《電子技術(shù)應(yīng)用》
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無(wú)芯片RFID多標(biāo)簽防碰撞研究
2015年微型機(jī)與應(yīng)用第23期
陳 江,鄒傳云,何 毅,胥 磊,趙 旋
(西南科技大學(xué) 信息工程學(xué)院,四川 綿陽(yáng) 621010)
摘要: 針對(duì)無(wú)芯片RFID多標(biāo)簽難以準(zhǔn)確識(shí)別的問題,提出一種改進(jìn)型矩陣束算法(Matrix Pencil Method,MPM)解決其碰撞問題。標(biāo)簽散射場(chǎng)信號(hào)存在早時(shí)和后時(shí)響應(yīng),散射場(chǎng)信號(hào)極點(diǎn)在早時(shí)響應(yīng)期間處于不穩(wěn)定狀態(tài),但在后時(shí)響應(yīng)期間趨于穩(wěn)定。算法利用散射場(chǎng)信號(hào)這一特性,在多標(biāo)簽散射場(chǎng)信號(hào)中應(yīng)用改進(jìn)型矩陣束算法,根據(jù)后時(shí)響應(yīng)開啟時(shí)間和極點(diǎn)穩(wěn)定程度的不同來(lái)區(qū)分各個(gè)標(biāo)簽。實(shí)驗(yàn)中采用多個(gè)方形開槽結(jié)構(gòu)標(biāo)簽來(lái)建立模型。仿真結(jié)果表明,該算法能夠區(qū)分各個(gè)無(wú)芯片RFID標(biāo)簽,基本滿足了對(duì)多標(biāo)簽檢測(cè)準(zhǔn)確性、穩(wěn)定性等方面的要求。
Abstract:
Key words :

  摘  要: 針對(duì)無(wú)芯片RFID多標(biāo)簽難以準(zhǔn)確識(shí)別的問題,提出一種改進(jìn)型矩陣束算法(Matrix Pencil Method,MPM)解決其碰撞問題。標(biāo)簽散射場(chǎng)信號(hào)存在早時(shí)和后時(shí)響應(yīng),散射場(chǎng)信號(hào)極點(diǎn)在早時(shí)響應(yīng)期間處于不穩(wěn)定狀態(tài),但在后時(shí)響應(yīng)期間趨于穩(wěn)定。算法利用散射場(chǎng)信號(hào)這一特性,在多標(biāo)簽散射場(chǎng)信號(hào)中應(yīng)用改進(jìn)型矩陣束算法,根據(jù)后時(shí)響應(yīng)開啟時(shí)間和極點(diǎn)穩(wěn)定程度的不同來(lái)區(qū)分各個(gè)標(biāo)簽。實(shí)驗(yàn)中采用多個(gè)方形開槽結(jié)構(gòu)標(biāo)簽來(lái)建立模型。仿真結(jié)果表明,該算法能夠區(qū)分各個(gè)無(wú)芯片RFID標(biāo)簽,基本滿足了對(duì)多標(biāo)簽檢測(cè)準(zhǔn)確性、穩(wěn)定性等方面的要求。

  關(guān)鍵詞: 無(wú)芯片RFID;防碰撞矩陣束算法(MPM);電子標(biāo)簽;散射場(chǎng)

0 引言

  射頻識(shí)別技術(shù)(RFID)能夠?qū)崿F(xiàn)物與物之間無(wú)接觸式信息傳遞,即閱讀器通過(guò)天線與電子標(biāo)簽進(jìn)行數(shù)據(jù)交互。目前廣泛采用無(wú)源有芯或者有源有芯電子標(biāo)簽,但其成本較高,無(wú)芯片RFID標(biāo)簽應(yīng)運(yùn)而生。因目前RFID防碰撞算法主要針對(duì)有芯片標(biāo)簽[1-3],均基于閱讀器主動(dòng)控制標(biāo)簽休眠,而無(wú)芯片RFID標(biāo)簽內(nèi)無(wú)IC芯片,只是擁有特定材質(zhì)有限大小的結(jié)構(gòu),因此大部分RFID防碰撞算法在無(wú)芯片RFID的應(yīng)用中失效。本文利用Carl E. Baum提出的極點(diǎn)展開法(the Singularity Expansion Method,SEM)[4-5]來(lái)研究標(biāo)簽散射場(chǎng)特性[6-8],進(jìn)一步應(yīng)用改進(jìn)型矩陣束算法解決多個(gè)標(biāo)簽防碰撞問題,分析算法在無(wú)芯片RFID多標(biāo)簽識(shí)別中的有效性。

