《電子技術(shù)應(yīng)用》
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基于IR46標(biāo)準(zhǔn)的雙芯電能表主控關(guān)鍵技術(shù)研究
2017年電子技術(shù)應(yīng)用第10期
周芝梅1,2,趙東艷1,2,張海峰1,2,杜 君1,2,王維彬1,2
1.北京智芯微電子科技有限公司,國(guó)家電網(wǎng)公司重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室電力芯片設(shè)計(jì)分析實(shí)驗(yàn)室,北京100192; 2.北京智芯微電子科技有限公司,北京市電力高可靠性集成電路設(shè)計(jì)工程技術(shù)研究中心,北京100192
摘要: 我國(guó)標(biāo)準(zhǔn)體系對(duì)智能電表的軟件和硬件要求比較固化,電能表均為一體化設(shè)計(jì),一旦出現(xiàn)硬件或軟件故障,只能采取更換整表的方式?;贗R46標(biāo)準(zhǔn)提出計(jì)量芯與管理芯分離的雙芯電能表技術(shù)方案,實(shí)現(xiàn)計(jì)量芯的法制獨(dú)立和管理芯應(yīng)用程序的遠(yuǎn)程在線升級(jí)。詳述分析了雙芯電能表計(jì)量芯和管理芯各自需要完成的功能,并重點(diǎn)研究了計(jì)量芯和管理芯各自的主控芯片要完成的功能、核心技術(shù)指標(biāo)及相應(yīng)的關(guān)鍵技術(shù)。此研究成果對(duì)未來(lái)IR46標(biāo)準(zhǔn)的智能電表和電表主控的開(kāi)發(fā)具有很好的參考意義。
關(guān)鍵詞: 智能電表 微控制單元 IR46
中圖分類(lèi)號(hào): TN492
文獻(xiàn)標(biāo)識(shí)碼: A
DOI:10.16157/j.issn.0258-7998.179013
中文引用格式: 周芝梅,趙東艷,張海峰,等. 基于IR46標(biāo)準(zhǔn)的雙芯電能表主控關(guān)鍵技術(shù)研究[J].電子技術(shù)應(yīng)用,2017,43(10):7-11,19.
英文引用格式: Zhou Zhimei,Zhao Dongyan,Zhang Haifeng,et al. Research on the key technology of the dual MCUs on the energy meter for the IR46 standard[J].Application of Electronic Technique,2017,43(10):7-11,19.
Research on the key technology of the dual MCUs on the energy meter for the IR46 standard
Zhou Zhimei1,2,Zhao Dongyan1,2,Zhang Haifeng1,2,Du Jun1,2,Wang Weibin1,2
1.State Grid Key Laboratory of Power Industrial Chip Design and Analysis Technology, Beijing Smart-Chip Microelectronics Technology Co.,Ltd.,Beijing 100192,China; 2.Beijing Engineering Research Center of High-Reliability IC with Power Industrial Grade, Beijing Smart-Chip Microelectronics Technology Co.,Ltd.,Beijing 100192,China
Abstract: The software and hardware requirements are relatively fixed in the standard system of the smart energy meter. The energy meter are integrally designed, once the hardware or software failure, can only take the form of the replacement of the whole device. In this paper, based on the IR46 standard, the author puts forward the technical scheme of the dual MCU smart energy meter, which is separated from the measuring MCU and the management MCU. This paper focuses on the main functions of the two MCUs, technical indicators and the corresponding key technologies of the two MCUs. The research results of this paper will have a good reference value for the development of the smart meter and its MCUs of the next generation.
Key words : smart meter;MCU;work mode;IR46

0 引言

    我國(guó)第一代智能電表,目前已掛裝并運(yùn)行5年多,為我國(guó)智能電網(wǎng)的建設(shè)提供了重要支撐。然而我國(guó)標(biāo)準(zhǔn)體系對(duì)電能表的軟件和硬件要求比較固化,電能表均為一體化設(shè)計(jì),一旦出現(xiàn)硬件或軟件故障,只能采取更換整表的方式來(lái)保障電力計(jì)量工作順利進(jìn)行。并且出于防止篡改電能表程序的安全角度考慮,目前的電能表不允許軟件的在線升級(jí),因此對(duì)越來(lái)越多的智能應(yīng)用需求形成了限制。為此我國(guó)將在下一代智能電表標(biāo)準(zhǔn)上采用基于IR46(International Recommendation46)標(biāo)準(zhǔn)的雙芯智能電表方案,核心解決的是計(jì)量功能與其他管理類(lèi)功能的分離,支持非計(jì)量部分軟件在線升級(jí),且非計(jì)量部分的故障和升級(jí)不影響計(jì)量部分的準(zhǔn)確性和穩(wěn)定性。

