射頻查詢器（讀寫器和天線）以及標(biāo)簽。查詢器的目的是與現(xiàn)場標(biāo)簽通信，對無源系統(tǒng)來說，查詢器還通過發(fā)射的RF信號給標(biāo)簽供電。查詢器負(fù)責(zé)協(xié)議處理、給標(biāo)簽供電、讀取標(biāo)簽信息、將信息寫入標(biāo)簽，并確保將信息有效傳遞到主機(jī)系統(tǒng)。

ISO 15693標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定：只有當(dāng)“置身”于射頻場時，無源標(biāo)簽才被激活。為激活無源標(biāo)簽，由射頻場感應(yīng)來的電壓（VTag）必須足夠高，要達(dá)到嵌入在標(biāo)簽內(nèi)的RFID芯片工作所需的最低電壓水平。VTag 值是標(biāo)簽尺寸/方向與磁場強(qiáng)度幅值的函數(shù)，對一個理想環(huán)路來說，VTag 可以表述為：

VTag = 2πf0NQB（Scosa） （1）

其中：

N=標(biāo)簽線圈的繞組數(shù)，

Q = 標(biāo)簽的質(zhì)量因數(shù)，

B=磁場強(qiáng)度，

S =標(biāo)簽線圈的面積，

a = 標(biāo)簽的指向角

圖1：一個基本的RFID系統(tǒng)包括一個主機(jī)系統(tǒng)和多個RF組件

　　磁場強(qiáng)度（B）由圓形查詢器天線（IA）產(chǎn)生，可由式2表述：

B = （μ0INa2）/2r3 （2）

其中：

I = IA線圈電流，

N = IA線圈繞組數(shù)，

a = IA線圈半徑，

μ0 =無礙空間的磁導(dǎo)率，

r = 到IA的距離。

從這些方程，我們可以推導(dǎo)出標(biāo)簽大小和方向之間，以及與沿IA軸線感應(yīng)出的場強(qiáng)之間的關(guān)系。當(dāng)標(biāo)簽和查詢器接近時，雖然借助兩者間復(fù)雜的反應(yīng)式近場關(guān)系，其耦合關(guān)聯(lián)得以建立，但是只能被上述等式勉強(qiáng)表述，特別是當(dāng)r 《《 a且偏離查詢器的軸線時，其耦合關(guān)系難以準(zhǔn)確預(yù)測。在實際的物件級應(yīng)用中，標(biāo)簽通常是靠近查詢器天線的，所以基于這個原因，選擇并不完全依賴這些預(yù)測。

圖2：本次研究中使用的最小的RFID標(biāo)簽，只有硬幣大小

　　該機(jī)制對理解射頻黑洞很關(guān)鍵，它既與IA和標(biāo)簽的設(shè)計相關(guān)，也受兩者間交互的影響。HF標(biāo)簽有多種設(shè)計和尺寸，通常分為兩大類：平面和三維（3D）設(shè)計。平面標(biāo)簽是較常見的那種薄紙載體型，而三維標(biāo)簽內(nèi)含鐵氧體且體積小得多。這項研究中使用的標(biāo)簽都是平面型。由于性能是標(biāo)簽和IA的函數(shù)，所以這里探討了三種不同大小的常用標(biāo)簽的功能，其中圖2所示標(biāo)簽尺寸最小，圖3為兩種不同尺寸且設(shè)計截然不同的IA。對在感應(yīng)場內(nèi)只有一個標(biāo)簽和多個標(biāo)簽的情況，對讀寫器的反應(yīng)做了記錄。對在感應(yīng)場內(nèi)通常會有許多產(chǎn)品挨著擺放的實際應(yīng)用情況來說，這種做法頗有代表性。這些測量的目的，是力圖勾畫出一個可代表實際系統(tǒng)的三維空間，并定位出任何存在的RF黑洞。

