《電子技術(shù)應(yīng)用》
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A/D器件的發(fā)展
2016年微型機(jī)與應(yīng)用第18期
林朋飛,陳少昌
海軍工程大學(xué) 電子工程學(xué)院,湖北 武漢 430033
摘要: A/D器件是整個通信系統(tǒng)中的關(guān)鍵所在,也是整個系統(tǒng)的瓶頸,國內(nèi)外科研機(jī)構(gòu)一直投入大量的物力、人力、財力致力于A/D器件的研究。通過分析總結(jié)A/D器件的國內(nèi)外發(fā)展近況,總結(jié)得出了A/D器件的發(fā)展瓶頸,即采樣速率的不斷提高帶來的孔徑抖動問題以及ADC采樣電路固有的限制。必須解決瓶頸問題,才能設(shè)計實現(xiàn)更高性能的A/D器件。
Abstract:
Key words :

  林朋飛,陳少昌

  (海軍工程大學(xué) 電子工程學(xué)院,湖北 武漢 430033)

       摘要:A/D器件是整個通信系統(tǒng)中的關(guān)鍵所在,也是整個系統(tǒng)的瓶頸,國內(nèi)外科研機(jī)構(gòu)一直投入大量的物力、人力、財力致力于A/D器件的研究。通過分析總結(jié)A/D器件的國內(nèi)外發(fā)展近況,總結(jié)得出了A/D器件的發(fā)展瓶頸,即采樣速率的不斷提高帶來的孔徑抖動問題以及ADC采樣電路固有的限制。必須解決瓶頸問題,才能設(shè)計實現(xiàn)更高性能的A/D器件。

  關(guān)鍵詞:A/D器件;發(fā)展近況;瓶頸;孔徑抖動

  0引言

  為了降低通信系統(tǒng)的復(fù)雜性,實現(xiàn)結(jié)構(gòu)通用化、功能軟件化,早在1992年MITOLA J就提出了軟件無線電,而實現(xiàn)軟件無線電的關(guān)鍵步驟是把通信系統(tǒng)中的ADC和DAC向射頻端靠攏,最理想情況是天線接收的射頻信號直接進(jìn)入ADC[1]。隨著COMS集成電路工藝的迅速發(fā)展,相對于模擬電路來說,數(shù)字電路集成度高、抗干擾強(qiáng)、易于實現(xiàn)和成本低的優(yōu)勢越來越明顯。因此,數(shù)字電路常用來代替模擬電路以完成信號的處理。然而現(xiàn)實中信號大多是模擬的,比如溫度、聲音、圖像和壓力等模擬信號。因此就需要連接模擬信號與數(shù)字信號的橋梁——模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)和數(shù)模轉(zhuǎn)換器(DAC)。

  模數(shù)轉(zhuǎn)換器是將現(xiàn)實世界中的模擬信號轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號的接口器件,是聯(lián)系現(xiàn)實世界中模擬信號和數(shù)字信號的橋梁,是數(shù)字信號技術(shù)發(fā)展的基礎(chǔ)。隨著電子技術(shù)的迅猛發(fā)展以及大規(guī)模集成電路的廣泛應(yīng)用,ADC得到了廣泛的應(yīng)用。高速ADC被廣泛應(yīng)用于各個領(lǐng)域,如雷達(dá)、通信、電子對抗、測控、醫(yī)療、儀器儀表、高性能控制器以及數(shù)字通信系統(tǒng)等。但是ADC的發(fā)展速度仍不能滿足數(shù)字信號處理的需要。在現(xiàn)代通信系統(tǒng)中,為了提高系統(tǒng)性能,更好地接收處理信號,MITOLA J提出了軟件無線電(Software Radio)技術(shù),即在數(shù)字領(lǐng)域?qū)崿F(xiàn)對信號的處理。它要求ADC能夠?qū)? MHz~2 GHz的通信頻段進(jìn)行處理,并要求有效位數(shù)達(dá)到12~14 bit,這就對ADC提出了更高的要求[2]。高性能的ADC已經(jīng)成為現(xiàn)代數(shù)字信號處理系統(tǒng)中不可或缺的一部分,研究高速度、高分辨率、低功耗的ADC成為了新的發(fā)展趨勢,也是國內(nèi)外研究的熱點和難點,因此對ADC的應(yīng)用研究具有重要意義。

