文獻標識碼: A
DOI:10.16157/j.issn.0258-7998.182001
中文引用格式: 周志興,來強濤,郭桂良,等. 一種應用于LDO的寬范圍穩(wěn)壓電路[J].電子技術應用,2019,45(3):28-31.
英文引用格式: Zhou Zhixing,Lai Qiangtao,Guo Guiliang,et al. A wide range voltage stabilizing circuit for LDO regulator[J]. Application of Electronic Technique,2019,45(3):28-31.
0 引言
在以往的LDO設計中[1-3],運放的偏置電路通常采用威爾遜(Wilson)電流鏡或者共源共柵電流鏡的結構,運放的電源直接由外部輸入電源來提供,如圖1所示。
圖1所示的運放偏置是在Wilson電流鏡的基礎上,利用了自舉偏置技術提供一個對電源不敏感的電流,如圖1虛線框電路所示。
自偏置電流鏡的輸出電流可用式(1)來確定:
自偏置Wilson電流鏡的PSR可用小信號模型求解[4],可表示為:
一般情況下,輸出電流的PSR可以達到160 dB以上,所以Ib基本不隨電源電壓而變化。但是這種電路的缺點是采用外部輸入電源作為運放的供電電源。為了獲得更高的性能、更低的功耗,在摩爾定律的驅動下,晶體管的特征逐漸減小。當晶體管尺寸為0.18 μm時,VGS、VGD、VSB、VDB等能承受的電壓分別只有1.8 V。然而在混合信號系統(tǒng)中,為了滿足不同模塊的正常工作,電源電壓不能太低,因為一些模擬模塊可能需要較大的電源電壓,比如傳感器前端信號處理電路。因此電路設計者在設計LDO以及DC-DC穩(wěn)壓器中的運放時需要在高輸入電源電壓和晶體管尺寸之間做出權衡。為了解決這個矛盾,本文設計一個穩(wěn)壓電路,將外部電源電壓轉換為一個穩(wěn)定在1.8 V左右的電源作為LDO核心模塊的電源,使得LDO核心電路可以使用0.18 μm的小尺寸MOS管,顯著降低芯片面積。該電路利用改進的Wilson自偏置電路以及電流負反饋技術來實現(xiàn),如圖2所示。
本文設計的穩(wěn)壓電路可以將3.5~6 V的外部輸入的高電源電壓轉換為1.8 V左右的電源電壓。這個穩(wěn)壓電路給LDO核心電路模塊的設計帶來了一定的便利。比如在設計LDO中的誤差放大器或帶隙基準的運放時,由于該穩(wěn)壓電路給運放提供的電源和偏置基本不受外部電源變化的影響,運放只需要在電源電壓為1.8 V時滿足設計指標就可以,同時可以降低對運放電源抑制比的要求。
1 穩(wěn)壓電路的工作原理
本文提出的穩(wěn)壓電路可用圖3所示的電路來簡化分析,其中Ib由改進的Wilson自偏置電流鏡產(chǎn)生。Ifb是通過電流負反饋來產(chǎn)生一個穩(wěn)定的電流。
改進的Wilson自偏置電流鏡的電路圖如圖2中虛線方框中的電路所示。其輸出電流Ib的求解與Wilson自偏置電流鏡輸出電流的求解相同,即用式(1)來表示。但是由于改進的Wilson電流鏡采用了嵌套結構,改進后的Wilson電流鏡的輸出電流PSR是傳統(tǒng)Wilson電流鏡的gmro倍。可以認為改進的Wilson電流鏡的電流基本不隨電源電壓變化。Wilson的輸出電流一般作為運放等電路的偏置電路。由于圖1中的電源電壓為外部高電源電壓,其偏置電壓為M3的柵極電壓VG3,這個電壓會比較高。改進的Wilson電流鏡通過Wilson電流鏡的嵌套,其偏置電壓為M5的柵極電壓VG5,VG5比VG3小一個VGS+Vdsat。