1 雙芯電能表方案

    目前掛裝的智能電表方案應(yīng)用框圖如圖1所示,可完成電能計(jì)量、數(shù)據(jù)的安全保護(hù)、本地RTC計(jì)時(shí)以及支持電表通信功能,包括485通信、SPI、I2C和紅外等功能[1-2]。智能電表用到的功能芯片包括一顆主控芯片、一顆RTC芯片、一顆安全芯片、一顆EEPROM和一顆計(jì)量芯片,全部整體設(shè)計(jì)在一塊電表主板上。

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    基于IR46的雙芯智能電表標(biāo)準(zhǔn)方案,將電表功能分成計(jì)量芯和功能芯兩個(gè)互不干擾的獨(dú)立部分。計(jì)量芯部分完成的功能包括計(jì)量、電量數(shù)據(jù)存儲(chǔ)、RTC計(jì)時(shí)等,計(jì)量芯獨(dú)立運(yùn)行,法制認(rèn)證,不允許軟件升級(jí)。管理芯部分包括智能電卡接口、ESAM、顯示、存儲(chǔ)器、負(fù)控管理和對(duì)外通信等功能。由于計(jì)量芯部分和管理芯部分各自獨(dú)立自成系統(tǒng),在新的電表方案中,計(jì)量部分和管理部分都會(huì)各自需要一顆MCU主控芯片,兩顆主控完成的功能和核心關(guān)鍵指標(biāo)也會(huì)不同,這是實(shí)現(xiàn)基于IR46標(biāo)準(zhǔn)的雙芯電表方案的關(guān)鍵。

2 計(jì)量芯主控功能和關(guān)鍵技術(shù)

2.1 計(jì)量芯主控功能和架構(gòu)

    計(jì)量芯部分要完成的功能包括計(jì)時(shí)、電能計(jì)量、電能和時(shí)間的存儲(chǔ)以及與管理芯的通信。本文設(shè)計(jì)的計(jì)量芯主控功能上包含RTC功能模塊,接口上包括串口、I2C、GPIO等,通過(guò)SPI通信口與管理芯進(jìn)行數(shù)據(jù)和指令交互,功能框圖如圖2所示。CPU采用ARM Cortex-M0 CPU,內(nèi)置128 KB Flash存儲(chǔ)器、8KB RAM,集成4通道DMA;串口負(fù)責(zé)與485通信、SPI與管理芯進(jìn)行通信;通過(guò)I2C操作EEPROM進(jìn)行數(shù)據(jù)存儲(chǔ);另有多路TIMER、看門(mén)狗等功能。

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    IR46標(biāo)準(zhǔn)要求在運(yùn)行模式下,計(jì)量芯的電源不能被控制或干涉,計(jì)量芯RTC持續(xù)工作10年以上,且計(jì)時(shí)精度要滿足國(guó)網(wǎng)電能表計(jì)時(shí)精度要求??偨Y(jié)以上需求可知,計(jì)量芯主控的高精度計(jì)時(shí)和低功耗工作是該主控的核心關(guān)鍵指標(biāo)。

2.2 計(jì)量芯主控的高精度計(jì)時(shí)技術(shù)

    計(jì)量主控RTC采用32 768 Hz石英晶體,晶體的振蕩頻率會(huì)隨溫度變化,稱(chēng)之為晶體的溫度特性。32 768 Hz晶體的振蕩頻率與溫度呈類(lèi)二次函數(shù)關(guān)系[3],低溫和高溫區(qū)晶體的頻率偏差很大,無(wú)法滿足國(guó)網(wǎng)對(duì)智能電表的計(jì)時(shí)精度要求,必須加入溫度補(bǔ)償電路以提高計(jì)時(shí)精度。