1A/D器件的國外發(fā)展情況

  1.1工業(yè)界的A/D器件

  在工業(yè)界中,全球知名A/D器件公司對于高精度、高速率A/D器件的設(shè)計研發(fā)已經(jīng)成熟。在美國德州儀器公司收購了國家半導(dǎo)體公司之后,德州儀器公司的中高精度、 超高速ADC體系已經(jīng)越發(fā)完善。例如其產(chǎn)品ADS1282HT就是一款分辨率為31 bit、采樣率為45 kS/s的用于地震監(jiān)測和能源開發(fā)的具有PGA的超高分辨率的∑-ΔADC;ADS1255則是一款24 bit、30 kS/s極低噪聲的∑-ΔADC,可以應(yīng)用于對噪聲要求極高的信號系統(tǒng)中。另一大芯片公司美信公司在高速率、高精度的A/D器件上也很成熟,比如MAX11905是一款20 bit、 1.6 MS/s、低功耗、全差分SAR ADC,帶有內(nèi)部基準(zhǔn)緩沖器,具有很好的動態(tài)和靜態(tài)性能,功率正比于吞吐率,在同類的產(chǎn)品中具有最佳指標(biāo)。MAX11905采用20引腳、4 mm×4 mm、TQFN封裝,可以工作在-40℃~+85℃的溫度范圍內(nèi)。此外,國外的Atmel、Linear、Rohm等芯片公司設(shè)計新的A/D器件都是走在技術(shù)的尖端[3]。

  1.2學(xué)術(shù)界的A/D器件

  超高速、中高精度的A/D器件也引起了眾多科研機(jī)構(gòu)的興趣,世界上諸多知名院校投入大量的科研人員和經(jīng)費進(jìn)行A/D的研發(fā)設(shè)計,以研究出更高性能的ADC。

  在2004年,美國的加州大學(xué)設(shè)計研發(fā)了一款轉(zhuǎn)換精度8 bit、轉(zhuǎn)換速率600 MS/s的折疊插值式A/D器件,該器件采用了0.18 μm CMOS工藝。在2008年,它們采用單通道并行的結(jié)構(gòu)實現(xiàn)了一款速率為2.5 GS/s、精度為8 bit的超高速A/D器件,該器件是在90 nm的CMOS工藝上實現(xiàn)的。同年,又設(shè)計實現(xiàn)一款1 GS/s、10 bit的流水線級聯(lián)折疊結(jié)構(gòu)的A/D器件,該器件采用了0.35 μm SiGeBiCMOS工藝。2011年,意大利大學(xué)帕維亞大學(xué)的Aldo Pena Perez在ISSCC(International Solid-State Circuits Conference)發(fā)表使用三階調(diào)制器的Sigma-Delta型低速超高精度的模數(shù)轉(zhuǎn)換器,在輸入信號的帶寬達(dá)到100 kHz時,實現(xiàn)了SNDR(Signal-to-Noise-and-Distortion Ratio)為84 dB,SFDR為96 dB、功耗僅為140 μW的性能,其采用的是0.18 μm CMOS工藝。同年,博通公司的Chen Chunying發(fā)表了VLSI Circuits上的一款高速度、高精度的流水線型模數(shù)轉(zhuǎn)換器,該ADC實現(xiàn)了12 bit、3 GS/s的性能指標(biāo),并且在輸入信號頻率達(dá)到1.2 GHz的時候SNDR仍高于50 dB,其采用了40 nm的CMOS數(shù)字工藝,整體功耗也僅僅只有500 mW[4]。2014年TI宣布推出最新的SAR型ADC,此次推出的ADS7042是業(yè)界功耗最低、尺寸最小的12 bit的SAR ADC,這款微型器件的全速功耗只有690 μW;而ADS8354系列則包含了業(yè)界最小的14 bit及16 bit的同步采樣SAR ADC。