1 相關(guān)理論

  1.1 散射電磁場(chǎng)的SEM建模

  1971年Carl E. Baum將傳統(tǒng)電路理論中用留數(shù)定理求解瞬態(tài)響應(yīng)的方法推廣到瞬態(tài)電磁場(chǎng)問題處理中,提出了SEM,其理論表明電磁波照射金屬導(dǎo)體時(shí),瞬態(tài)響應(yīng)后期可以被看成一系列衰減復(fù)指數(shù)和的形式:

  [T{I8{$E4_`))OQ@T2%L83S.png

  其中es(t)為后向散射的時(shí)域信號(hào),M為極點(diǎn)個(gè)數(shù),Ri是信號(hào)的留數(shù),si為信號(hào)的復(fù)極點(diǎn),一般取si=?琢i+jwi(?琢i取負(fù)數(shù),稱為阻尼因子或衰減因子;wi取正數(shù),為自然諧振角頻率)。由于散射信號(hào)是實(shí)數(shù),所以極點(diǎn)總是以共軛對(duì)的形式存在。

  同樣,多標(biāo)簽散射場(chǎng)也具有相同特性,若查詢信號(hào)頻帶覆蓋了多個(gè)標(biāo)簽的自然諧振頻率,由標(biāo)簽感應(yīng)產(chǎn)生的后向散射回波信號(hào)電場(chǎng)es時(shí)域表示為:

  NK%J7[G[KV$({DDURYPN}AX.jpg

  式(2)和(3)中,r和t分別表示檢測(cè)回波信號(hào)的位置和時(shí)間,M為所查詢標(biāo)簽個(gè)數(shù),em(Em)為第m個(gè)標(biāo)簽的早時(shí)響應(yīng),U(t)為單位階躍函數(shù),tm和Nm分別為第m個(gè)標(biāo)簽的后時(shí)響應(yīng)開啟時(shí)間和極點(diǎn)共軛對(duì)數(shù)目,第m個(gè)標(biāo)簽的第n個(gè)復(fù)極點(diǎn)和留數(shù)分別為sm,n和Rm,n。

  在復(fù)頻域中,信號(hào)的特征通過(guò)極點(diǎn)和留數(shù)來(lái)表征,而極點(diǎn)和留數(shù)的大小只與金屬導(dǎo)體的形狀有關(guān),與激勵(lì)源無(wú)關(guān)。所以標(biāo)簽結(jié)構(gòu)與極點(diǎn)呈現(xiàn)出一一對(duì)應(yīng)關(guān)系,標(biāo)簽的檢測(cè)與識(shí)別的關(guān)鍵技術(shù)之一是從es(t)中提取信號(hào)的極點(diǎn)。

  1.2 改進(jìn)矩陣束算法(MPM)

  目前,極點(diǎn)提取算法有多種,比如Prony方法、矩陣束算法[9-12]、短時(shí)矩陣束算法[13]等。實(shí)際情況中,Prony算法抗噪性能差,矩陣束算法采用內(nèi)積形式研究極點(diǎn)提取問題,使抗噪能力有所提高。

001.jpg

  在多標(biāo)簽防碰撞算法中,對(duì)傳統(tǒng)矩陣束算法進(jìn)行以下改進(jìn):如圖1所示,在散射場(chǎng)時(shí)域信號(hào)es(r,t)中加一寬度為Tw的虛擬窗口,窗口每次滑動(dòng)?駐t,同時(shí)應(yīng)用一次矩陣束算法(MPM)計(jì)算極點(diǎn)和留數(shù),直到窗口內(nèi)無(wú)數(shù)據(jù)。由于早時(shí)響應(yīng)的存在,早時(shí)期間極點(diǎn)處于不穩(wěn)定狀態(tài),而后時(shí)響應(yīng)期間極點(diǎn)會(huì)保持穩(wěn)定,根據(jù)穩(wěn)定的極點(diǎn)識(shí)別出標(biāo)簽。

2 多標(biāo)簽防碰撞設(shè)計(jì)及仿真結(jié)果

  2.1防碰撞標(biāo)簽結(jié)構(gòu)的建立

002.jpg

  為了研究無(wú)芯片RFID多標(biāo)簽防碰撞相關(guān)問題,利用方形開槽結(jié)構(gòu)標(biāo)簽建立仿真模型,如圖2所示(尺寸單位:mm)。槽的長(zhǎng)度決定諧振頻率和衰減因子,標(biāo)簽1尺寸:L=45,H=10,L1=27,L2=30,L3=33,w=0.2;標(biāo)簽2尺寸:L=30,H=10,L1=18,L2=20,L3=24,w=0.2。