    本文設(shè)計(jì)RTC電路,除了包括了RTC的計(jì)時(shí)功能,還包括關(guān)鍵的晶體溫度補(bǔ)償功能,模塊包含RTC計(jì)時(shí)模塊、溫度傳感器、專(zhuān)用的晶體溫度補(bǔ)償電路和一塊緩存Flash,F(xiàn)lash用于存儲(chǔ)晶體的溫度調(diào)校系數(shù),如圖3所示。RTC計(jì)時(shí)電路定時(shí)觸發(fā)調(diào)校電路開(kāi)始工作,從溫度傳感器讀取當(dāng)前溫度值,然后根據(jù)溫度值從Flash中讀取對(duì)應(yīng)的調(diào)校系數(shù),由調(diào)校電路對(duì)RTC的計(jì)時(shí)電路進(jìn)行調(diào)校補(bǔ)償。

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    用32 768 Hz晶體振蕩器設(shè)計(jì)實(shí)時(shí)時(shí)鐘,計(jì)數(shù)滿32 768個(gè)周期為1 s,所以計(jì)數(shù)器的一個(gè)計(jì)數(shù)周期相對(duì)于秒周期的改變量為:

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即如果簡(jiǎn)單的對(duì)秒脈沖進(jìn)行數(shù)字補(bǔ)償,能獲得的補(bǔ)償精度是30.5 ppm,對(duì)于小于30.5 ppm的頻率偏差,無(wú)法得到補(bǔ)償而帶來(lái)偏差,且隨著計(jì)時(shí)時(shí)間的加長(zhǎng),計(jì)時(shí)偏差會(huì)越來(lái)越大。本文設(shè)計(jì)的主控芯片提出并采用了基于累積誤差控制的補(bǔ)償算法[4]。補(bǔ)償算法如式(2)所示: 

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式中,Xn為當(dāng)前時(shí)刻根據(jù)晶體溫度從Flash讀取得到的需要補(bǔ)償?shù)念l率誤差值(單位ppm);Yn-1為上次溫度補(bǔ)償后遺留剩余誤差值;N為根據(jù)當(dāng)前Xn和Yn-1計(jì)算出來(lái)的需要補(bǔ)償?shù)恼麜r(shí)鐘周期數(shù);Yn為本次數(shù)字補(bǔ)償后剩余的頻率偏差值,用于下次補(bǔ)償時(shí)積累誤差用。由于對(duì)補(bǔ)償值N進(jìn)行了四舍五入,所以剩余誤差值Y的值會(huì)小于15.3 ppm,且由于本次補(bǔ)償?shù)氖S嗾`差會(huì)累積到下次需要補(bǔ)償?shù)恼`差值中,所以計(jì)時(shí)誤差不會(huì)隨著計(jì)時(shí)時(shí)間的變長(zhǎng)累積變大。該補(bǔ)償電路的功能框圖如圖4所示,理論的精度效果圖如圖5所示。

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    該補(bǔ)償電路采用全數(shù)字方式實(shí)現(xiàn),受集成電路工藝波動(dòng)的影響小,且實(shí)現(xiàn)簡(jiǎn)單。該主控芯片的RTC經(jīng)賽西實(shí)驗(yàn)室測(cè)試,在-45 ℃~85 ℃溫度范圍內(nèi),計(jì)時(shí)誤差在4 ppm以內(nèi)。

2.3 計(jì)量芯主控的低功耗設(shè)計(jì)技術(shù)  

    計(jì)量芯主控另一關(guān)鍵核心技術(shù)是低功耗設(shè)計(jì),以支撐計(jì)量芯10年不間斷工作。CMOS邏輯電路的功耗可以分為動(dòng)態(tài)功耗和靜態(tài)功耗兩部分。動(dòng)態(tài)功耗是指當(dāng)芯片處于激活(active)狀態(tài)時(shí),也即信號(hào)發(fā)生跳變時(shí)的功耗,靜態(tài)功耗是指芯片處于未激活狀態(tài)或者沒(méi)有信號(hào)跳變時(shí)的功耗[5-6]。動(dòng)態(tài)功耗70%源自開(kāi)關(guān)電容電流功耗[6],開(kāi)關(guān)電容的功耗定義如式(3)所示:

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2.3.1 動(dòng)態(tài)功耗優(yōu)化

    根據(jù)式(3)的理論,設(shè)計(jì)上降低動(dòng)態(tài)功耗的方法主要是降低數(shù)字電路的翻轉(zhuǎn)率,主要包括以下技術(shù)。

    (1)門(mén)控時(shí)鐘技術(shù)

    對(duì)每個(gè)功能模塊設(shè)計(jì)單獨(dú)的時(shí)鐘門(mén)控,在不需要模塊工作時(shí),關(guān)閉模塊時(shí)鐘,減少時(shí)鐘電路的翻轉(zhuǎn)功耗。同時(shí),在對(duì)芯片的RTL代碼進(jìn)行綜合時(shí),插入時(shí)鐘門(mén)控單元,這樣寄存器輸入端的時(shí)鐘在信號(hào)不翻轉(zhuǎn)時(shí)就不會(huì)翻轉(zhuǎn),極大地降低了時(shí)鐘的動(dòng)態(tài)功耗[7]

    (2)低功耗總線技術(shù)

    總線技術(shù)引入到SoC設(shè)計(jì)使得芯片設(shè)計(jì)進(jìn)入模塊化結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)階段,方便了系統(tǒng)的集成,也有利于系統(tǒng)的擴(kuò)展。但另一方面, AHB總線和APB總線信號(hào)伸展到了芯片的每一個(gè)功能模塊,而從總線訪問(wèn)的互斥性可以看到,總線的主設(shè)備同一時(shí)刻只會(huì)訪問(wèn)一個(gè)從設(shè)備,但是不被訪問(wèn)的從設(shè)備的輸入總線信號(hào)還是會(huì)跟隨翻轉(zhuǎn),所以總線的無(wú)效翻轉(zhuǎn)功耗很高。

    本設(shè)計(jì)首先對(duì)總線上的地址和寫(xiě)數(shù)據(jù)總線進(jìn)行選擇門(mén)控,只有送往被操作外設(shè)的地址和數(shù)據(jù)總線是有效翻轉(zhuǎn)的,其余外設(shè)的地址和寫(xiě)數(shù)據(jù)總線保持靜止。此外,采用總線反相技術(shù),總線矩陣處理模塊將總線上當(dāng)前數(shù)據(jù)總線值與上一個(gè)數(shù)據(jù)值進(jìn)行比較,選擇是發(fā)送原碼還是反碼,以及依據(jù)哪一種碼導(dǎo)致總線的翻轉(zhuǎn)更少。設(shè)計(jì)時(shí)需要總線增加一位極性信號(hào),以讓接收模塊正確地恢復(fù)總線上的數(shù)據(jù)。通過(guò)這兩種方式,極大地減小了總線的動(dòng)態(tài)功耗,將總線功耗占整芯片動(dòng)態(tài)功耗的比例從32%降到了26%。

    (3)異步電路設(shè)計(jì)

    在同步電路中,系統(tǒng)由全局時(shí)鐘控制,在每個(gè)時(shí)鐘脈沖到來(lái)時(shí),只要在翻轉(zhuǎn)時(shí)鐘控制下的所有寄存器都會(huì)消耗動(dòng)態(tài)功耗,無(wú)論該寄存器的數(shù)據(jù)是否變化。

    而異步電路設(shè)計(jì)技術(shù),整個(gè)設(shè)計(jì)不需要有統(tǒng)一的時(shí)鐘,電路僅在需要翻轉(zhuǎn)的時(shí)候才會(huì)啟動(dòng)工作,沒(méi)有這種無(wú)效的功耗浪費(fèi),完成工作之后就恢復(fù)靜止?fàn)顟B(tài),處于靜止?fàn)顟B(tài)的電路單元僅僅消耗漏電流,不會(huì)有動(dòng)態(tài)功耗[7]。本文設(shè)計(jì)的主控在RTC模塊、看門(mén)狗模塊中,均采用了異步電路設(shè)計(jì),確保芯片在電池供電下正常計(jì)時(shí),并保持最低功耗。