圖3中的Ifb是通過電流負反饋來保證它基本不會隨輸出負載而變化。當負載電流ILoad變大時,流過M1和M2的總電流將減少,則反饋電流Ifb將變小,由于Ib基本不變,則流過M3的電流將變大,通過鏡像電流鏡M3、M4的作用,流過M4的電流也將變大,用來補償反饋電流Ifb的變化。當負載電流ILoad變小時,其原理相同。Ifb的這個特性使得輸出的VDDL基本不會隨負載而變化,這個VDDL為LDO的核心模塊提供一個穩(wěn)定的電壓源。M1、M2的寬長比之比決定了除了負載外有多少電流用于反饋,M2主要用于泄放多余的電流。假設M4、M3的寬長比之比為k1,M1、M2的寬長比之比為k2。那么Ifb可表示為:
在寬長比以及Ifb確定的情況下,VDDL與Vb成線性關系,可以通過調(diào)節(jié)Vb得到所需要的電源電壓值,但Vb不能太大也不能太小,太小時M1將處于線性區(qū),當Vb太大時,由式(6)可知,VDDL變得很大,違背了降壓的初衷。在本設計中,Vb可選擇的范圍為0.8~1.5 V,當選擇0.8 V時,VDDL=1.8 V。
2 穩(wěn)壓電路的仿真結果分析
該穩(wěn)壓電路采用X-FAB 0.18 μm CMOS工藝,工藝庫有兩種不同特征尺寸的晶體管分別為0.18 μm與0.35 μm。本文中的穩(wěn)壓電路采用特征尺寸為0.35 μm的晶體管,晶體管的柵源、柵漏能承受3.6 V以下的電壓。
當負載電流ILoad從0 μA逐漸增加到20 μA時,反饋電流Ifb減小。但Ifb基本不隨輸入電源電壓VDDH變化,如圖4所示。
由式(4)可知,反饋電流Ifb的變化是負載電流ILoad變化的1/k1。并且,由式(6)可知,Ifb對VDDL影響要經(jīng)過開方處理,所以VDDL基本不受負載電流ILoad的影響,如圖5所示。在電源電壓大于3.5 V時,當負載電流ILoad從0 μA逐漸增加到20 μA時,VDDL重合在一起,說明VDDL不隨負載電流ILoad變化;同時VDDL在1.8 V左右,說明VDDL不隨電源電壓VDDH而變化。這個電壓可作為LDO或DC-DC穩(wěn)壓器中運放的電源電壓,也可以作為數(shù)字電路的電源來使用。
該電路的線性調(diào)整率如圖6所示,當VDDH從4 V跳到5 V時,輸出電壓VDDL從1.798 5 V跳到1.8 V,線性調(diào)整率為1.5 mV/V,跳變電壓為2 mV。穩(wěn)壓電路的負載電流為LDO中誤差放大器和Bandgap中放大器消耗的電流。正常工作時,負載電流基本不變。所以該穩(wěn)壓電路對負載調(diào)整率要求不是很嚴格。
為了讓VDDL的電壓值能夠適應多種應用場合,可以通過調(diào)節(jié)Vb來實現(xiàn)這一功能,根據(jù)式(6)可知,VDDL隨Vb線性變化,其仿真結果如圖7所示,當Vb從0.8 V逐漸增加到1.5 V時,VDDL從1.8 V變化到2.5 V。而且可以看出,當輸入電源電壓大于3.5 V時,VDDL不隨VDDH而變化。
3 結論
本文設計了一種寬范圍的穩(wěn)壓電路,可以將3.5 V~6 V外部輸入的電源電壓轉換為1.8 V的電源電壓。該穩(wěn)壓電路作為電源和偏置電路應用于LDO或DC-DC時,LDO或DC-DC的核心電路可以采用小尺寸的晶體管,從而減少芯片面積,并且可以給模擬模塊的設計帶來一定便利。
參考文獻
[1] 孫毛毛,馮全源.LDO線性穩(wěn)壓器中高性能誤差放大器的設計[J].微電子學,2018,38(6):843-846.
[2] 趙雙,劉云濤.一種低壓差CMOS線性穩(wěn)壓器的設[J].微電子學,2017,47(1):82-86.
[3] 萬輝,劉聚川.一種新穎的LDO線性穩(wěn)壓器[J].微電子學,2013,43(3):359-368.
[4] Allen.CMOS集成電路設計[M].西安:西安交通大學出版社,2002.
[5] 拉扎維·畢查得.模擬CMOS集成電路設計[M].北京:電子工業(yè)出版社,2002.
作者信息:
周志興1,2,來強濤1,郭桂良1,姜 宇1,郭江飛1,王成龍3
(1.中國科學院微電子研究所,北京100029;
2.中國科學院大學 電子學院,北京100049;3.中國科學院大學 微電子學院,北京100029)