003.jpg

  實(shí)驗(yàn)采用電磁仿真軟件FEKO 5.5分別對(duì)標(biāo)簽1標(biāo)簽2進(jìn)行仿真,得到其在50 MHz~10 GHz頻域散射場(chǎng)信號(hào)數(shù)據(jù),采樣數(shù)據(jù)點(diǎn)數(shù)均為1 024。如圖3所示,標(biāo)簽1散射場(chǎng)極點(diǎn)分布大約在5.2 GHz、5.9 GHz、6.9 GHz,標(biāo)簽2散射場(chǎng)極點(diǎn)分布大約在3.95 GHz、4.2 GHz、4.7 GHz。最后將標(biāo)簽1和標(biāo)簽2同時(shí)進(jìn)行仿真,并設(shè)置兩標(biāo)簽間隔距離為2 m。

  2.2 無(wú)芯片RFID標(biāo)簽防碰撞的實(shí)現(xiàn)

  2.2.1 改進(jìn)型矩陣束算法參數(shù)選擇

  利用改進(jìn)型矩陣束算法提取散射場(chǎng)信號(hào)極點(diǎn)時(shí),需要選擇合適的窗口寬度Tw和每次滑動(dòng)的寬度@KMBMAS)`4LSDHG55A3EE)B.jpgt。窗口寬度Tw的選擇可以根據(jù)采樣點(diǎn)數(shù)N和時(shí)間總長(zhǎng)T來(lái)決定,即Tw=T/N,此處Tw取0.04 ns較合適。經(jīng)過(guò)多次實(shí)驗(yàn),一般@KMBMAS)`4LSDHG55A3EE)B.jpgt≤Tw時(shí),極點(diǎn)提取的效果比較理想,此處@KMBMAS)`4LSDHG55A3EE)B.jpgt取0.01 ns。窗口寬度Tw和滑動(dòng)寬度@KMBMAS)`4LSDHG55A3EE)B.jpgt的選取直接影響到極點(diǎn)提取的精度,也將會(huì)影響多標(biāo)簽識(shí)別的準(zhǔn)確性。

  2.2.2 無(wú)芯片RFID多標(biāo)簽的識(shí)別

004.jpg

  標(biāo)簽結(jié)構(gòu)如圖2所示的標(biāo)簽1和標(biāo)簽2的混合散射場(chǎng)時(shí)域信號(hào)如圖4所示,應(yīng)用改進(jìn)型矩陣束算法提取其極點(diǎn),獲得極點(diǎn)的虛部與時(shí)間的關(guān)系(即諧振頻率與時(shí)間的關(guān)系),如圖5所示。

005.jpg

  從圖5中可以看出,早時(shí)響應(yīng)期間(t<Ton1和7 ns<t<Ton2)散射場(chǎng)信號(hào)極點(diǎn)不穩(wěn)定,后時(shí)響應(yīng)期間極點(diǎn)趨于穩(wěn)定,同時(shí)從諧振頻率與時(shí)間關(guān)系圖中可以獲知:標(biāo)簽1的諧振頻率為5.2 GHz、5.9 GHz、6.9 GHz(圖中Ton1<t<6 ns期間);標(biāo)簽2的諧振頻率為3.95 GHz、4.2 GHz、4.7 GHz (圖中t>Ton2期間)。由此可知,根據(jù)標(biāo)簽后時(shí)響應(yīng)開啟時(shí)間Ton的不同,標(biāo)簽可以被準(zhǔn)確區(qū)分,解決了后時(shí)響應(yīng)開啟時(shí)間不同的多標(biāo)簽防碰撞問題。

3 結(jié)束語(yǔ)

  本文將矩陣束算法進(jìn)行改進(jìn)并應(yīng)用于無(wú)芯片RFID多標(biāo)簽防碰撞的研究中,在研究防碰撞的同時(shí)找出了標(biāo)簽的后時(shí)響應(yīng)開啟時(shí)間,根據(jù)各個(gè)標(biāo)簽散射場(chǎng)后時(shí)響應(yīng)開啟時(shí)間的不同,從標(biāo)簽散射場(chǎng)的諧振頻率和時(shí)間關(guān)系中,準(zhǔn)確地識(shí)別各個(gè)標(biāo)簽。此種方法對(duì)無(wú)芯片標(biāo)簽的識(shí)別以及多標(biāo)簽防碰撞有一定參考價(jià)值。但是此種方法有一定局限性,即針對(duì)各個(gè)標(biāo)簽距離閱讀器距離幾乎相等(后向散射開啟時(shí)間近似相同)時(shí),標(biāo)簽將無(wú)法被準(zhǔn)確識(shí)別。

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