圖3：兩種典型的RFID查詢器天線（IA），兩個天線的PCB走線中，都有一些關(guān)鍵位置

　　射頻黑洞的位置信息可用來定位其他天線的位置，使其在一個“沒有黑洞”的分集系統(tǒng)中發(fā)揮作用。常用的分集系統(tǒng)（圖4）內(nèi)置單刀多擲開關(guān)，用來將多個天線路由至RFID讀寫器。此類系統(tǒng)被設(shè)計可以頻繁在眾多天線中切換，采用PIN二極管開關(guān)，與只有單一可移動天線RFID系統(tǒng)所用的機(jī)械繼電器比，PIN二極管的平均無故障時間（MTBF）要長得多。目前市面上已推出商用的整合了帶復(fù)用電路讀寫器（有些能處理多達(dá)256個查詢器天線）的分集RFID系統(tǒng)，而價格也相對可接受。

圖4： 該框圖顯示的，是使用多條CAT5線纜處理RF和數(shù)字控制信號的分集系統(tǒng)

　　在整個測試設(shè)置中，RFID讀寫器被認(rèn)為是最關(guān)鍵的部分，它被規(guī)定按照ISO 15693/ISO 18000-3 Mode 1協(xié)議的要求工作。該 ISO標(biāo)準(zhǔn)是成熟的，在全球范圍得到認(rèn)可，許多資深的制造商可提供各種讀寫器型號和標(biāo)簽大小。由于在一次掃描中可能會發(fā)現(xiàn)大量物件，所選的RFID讀寫器有能力在每次掃描中讀識最少100個標(biāo)簽。測試系統(tǒng)所選的讀寫器的（射頻）輸出是1W、來自可靠的制造商。本測試也評估了低功耗（200至250mW）讀寫器，但發(fā)現(xiàn)對特定的物件級應(yīng)用來說，其讀識范圍不理想。另外評估了功率高達(dá)10W的讀寫器，但并沒發(fā)現(xiàn)性能有顯著改善。此外，高功率水平與建議使用的 IA相結(jié)合，會超過監(jiān)管的輻射水平。且這些大功率讀寫器的成本比實際測試所用的低功耗版本要高近一個數(shù)量級。

由于在實際使用模型中，大量標(biāo)簽會非常緊湊地放在一起，所以設(shè)計人員擔(dān)心查詢器的失諧效應(yīng)會降低讀寫器性能，從而影響到標(biāo)簽的正確讀取。所測得的單一查詢器天線的回波損耗響應(yīng)（S11）接近50（圖5），與讀寫器給出的特性阻抗匹配。圖5還顯示了在不同標(biāo)簽大小條件下，查詢器的S11響應(yīng)。較大的標(biāo)簽，與查詢器耦合得非常好，對S11響應(yīng)有顯著影響，將其置于讀寫器約明的要求之外。有些讀寫器根本讀取不了挨得很近的標(biāo)簽，其廠家表示，高度的不匹配將“吞沒”接收器電路，以致檢測不到標(biāo)簽。但在這項研究中使用的讀寫器在這種條件下表現(xiàn)良好。除將標(biāo)簽非常近地靠近查詢器的PCB走線，針對查詢器S11的單標(biāo)簽（相對于多個標(biāo)簽）惡化現(xiàn)象并不嚴(yán)重。希望單標(biāo)簽測試發(fā)現(xiàn)的射頻黑洞會類似于多標(biāo)簽測試中所發(fā)現(xiàn)的，以加快以后查詢器設(shè)計的驗證過程。

在預(yù)測試時，一個簡單的無源RF探針會很有用（圖6）。探針包含一個標(biāo)簽，其RFID芯片被發(fā)光二極管（LED）所取代，LED可用以指示EM場的存在；采用不同大小的標(biāo)簽組裝三個探針。雖然這個測試工具僅需一美元，很粗糙，但作為一種可定位RF黑洞的實時探針卻很有效。該探針能夠定位當(dāng)時無法明顯憑直觀感覺到的射頻黑洞。當(dāng)標(biāo)簽非常靠近查詢器時，射頻黑洞暴露了出來，且對稱地分布在環(huán)形PCB走線的周圍。讀寫器的S11響應(yīng)驗證了這種情況，當(dāng)標(biāo)簽放置在這些位置時，觀察不到變化，根據(jù)小環(huán)形探針記錄的S21測量情況也證明了這點(diǎn)。