2A/D器件的國內(nèi)發(fā)展情況

  對于模數(shù)轉(zhuǎn)換器的研究國內(nèi)起步比較晚,主要是一些科研院校在研究,發(fā)展比較落后,基礎(chǔ)非常薄弱,工藝也很落后,能夠投入到市場上的ADC產(chǎn)品也很少,而國外在高性能的ADC器件方面對中國進(jìn)行進(jìn)口限制,這極大影響了中國國防工業(yè)和電子通信的發(fā)展,這就要求我國必須設(shè)計自己的ADC。目前國內(nèi)軍用高性能模數(shù)轉(zhuǎn)換器主要由各大軍工集團(tuán)下的研究所設(shè)計。此外,各大高校也積極設(shè)計研發(fā)高性能A/D器件,包括中科院半導(dǎo)體所、復(fù)旦大學(xué)等院校,其中復(fù)旦大學(xué)的實力最強(qiáng)。

  從技術(shù)上來看,美國國家半導(dǎo)體擁有最先進(jìn)的CMOS工藝技術(shù),因此在技術(shù)上可以實現(xiàn)高速及其他類型的ADC。低功耗仍然是我們的優(yōu)勢所在,而且我們的售價也比其他對手更具有競爭力。

  目前國內(nèi)的主要研究成果有[5 6]:2006年,東南大學(xué)射頻與光電集成電路研究所設(shè)計實現(xiàn)了一款速度為1 GS/s、精度為6 bit的超高速ADC,其采用了0.18 μm的CMOS工藝。2009年,又在0.18μm CMOS工藝上設(shè)計實現(xiàn)了一款轉(zhuǎn)換速率為2.2 GS/s、精度6 bit的超高速ADC,這兩款A(yù)/D器件都是采用了全并行結(jié)構(gòu)。2010年,復(fù)旦大學(xué)設(shè)計實現(xiàn)了一款折疊插值結(jié)構(gòu)的ADC,其是在0.13μm工藝下實現(xiàn)的,轉(zhuǎn)換速率為1 GS/s,精度為8 bit。2010年中電集團(tuán)55所設(shè)計了一款轉(zhuǎn)換速度為1.4 GS/s、8 bit的超高速A/D器件。2011年模擬集成電路實驗室在半導(dǎo)體學(xué)報上公布一款采樣兩通道時間交錯的1.5 GS/s、8 bit的A/D芯片,該芯片是在0.18 μm CMOS工藝上實現(xiàn)的[7]。

3ADC的發(fā)展瓶頸

  模數(shù)轉(zhuǎn)換器是連接模擬信號和數(shù)字信號的橋梁,是現(xiàn)代數(shù)字社會不可或缺的重要組成部分。隨著ADC采樣速度的不斷增加,越來越復(fù)雜的功能得以實現(xiàn),例如認(rèn)知雷達(dá)、醫(yī)學(xué)影像和60 GHz無線通信等[8]。由于電磁譜競爭越來越激烈,美國國防部為了提高系統(tǒng)的靈活性和性能,希望ADC盡可能靠近天線。因此設(shè)計實現(xiàn)超高速ADC亟待解決,以滿足軍用軟件無線電、電子戰(zhàn)、雷達(dá)等需要高寬帶和高采樣率的軍事應(yīng)用的需求。

  目前的ADC具有應(yīng)用廣泛、成本低、技術(shù)成熟等優(yōu)點,但在高性能的模數(shù)轉(zhuǎn)換器領(lǐng)域,它存在著很多先天性的不足。當(dāng)信號的采樣速率大于2 MS/s時,由于孔徑抖動因素,會造成采樣時間的不確定性[9]。其規(guī)律是伴隨著采樣速率的增加,其精度就會下降。每增加一倍,就會下降大約1 bit,在過去的幾年里,在一定的采樣速率下,ADC的精度平均僅提高了1.5 bit。在當(dāng)下技術(shù)狀態(tài)下,設(shè)計實現(xiàn)的采樣速率最高的ADC的采樣速率是8 GS/s,而精度只有3 bit。在精度為8 bit的情況下,采樣速率為4 GS/s[10]。這基本已經(jīng)達(dá)到其理論極限,即使采樣速率可以更高,其精度也會下降。

