《電子技術(shù)應(yīng)用》
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NI宣布推出第二代矢量信號(hào)收發(fā)儀的基帶版本,以應(yīng)對(duì)最苛刻的收發(fā)儀測(cè)試應(yīng)用

全新的基帶矢量信號(hào)收發(fā)儀具有12倍的帶寬和更大型的用戶可編程FPGA,而且體積縮小了一半
2017-07-21

新聞發(fā)布 – 2017年6月6日 – NI(美國(guó)國(guó)家儀器公司,National Instruments,簡(jiǎn)稱NI) 作為致力于為工程師和科學(xué)家提供解決方案來(lái)幫助他們應(yīng)對(duì)全球最嚴(yán)峻的工程挑戰(zhàn)的供應(yīng)商,今日宣布推出第二代矢量信號(hào)分析儀(VST)的基帶版本。 PXIe-5820模塊是業(yè)界首款具有1 GHz復(fù)雜I/Q帶寬的基帶VST,旨在解決最具挑戰(zhàn)性的RF前端模塊和收發(fā)器測(cè)試應(yīng)用需求,如包絡(luò)跟蹤、數(shù)字預(yù)失真和5G測(cè)試。

NI的射頻和無(wú)線技術(shù)副總裁Charles Schroeder表示:“2016年,NI推出了具有1 GHz的瞬時(shí)帶寬的第二代VST射頻款,引起了業(yè)界的一次巨大反響。 第二代VST的基帶款將再次引起業(yè)界的反響。 工程師可以結(jié)合LabVIEW系統(tǒng)設(shè)計(jì)軟件使用基帶VST,以應(yīng)對(duì)收發(fā)儀測(cè)試應(yīng)用的不斷變化和升級(jí)的需求。 工程師可以利用NI VST的軟件設(shè)計(jì)架構(gòu)來(lái)加快設(shè)計(jì)步伐,降低測(cè)試成本以及解決以前傳統(tǒng)測(cè)試方法無(wú)法解決的測(cè)量問題。”

PXIe-5820將寬帶I/Q數(shù)字化儀、寬帶I/Q任意波形發(fā)生器和高性能用戶可編程FPGA組合到一個(gè)2插槽PXI Express模塊中。 基帶VST具有1 GHz的復(fù)雜I/Q帶寬,適用于無(wú)線和蜂窩芯片組的基帶I/Q測(cè)試以及功率放大器數(shù)字預(yù)失真波形的包絡(luò)跟蹤,以及新無(wú)線標(biāo)準(zhǔn)(如5G、802.11ax和LTE-Advanced Pro)的生成和分析等各種應(yīng)用。
產(chǎn)品特性:

1 GHz的復(fù)雜I/Q瞬時(shí)帶寬,用于生成和分析信號(hào)

高測(cè)量精度,可測(cè)量-54 dB的802.11ax誤差矢量幅度(EVM)性能

基帶2通道差分I/Q,具有4 Vpp差分輸入和2 Vpp差分輸出擺幅

基于FPGA的快速測(cè)量,能夠以10倍的速度進(jìn)行測(cè)量,具有高度優(yōu)化的測(cè)量軟件

緊湊的尺寸,基帶VST和RF VST緊密同步,在PXI組成結(jié)構(gòu)中可允許2x2、4x4、8x8或更大型的多輸入多輸出(MIMO)配置

出色的本底噪聲,無(wú)雜散動(dòng)態(tài)范圍

用戶可編程的FPGA,工程師可以進(jìn)行自定義來(lái)添加針對(duì)特定應(yīng)用的功能

易于編程,RF和基帶VST之間具有一致的軟件體驗(yàn)

NI RF研發(fā)首席架構(gòu)師Ruan Lourens表示:“我們特意對(duì)原有軟件設(shè)計(jì)架構(gòu)進(jìn)行升級(jí),開發(fā)了基帶VST。 我們已經(jīng)設(shè)法優(yōu)化每一個(gè)可能的領(lǐng)域,從熱和電氣領(lǐng)域到數(shù)字信號(hào)處理,成功地在小巧的封裝中提供了1 GHz的復(fù)雜I/Q帶寬。 基帶VST可以與PXIe-5840 RF VST緊密同步至亞納秒精度,為無(wú)線芯片組的RF和基帶差分I/Q測(cè)試提供完整的解決方案。

基帶VST是NI平臺(tái)和生態(tài)系統(tǒng)的重要組成部分,可幫助工程師構(gòu)建更智能的測(cè)試系統(tǒng)。 這些測(cè)試系統(tǒng)將受益于從直流到毫米波等600多個(gè)PXI產(chǎn)品 。 它們采用PCI Express第三代總線接口,具有高吞吐量數(shù)據(jù)移動(dòng),同時(shí)具有子納秒級(jí)同步以及集成的定時(shí)和觸發(fā)。 LabVIEW和TestStand軟件環(huán)境的高效生產(chǎn)力,以及一個(gè)由合作伙伴、附加IP和應(yīng)用工程師組成的充滿活力的生態(tài)系統(tǒng),可幫助用戶大幅降低測(cè)試成本,縮短上市時(shí)間,開發(fā)面向未來(lái)的測(cè)試設(shè)備來(lái)應(yīng)對(duì)未來(lái)的種種挑戰(zhàn)。
如需了解更多關(guān)于VST的信息,請(qǐng)?jiān)L問www.ni.com/vst/。


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