這表明了可借助矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀（VNA），通過觀察 S11 和S21隨標(biāo)簽或PCB導(dǎo)線環(huán)運(yùn)動的響應(yīng)變化，來觀測射頻黑洞。通過對不同尺寸標(biāo)簽以及查詢器天線的進(jìn)一步檢測表明，在PCB走線的相同位置存在著黑洞。測試發(fā)現(xiàn)，讀取效果不好的區(qū)域相當(dāng)大，且都在PCB導(dǎo)線環(huán)附近、很有可能放置標(biāo)簽的位置。

　
圖5： 單一查詢器天線的回波損耗響應(yīng)（S11）接近50

　
圖6： 該RFID標(biāo)簽作為一個簡單的測試探針使用，其RFID芯片被一個發(fā)光二極管（LED）所取代

　　RFID標(biāo)簽測試臺準(zhǔn)備了多種標(biāo)簽設(shè)計和方向配置（圖7）。測試臺的配置包括多達(dá)77個標(biāo)簽、并指向x-y平面（平行于查詢器平面）以及正交于查詢器平面。每個RFID標(biāo)簽內(nèi)的各芯片都內(nèi)含一個獨(dú)特標(biāo)識符，作為讀取過程的一部分，可以讀出該標(biāo)識符；它用來標(biāo)記其測試臺的位置。讀寫器反應(yīng)（讀取標(biāo)簽的能力）以IA（Z軸）之上的固定增量被記錄下來。此外，還記錄了卡片以小步進(jìn)增量在查詢器的x-y平面移動的結(jié)果。x-y平面上的運(yùn)動很重要，因為它允許對標(biāo)簽和查詢器導(dǎo)線的對稱排列并指示出在先前預(yù)測試時遇到的射頻黑洞。

　　結(jié)果發(fā)現(xiàn)，單和多標(biāo)簽測試結(jié)果對平行平面和垂直平面來說，都符合得相當(dāng)好。垂直平面測量的結(jié)果符合這樣一種情況：在標(biāo)簽-標(biāo)簽間的高度耦合是主導(dǎo)趨勢時，當(dāng)標(biāo)簽間距小于0.4英寸時，有惡化現(xiàn)象。在垂直平面條件下的多標(biāo)簽測試是不停地讀取更多的標(biāo)簽；因標(biāo)簽間的高度耦合使位于射頻黑洞內(nèi)的標(biāo)簽得以激活，所以可將其認(rèn)為是一個激活標(biāo)簽產(chǎn)生的結(jié)果，而非直接來自查詢器。

對指向與IA平面相同的標(biāo)簽進(jìn)行的測試，指明了對所有標(biāo)簽尺寸和查詢器設(shè)計而言所共有的黑洞位置。如前面觀察到的，當(dāng)存在與標(biāo)簽的對稱情況時，在IA PCB導(dǎo)線附近就出現(xiàn)射頻黑洞。圖8（a）詳盡標(biāo)明了映射響應(yīng)，當(dāng)把卡向左或右移動，使這一整列標(biāo)簽與查詢器天線導(dǎo)線具有對稱性時，可清楚顯示出射頻黑洞。隨著高度的增加，處在邊緣的標(biāo)簽逐漸落在可讀取范圍之外，此時，可用金字塔表述該整體三維可讀取區(qū)的形狀。我們還發(fā)現(xiàn)，讀取區(qū)的大小與查詢器和標(biāo)簽的大小成正比。