  而且當(dāng)下的ADC能夠處理的信號的頻譜范圍有限,僅能夠?qū)σ恍〔糠诸l譜進(jìn)行轉(zhuǎn)換,很可能忽略通信、雷達(dá)和其他方面有問題的電磁頻譜信號。對于美國國防部來說,實現(xiàn)可進(jìn)行超高速采樣的ADC是當(dāng)務(wù)之需[11]。美國國防先期研究計劃局(DARPA)已經(jīng)通過“商用時標(biāo)陣列”(ATC)開發(fā)出超高速ADC,采樣速率可以達(dá)到60 GS/s,是現(xiàn)有商用ADC采樣速率的10倍,完全可以勝任探測分析30 GHz及以下頻譜范圍內(nèi)的任何信號,基本可以覆蓋現(xiàn)有電子戰(zhàn)通信和雷達(dá)等武器裝備的工作頻段[12]。該ADC在帶來驚人的采樣速率的同時,也給數(shù)據(jù)處理能力提出了更高的要求。ADC中每秒采樣所產(chǎn)生的數(shù)據(jù)量將達(dá)到1 Tbit,這將會導(dǎo)致巨大的功耗。此外ADC的信號處理能力也要達(dá)到同等量級,而且需要對數(shù)據(jù)量有效降級,從而能夠與相鄰的電子器件的信號處理能力相匹配,這就進(jìn)一步對制造工藝和設(shè)計提出了更高的要求。該ADC采用32 nm絕緣體Si工藝,在達(dá)到了功耗的要求下,達(dá)到了所需的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換能力[13]。

  但是隨著采樣速率的不斷提高,會出現(xiàn)很多無法按照預(yù)定次數(shù)采樣的問題,如孔徑抖動以及傳統(tǒng)ADC采樣保持電路的固有限制,已經(jīng)成為更高精度、更高速度的ADC的發(fā)展瓶頸。當(dāng)下主要是通過插入模擬下變頻,適當(dāng)降低被采樣信號的頻率以及采用帶通技術(shù)來適當(dāng)提高ADC的轉(zhuǎn)換速度,但是仍需要不斷探究更好的解決方法[14]。

  此外人們常常忽略一個ADC限制:信噪比的限制。ADC中的噪聲主要由三部分構(gòu)成:量化噪聲;帶內(nèi)噪聲或干擾;原來在帶外經(jīng)轉(zhuǎn)換后搬移到帶內(nèi)的噪聲或干擾,及混疊噪聲。這些噪聲在高信噪比時,可能對器件性能的影響并不大,但是在信噪比較低的時候就會嚴(yán)重影響器件的性能,這就會嚴(yán)重影響信號傳輸?shù)馁|(zhì)量。為了減少噪聲,通常會把信號盡量放大,但是不能超過ADC的模擬輸入信號的幅度,因為在接近ADC的滿刻度時,ADC的非線性失真最大,解決這一問題的措施是:增加ADC的動態(tài)范圍;提高ADC的轉(zhuǎn)換精度;采用新的A/D變換技術(shù),如∑-Δ技術(shù)[15]。

  這些瓶頸都是制約A/D器件性能提高的因素,這將是研究設(shè)計ADC的科研人員以后要著力解決的問題,只有解決好這個問題,才能設(shè)計實現(xiàn)更高性能的模數(shù)轉(zhuǎn)換器。

4結(jié)束語

  本文對A/D器件的國內(nèi)外發(fā)展情況進(jìn)行了分析總結(jié),并得出了A/D器件的發(fā)展瓶頸,即采樣速率的不斷提高帶來的孔徑抖動問題以及ADC采樣電路固有的限制??梢哉fA/D器件是整個通信系統(tǒng)中的關(guān)鍵所在,也是整個系統(tǒng)的瓶頸,必須投入大量的物力、人力、財力致力于A/D器件的研究。

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