    該芯片在TSMC 180 nm eFlash工藝上流片,芯片實(shí)測(cè)動(dòng)態(tài)功耗數(shù)據(jù)為:芯片供電電壓為3.0 V,配置LDO為1.7 V,主時(shí)鐘選擇2 MHz時(shí),在溫度-40℃~85℃范圍內(nèi),芯片總功耗為表1所示。

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2.3.2 靜態(tài)功耗優(yōu)化

    根據(jù)電表的不同應(yīng)用場(chǎng)景合理設(shè)計(jì)芯片工作模式。電表在正常調(diào)試完成后的工作狀態(tài)分3種。第一種為電表在庫(kù)房尚未掛裝現(xiàn)場(chǎng),此時(shí)只需要RTC精確計(jì)時(shí),不需要計(jì)量、通信等其他功能,也不需要RAM數(shù)據(jù)的存儲(chǔ)保留,這種工作模式下,可以通過(guò)局部掉電做到最低功耗;第二種工作場(chǎng)景應(yīng)用于電表正常掛裝工作時(shí),電表保持全功能工作模式,此種模式下,主控芯片的要求是盡量降低芯片的動(dòng)態(tài)功耗;第三種場(chǎng)景對(duì)應(yīng)于電表掛裝后市電掉電,而以電池供電的工作模式,此時(shí)需要保留電表掉電時(shí)的現(xiàn)場(chǎng)狀態(tài),RTC正常計(jì)時(shí)。對(duì)應(yīng)于主控的工作模式,需要保持RTC正常工作和正常的晶體溫度補(bǔ)償,同時(shí)RAM和CPU等都需要保持帶電以保留工作現(xiàn)場(chǎng),來(lái)電喚醒和觸發(fā)喚醒電路保持工作,其他電路都將時(shí)鐘關(guān)閉以降低功耗。

    根據(jù)上述3種工作場(chǎng)景,該芯片設(shè)計(jì)了stop、sleep和active模式。active時(shí)主控正常工作;sleep模式下,RTC和喚醒源保持工作,其他模塊保持有電但靜止模式;stop下,除RTC和喚醒源外,其余模塊直接掉電,以達(dá)到最低功耗。3種模式可以互相轉(zhuǎn)換,如圖6所示。

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    芯片sleep模式下,供電電壓3.0 V,LDO配置為1.8 V,RTC使能,所有其他的外設(shè)均不使能,在溫度-40 ℃~105 ℃范圍內(nèi),芯片的總功耗測(cè)試數(shù)據(jù)如表2。

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3 管理芯主控功能和關(guān)鍵技術(shù)

3.1 管理芯主控功能

    雙芯智能電表的管理芯主要負(fù)責(zé)費(fèi)控管理、顯示、事件記錄、負(fù)荷控制等任務(wù),同時(shí)提供一系列對(duì)外通信接口。本文設(shè)計(jì)的管理芯部分主控芯片的功能框圖如圖7所示。

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    IR46與傳統(tǒng)智能電表的最大特點(diǎn)是管理芯要支持程序的遠(yuǎn)程或本地的在應(yīng)用升級(jí)。管理芯主控需要提供合理完善的解決方案,滿足電表穩(wěn)定、可靠、高效地進(jìn)行電表程序的本地和遠(yuǎn)程升級(jí),這是管理芯區(qū)別于以前電表主控需要完成的一個(gè)關(guān)鍵功能。

3.2 管理芯主控在應(yīng)用升級(jí)關(guān)鍵技術(shù)

    主控的遠(yuǎn)程或本地升級(jí)主要指的是對(duì)MCU芯片內(nèi)部的Flash存儲(chǔ)器的數(shù)據(jù)進(jìn)行擦除及重新下載。MCU對(duì)Flash存儲(chǔ)器的編程一般可以分成3種方式[8]:JTAG、ISP(In System Program)和IAP(In Application Program)。JTAG編程一般用于產(chǎn)品應(yīng)用開(kāi)發(fā)階段的調(diào)試;ISP強(qiáng)調(diào)芯片在應(yīng)用系統(tǒng)現(xiàn)場(chǎng)的升級(jí),但不要求程序升級(jí)時(shí)芯片繼續(xù)保持工作狀態(tài),可以終止應(yīng)用軟件的運(yùn)行,適用于便攜式設(shè)備的升級(jí);IAP和ISP最重要的區(qū)別是IAP支持應(yīng)用程序正常運(yùn)行的情況下,對(duì)Flash存儲(chǔ)器中的部分程序進(jìn)行擦除和重寫(xiě)操作,為終端固件的遠(yuǎn)程自動(dòng)升級(jí)帶來(lái)了很大的方便。雙芯電表方案的管理芯,采用的是IAP方式,支持程序的遠(yuǎn)程或本地的在應(yīng)用升級(jí)。