當(dāng)標(biāo)簽指向與查詢器正交時，因為標(biāo)簽和查詢器場域正交且耦合不好，所以認(rèn)為標(biāo)簽讀取性能會變差。該方向的標(biāo)簽映射如圖8（b）所示，當(dāng)標(biāo)簽接近并與查詢器PCB導(dǎo)線平行時，標(biāo)簽讀取效果很好，但其它地方都不好。在查詢器PCB走線附近，沒發(fā)現(xiàn)RF黑洞，與平行平面指向的對稱排列所測得結(jié)果不一樣。讀取性能是高度的函數(shù)，特別是對小標(biāo)簽來說，性能隨高度增加而顯著惡化（相對于平面平行反應(yīng)）；這些結(jié)果證明，在此方向只能使用較大的ISO標(biāo)簽。盡管該方向的總體讀取性能表現(xiàn)不佳，但分集系統(tǒng)的多天線設(shè)計可改善讀取性能。

　　如測試表明，沒有任何一個平面查詢器天線在其整個平面能實現(xiàn)百分之百的讀取率，且在查詢器附近有一個體積不小的射頻黑洞。測試結(jié)果表明，若適當(dāng)?shù)嘏挪级鄠€IA，則有望實現(xiàn)百分之百的讀取。測試還顯示，適當(dāng)設(shè)計的分集系統(tǒng)可在整個表面滿足百分之百的讀取性能要求，且沒有物件數(shù)量的限制。這些結(jié)果只應(yīng)用于可能的不同標(biāo)簽/查詢器組合樣例，其中一些可能會滿足預(yù)期的性能。

與此同時，我們還研究了雙回路IA設(shè)計。很顯然，對小標(biāo)簽來說，在大的單回路IA設(shè)計的中心普遍存在著射頻黑洞。對雙回路IA設(shè)計的建模結(jié)果表明，與同樣大小的單回路設(shè)計相比，雙回路設(shè)計在中心區(qū)的標(biāo)簽讀取效果有顯著改進(jìn)。雖然雙回路IA尚未投放市場，但我們制造了一個并進(jìn)行了測試。結(jié)果顯示，對放置在中心區(qū)標(biāo)簽的讀取有顯著改善，但同樣遭受了在此位置對稱效應(yīng)的影響。

分集天線

隨后將這些測試結(jié)果應(yīng)用到分集系統(tǒng)的設(shè)計，目標(biāo)是針對庫存管理應(yīng)用實現(xiàn)百分之百的讀取率。另一個目標(biāo)是在對現(xiàn)有硬件（架子、櫥柜等）不做重大修改的條件下，提供平面設(shè)計，這樣做不會減小產(chǎn)品空間而且也美觀。該設(shè)計還必須考慮到任何可能降低性能的因素，如包裝。我們對紙板包裝的支架和導(dǎo)管產(chǎn)品以及密封在箔襯袋內(nèi)的產(chǎn)品進(jìn)行了大量測試，還針對智能圖書架應(yīng)用，對圖書館內(nèi)的書籍的標(biāo)記和讀取做了很多次測試。與此同時，ICD測試也在進(jìn)行中。結(jié)果發(fā)現(xiàn)，相對較大的包裝所出的問題最少，從而允許以與RFID查詢器平行的指向使用大的ISO標(biāo)簽。

針對以支架為對象的物件級應(yīng)用來說，對其進(jìn)行標(biāo)記被認(rèn)為是適當(dāng)?shù)模驗闃?biāo)簽實際上可盡可能近地靠近查詢器。對于支架類產(chǎn)品，標(biāo)簽如圖9（a）所示置于底部邊緣；甚至在帶箔內(nèi)襯包裝時，仍可實現(xiàn)百分之百的讀取。對以正交指向放置的較大ISO標(biāo)簽進(jìn)行測試的結(jié)果發(fā)現(xiàn)，只有在去除鋁箔包裝后，才可實現(xiàn)百分之百的讀取。對垂直指向放置、帶鋁箔包裝的ISO標(biāo)簽的測試結(jié)果不好，這是因為標(biāo)簽被夾在金屬之間，從而使標(biāo)簽失調(diào)且也減弱了達(dá)到標(biāo)簽的射頻場強(qiáng)。

