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泰克推出基于示波器的雙脈沖測(cè)試解決方案,加快SiC和GaN技術(shù)驗(yàn)證速度

2023-06-01
來(lái)源:泰克科技

  中國(guó)北京,2023年5月31日—— 全球領(lǐng)先的測(cè)試測(cè)量解決方案提供商泰克科技公司日前宣布,推出最新雙脈沖測(cè)試解決方案 (WBG-DPT解決方案)。各種新型寬禁帶開(kāi)關(guān)器件正推動(dòng)電動(dòng)汽車(chē)、太陽(yáng)能、工控等領(lǐng)域快速發(fā)展,泰克WBG-DPT解決方案能夠?qū)?a class="innerlink" href="http://ihrv.cn/tags/寬禁帶器件" target="_blank">寬禁帶器件(如SiC和GaN MOSFETs)提供自動(dòng)可重復(fù)的、高精度測(cè)量功能。

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  下一代功率轉(zhuǎn)換器設(shè)計(jì)師現(xiàn)在能夠利用WBG-DPT解決方案,滿懷信心地迅速優(yōu)化自己的設(shè)計(jì)。WBG-DPT解決方案能夠在泰克4系、5系、6系MSO示波器上運(yùn)行,并能夠無(wú)縫集成到示波器測(cè)量系統(tǒng)中,擁有多種業(yè)界領(lǐng)先的測(cè)量功能,如自動(dòng)校正WBG時(shí)延技術(shù)、反向恢復(fù)定時(shí)繪圖,工程師可以更簡(jiǎn)便地查看疊加一個(gè)畫(huà)面上的多個(gè)脈沖的反向恢復(fù)細(xì)節(jié)。這些測(cè)量功能還滿足JEDEC和IEC雙脈沖測(cè)試和二級(jí)管反向恢復(fù)標(biāo)準(zhǔn)。

  泰克科技公司中端示波器產(chǎn)品組合方案總經(jīng)理Daryl Ellis說(shuō),

  “泰克客戶都是下一代尖端功率電子技術(shù)的設(shè)計(jì)師,他們必須優(yōu)化設(shè)計(jì),在效率、尺寸和可靠性之間找到一個(gè)平衡點(diǎn)。我們堅(jiān)信,泰克WBG-DPT解決方案的設(shè)計(jì)將實(shí)現(xiàn)簡(jiǎn)化的可重復(fù)的測(cè)量(根據(jù)JEDEC和IEC標(biāo)準(zhǔn)),加快學(xué)習(xí)周期。測(cè)試自動(dòng)化縮短了測(cè)試時(shí)間和再測(cè)試錯(cuò)誤,確??蛻魸M足項(xiàng)目時(shí)間表和產(chǎn)品開(kāi)發(fā)周期計(jì)劃?!?/p>

  Qorvo公司員工系統(tǒng)工程師Masashi Nogawa說(shuō),

  “在執(zhí)行雙脈沖測(cè)試時(shí),WBG-DPT軟件可以瞬時(shí)測(cè)量主要參數(shù),如EON、EOFF和QRR。該軟件可以使功率波形和標(biāo)記以可視化方式立即顯示集成范圍,用來(lái)計(jì)算電源損耗。相比把波形數(shù)據(jù)導(dǎo)入Excel表格中處理,這提供了一個(gè)完美的替代方案。”

  為實(shí)現(xiàn)有意義的電源損耗測(cè)量,設(shè)計(jì)師必須校正測(cè)試夾具和探頭引入的延遲。漏極到源極電壓(VDS)和漏極電流(ID)測(cè)量的傳統(tǒng)校準(zhǔn)技術(shù)要求重新對(duì)測(cè)試設(shè)置布線,并審慎地進(jìn)行預(yù)測(cè)試測(cè)量。

  WBG-DPT解決方案的主要特點(diǎn):

  WBG-DPT解決方案在業(yè)界率先提供WBG時(shí)延校正技術(shù),不需重新布線,甚至可以在進(jìn)行雙脈沖測(cè)量后執(zhí)行。為仿真時(shí)延在測(cè)試設(shè)置中的效果,該軟件生成了一個(gè)校準(zhǔn)波形。工程師只需調(diào)節(jié)幾個(gè)設(shè)置,就能使校準(zhǔn)波形與測(cè)得波形匹配,因?yàn)樵撥浖?huì)校正任何時(shí)延差。這種新流程把時(shí)延校正時(shí)間從一小時(shí)縮短到5 – 10分鐘。

  由于功率轉(zhuǎn)換器必須在各種條件下工作,所以業(yè)界越來(lái)越多地需要在不同結(jié)點(diǎn)溫度下測(cè)量輸出電荷(QOSS)。泰克WBG-DPT解決方案支持快速準(zhǔn)確的QOSS測(cè)量功能,可以提供重要數(shù)據(jù),了解器件輸出電容的影響。

  泰克WBG-DPT解決方案在業(yè)界率先提供了反向恢復(fù)定時(shí)繪圖功能,工程師可以更簡(jiǎn)便地查看疊加在一個(gè)畫(huà)面上的多個(gè)脈沖的反向恢復(fù)細(xì)節(jié)。這些測(cè)量滿足JEDEC和IEC標(biāo)準(zhǔn),用戶可以在WBG解決方案中配置測(cè)量,查詢雙脈沖集中第一個(gè)或第二個(gè)或所有脈沖的結(jié)果。這種獨(dú)特的反向恢復(fù)繪圖方法支持多個(gè)雙脈沖集,對(duì)每個(gè)集合提供可視的測(cè)量結(jié)果。這些測(cè)量在反向恢復(fù)區(qū)域可以簡(jiǎn)便縮放,甚至可以調(diào)試系統(tǒng)的反向恢復(fù)參數(shù)。



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