    為了保障電表程序在應(yīng)用升級(jí)的正確性,管理芯主控設(shè)計(jì)在程序升級(jí)的不同階段,都進(jìn)行指令和程序的正確性檢查。首先確認(rèn)升級(jí)軟件包的接收是否完整正確,接收正確后,將新程序?qū)懙紽lash,并對(duì)編寫(xiě)結(jié)果進(jìn)行校驗(yàn)確認(rèn);校驗(yàn)正確后,將對(duì)新更新程序進(jìn)行自檢,如果自檢沒(méi)通過(guò),則需要有方式能將此部分程序恢復(fù)到升級(jí)前的一個(gè)版本。硬件上需要有足夠的空間對(duì)被替換的老版本程序進(jìn)行備份并記錄;能支持PC指針的靈活跳轉(zhuǎn);流程上要保證每一步都需要校驗(yàn)確認(rèn)正確后再轉(zhuǎn)到下一步。同時(shí),軟件上要求管理芯的主控程序采用模組化設(shè)計(jì)方案,即顯示模塊、通信模塊、費(fèi)控模塊、事件模塊等模塊的獨(dú)立設(shè)計(jì),互不影響,以保證電能表軟件支持對(duì)各模塊的獨(dú)立升級(jí),這樣避免了軟件整體升級(jí)帶來(lái)的升級(jí)效率低、硬件存儲(chǔ)和通信開(kāi)銷(xiāo)大的缺點(diǎn)。

    應(yīng)用升級(jí)控制流程圖如圖8所示。該芯片在UMC55工藝上流片成功,用該芯片研發(fā)的樣表進(jìn)行在應(yīng)用升級(jí)的測(cè)試,模擬升級(jí)過(guò)程中程序傳輸出錯(cuò)、程序?qū)懗鲥e(cuò),在升級(jí)的各個(gè)環(huán)節(jié)發(fā)生電表掉電,芯片均能正確處理,報(bào)告出錯(cuò)環(huán)節(jié),并給出信號(hào)開(kāi)始下次升級(jí),并最終升級(jí)成功。

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4 總結(jié)

    本文研究了基于IR46標(biāo)準(zhǔn)的雙芯智能電能表方案,根據(jù)計(jì)量芯和管理芯各自完成的功能,設(shè)計(jì)了計(jì)量芯部分主控芯片和管理芯主控芯片。針對(duì)計(jì)量芯的高精度計(jì)時(shí)需求,提出了基于累積誤差控制的溫度補(bǔ)償電路;針對(duì)低功耗需求,采用了降低動(dòng)態(tài)和靜態(tài)功耗的一系列關(guān)鍵技術(shù)。管理芯主控部分,重點(diǎn)研究了高可靠安全的在應(yīng)用升級(jí)相關(guān)技術(shù),實(shí)現(xiàn)管理芯主控應(yīng)用程序的遠(yuǎn)程升級(jí)。本文研究?jī)?nèi)容對(duì)未來(lái)IR46標(biāo)準(zhǔn)的雙芯電表和電表主控芯片的開(kāi)發(fā)具有很好的參考意義。

參考文獻(xiàn)

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作者信息:

周芝梅1,2,趙東艷1,2,張海峰1,2,杜  君1,2,王維彬1,2

(1.北京智芯微電子科技有限公司,國(guó)家電網(wǎng)公司重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室電力芯片設(shè)計(jì)分析實(shí)驗(yàn)室,北京100192;

2.北京智芯微電子科技有限公司,北京市電力高可靠性集成電路設(shè)計(jì)工程技術(shù)研究中心,北京100192)

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