新聞要點：

 ·是德科技P9000已是業(yè)界最快、功能最全的半導體參數(shù)測試解決方案，用于高級邏輯和記憶集成電路的研發(fā)和批量生產(chǎn)

·第三代P9000憑借全新的參數(shù)測試單元模塊，可進一步提升測試速度，同時克服電容測量所面臨的挑戰(zhàn)

·這款全新的測試單元模塊可測量尖端半導體電子過程中的泄漏電容，并提供 100 引腳并行電容測量結(jié)果

 2018 年 1 月 23 日，北京 – 是德科技（紐約證券交易所代碼：KEYS）近日宣布推出其第三代P9000 系列大規(guī)模并行參數(shù)測試系統(tǒng)。該系統(tǒng)不僅可加速新技術(shù)的快速發(fā)展，更降低了高級半導體邏輯和記憶集成電路開發(fā)和制造過程中的測試成本。例如，隨著新型器件結(jié)構(gòu)和性能的提高，每個先進技術(shù)節(jié)點（小于或等于 20 納米）的必要參數(shù)測試數(shù)據(jù)量將急劇增加。

 P9000 推出后，可利用專門的引腳測試單元模塊，為硅晶圓上的多個器件提供 100 引腳并行測量值。該模塊具備參數(shù)（例如，電壓、電流、電容、脈沖和頻率）測試所需的全部典型測試功能。此外，直接電荷測量（DCM）技術(shù)可實現(xiàn)快速的 100 引腳并行電容測試。

 第二代 P9000 搭載是德科技開發(fā)的快速Vt測量技術(shù)?？焖賄t測量技術(shù)提供閾值電壓（Vt）的單一測量值，其速度比任何常規(guī)測試方法要快四倍以上。除了 100 引腳并行測量外，DCM 和快速Vt 測量技術(shù)可提供更快的單一參數(shù)測量值，從而進一步提升測試速度。因此，先進的芯片代工廠和存儲器公司現(xiàn)已采用 P9000 平臺（第一代和第二代）作為下一代參數(shù)測試解決方案。

 隨著第三代 P9000 的推出，其采用全新引腳參數(shù)測試模塊（是德科技 P9015A），測試器可進一步縮短電容測量的時間，從而解決了因多層互連和新器件結(jié)構(gòu)導致電容測試量日益增加的難題。該全新模塊利用其增強型 DCM技術(shù)來測量漏電電容，相比傳統(tǒng) LCR 測試器，其可在各類電容間建立良好的數(shù)據(jù)相關(guān)性，使單一電容測試速度提升兩倍以上。另外，憑借 100 引腳并行電容測量能力，客戶可進一步提高吞吐量。

 是德科技晶圓測試解決方案副總裁兼總經(jīng)理 Masaki Yamamoto表示：“許多半導體公司已將數(shù)以百計的 P9000 用于研發(fā)和生產(chǎn)，例如，先進的邏輯芯片和內(nèi)存制造?！?“是德科技將繼續(xù)改進 P9000，進一步降低客戶的上市時間，同時降低測試成本。 第三代 P9000 采用 100 引腳“真”參數(shù)引腳模塊，甚至具備傳統(tǒng)測試系統(tǒng)中使用的測試結(jié)構(gòu)，為客戶帶來了疾速的并行參數(shù)測試解決方案。

 更多信息

 更多關(guān)于 P9000 的信息，請訪問www.keysight.com/find/p9000。 如需解決方案的相關(guān)圖片，請訪問www.keysight.com/find/p9000-images。

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是德科技是一家領(lǐng)先的技術(shù)公司，致力于幫助工程、企業(yè)和服務提供商客戶優(yōu)化網(wǎng)絡，進而將其電子產(chǎn)品以更低的成本、更快地推向市場。從設計仿真到原型驗證、再到生產(chǎn)測試以及網(wǎng)絡和云環(huán)境的優(yōu)化，是德科技提供了全方位電子信號測試與分析解決方案。我們的客戶遍及全球通信、航空航天與國防、汽車、能源、半導體和通用電子終端市場。2017 年 4 月，是德科技完成對 Ixia 的收購。Ixia 公司在網(wǎng)絡測試、可見性和安全解決方案領(lǐng)域具有十分雄厚的實力。更多信息，請訪問 www.keysight.com。