　　對于圖書應(yīng)用，ISO大小的標(biāo)簽被放置在前封面內(nèi)側(cè)的下部（圖 9（b））。即使標(biāo)簽與讀寫器成直角，只要書的寬度大于0.2英寸，采用大標(biāo)簽才可以實現(xiàn)百分之百的讀取。當(dāng)書的寬度太小時，各本書內(nèi)的標(biāo)簽就會挨得很近，實際上對標(biāo)簽施加了失諧效應(yīng)，從而使讀取變得困難。應(yīng)該指出的是，對隨機(jī)放置的標(biāo)簽來說，無論怎樣努力都無法實現(xiàn)百分之百的讀取率，本研究只針對妥善安置的標(biāo)簽。

在查詢器設(shè)計的早期發(fā)展階段，人們了解到：所有單回路天線設(shè)計的組合都可能產(chǎn)生問題，因它們彼此間存在強(qiáng)烈的耦合，使測得的每個單回路天線的性能也因此不再有效。對各種回路組合進(jìn)行多次建模測試的結(jié)果發(fā)現(xiàn)：單和雙回路（通常稱為“數(shù)字8”）組合架構(gòu)可互補(bǔ)彼此的覆蓋范圍，早期測試中也證明了這點(diǎn)。此外，同心環(huán)/“數(shù)字8”間的耦合性預(yù)測會很低，后來的測試證明該指標(biāo)好于-20dB。

最后生成的查詢器設(shè)計如圖10所示。設(shè)計時考慮了要滿足支架和ICD的實際存儲情況，以及書籍或任何類似大小、類此組成的其它產(chǎn)品的情況。最初的設(shè)計包括三個環(huán)路/數(shù)字8對。這種配置是為預(yù)計應(yīng)用（支架/ICD/書籍）設(shè)計的，用來讀取與讀寫器同一平面內(nèi)的任何標(biāo)簽，或任何與讀寫器垂直或平行于側(cè)壁的標(biāo)簽。后來增加了兩個數(shù)字8來評估額外的標(biāo)簽取向（垂直和平行于背墻），此舉使其有能力借助單一平面讀寫器配置，來讀取任意指向的標(biāo)簽。設(shè)計查詢器天線布局和間距的原則，是以最少天線實現(xiàn)最佳性能。如圖10所示，該布局允許采用多條走線完成PCB的走線長度。這些靠得很近的長線段有利于在整個表面上讀識標(biāo)簽。

　　對設(shè)計內(nèi)的每個查詢器天線進(jìn)行調(diào)整，以使阻抗匹配有利于標(biāo)簽現(xiàn)場情況。讀寫器的阻抗要求規(guī)定IA應(yīng)滿足50-？的系統(tǒng)特性阻抗。為在標(biāo)簽在場的情況下調(diào)整其反應(yīng)，則標(biāo)簽不在場時的性能將不再是優(yōu)化的了。在這兩種情況間做了妥協(xié)，以使在任何數(shù)量的標(biāo)簽在場的情況下，匹配都相當(dāng)于VSWR小于2.0:1的情況。先前的研究測試了讀寫器的性能與VSWR的關(guān)系，情況顯示：除非匹配明顯高于5.0:1的VSWR，否則性能沒有明顯惡化。值得一提的是，從等式1和 2可以看到：為使讀取范圍加倍，由讀寫器產(chǎn)生的IA內(nèi)的電流必須以立方的量級增加。因功率正比于電流的平方，則讀寫器的功率必須要高64倍才能在該 RFID系統(tǒng)內(nèi)使讀取距離加倍（其中P與r6成比例）；系統(tǒng)內(nèi)合理的VSWR反應(yīng)不會導(dǎo)致感應(yīng)電壓的重大損失。

借助商業(yè)讀寫器/多工器和測試設(shè)置對測試結(jié)果進(jìn)行記錄，如圖11。所有8個天線的映射響應(yīng)如圖12所示。映射響應(yīng)清楚表明，對許多標(biāo)簽指向來說，都可得到百分之百的讀取率。此外，還發(fā)現(xiàn)存在巨大的天線“冗員”現(xiàn)象，其中標(biāo)簽被一個以上天線讀取，因此可將參加掃描的天線數(shù)減為三個，且仍可達(dá)到百分之百的讀取性能。讀寫器/多路復(fù)用器還有可操控多達(dá)256個查詢器天線的復(fù)用功能。使用由讀寫器/復(fù)用器制造商描述的常用CAT5電纜，可輕松地配置和組裝智能貨車以便容納多達(dá)16個 RFID貨柜，每一個都可以在16個天線間切換。借助非平衡變壓器的使用，射頻能量通過四對CAT5雙絞線電纜（100-）中的一對傳送，其余6根線用作數(shù)字輸入/輸出（I/O）。在13.56MHz，CAT5電纜的損耗相對較低，通過100英尺的電纜可實現(xiàn)百分之百的讀取性能。

　　在這項研究中碰到的幾個問題可以認(rèn)為是對一些應(yīng)用的限制，例如捕獲速度。借助整合的復(fù)用技術(shù)，可順序進(jìn)行切換交替；讀寫器捕獲標(biāo)簽所需的時間與現(xiàn)場標(biāo)簽數(shù)直接成正比。用所有這8個查詢器讀取77標(biāo)簽試驗臺所需的時間為40秒。在研究這些數(shù)據(jù)集之后，確認(rèn)其中5個查詢器是完全多余的，將它們拿掉后整個掃描時間縮短為20秒。在測試現(xiàn)場，對支架應(yīng)用來說，我們遇到的情況是不超過50個產(chǎn)品/貨架，通常是25個，讀取它們所花的時間在15秒以內(nèi)。讀寫器的速率是轉(zhuǎn)發(fā)器協(xié)議（指定的標(biāo)簽/秒速率）、防競突算法以及讀寫器能力（將數(shù)據(jù)傳遞到主機(jī)的吞吐量）的函數(shù)。好消息是，新的HF Gen2 RFID標(biāo)準(zhǔn)協(xié)議的進(jìn)度明顯加快，而相應(yīng)的讀寫器/標(biāo)簽應(yīng)在不久就可面市。在該應(yīng)用中，對時間的考慮不是重要問題，因為庫存更新只需在換班時進(jìn)行，每天3次。有一些應(yīng)用既要借助RFID跟蹤產(chǎn)品，也需求通過生物識別技術(shù)（指紋）或ID卡識別人員，它們發(fā)生在繁忙區(qū)域，其中貨車/貨柜間的讀識間隔會很短，這時掃描時間就是個重要參數(shù)了。

　　另一個潛在的問題與窄的產(chǎn)品相關(guān)，如支架；有一種現(xiàn)象是，當(dāng)貨架沒全滿時，這些窄的產(chǎn)品有可能“跌倒”。在這種情況下，標(biāo)簽就與讀寫器成直角，且有可能處在無法被讀取的高度，尤其是當(dāng)產(chǎn)品使用小標(biāo)簽時。為規(guī)避這種情況，需在貨架內(nèi)放置可移動的塑料格柵/書檔，以防止產(chǎn)品“跌倒”

隨著價格便宜的COTS硬件的推出，商家可以配置具有成本效益的分集系統(tǒng)，從而滿足許多庫存管理應(yīng)用所要求的規(guī)范。這些系統(tǒng)本來就可以是模塊化的，且為將其整合進(jìn)現(xiàn)有的系統(tǒng)進(jìn)行了配置，從而不會顯著犧牲產(chǎn)品空間，從美學(xué)角度也不會很難看。整合了復(fù)用技術(shù)的物件級RFID技術(shù)為許多應(yīng)用提供了可接受的方案，且對跟蹤諸如支架和ICD等昂貴臨床產(chǎn)品尤其有吸引力。