《電子技術(shù)應(yīng)用》
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2×4 MIMO-OFDM系統(tǒng)中 K-Best檢測(cè)器的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)
2014年電子技術(shù)應(yīng)用第11期
房漢林,葛利嘉,朱國(guó)慶
(重慶通信學(xué)院 應(yīng)急通信重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室,重慶400035)
摘要: 基于貝爾實(shí)驗(yàn)室V-BLAST結(jié)構(gòu)構(gòu)建了2×4 MIMO-OFDM系統(tǒng)模型,并確定了該模型下K-Best算法的K值。之后對(duì)K-Best檢測(cè)器進(jìn)行了硬件架構(gòu)設(shè)計(jì),采用Xilinx Virtex-5芯片對(duì)所設(shè)計(jì)檢測(cè)器加以實(shí)現(xiàn),并給出檢測(cè)器資源消耗和時(shí)鐘頻率等性能指標(biāo),最后通過仿真驗(yàn)證檢測(cè)器正確性。
中圖分類號(hào): TN911.72
文獻(xiàn)標(biāo)識(shí)碼: A
文章編號(hào): 0258-7998(2014)11-0098-04
Design and implementation of K-Best detector in 2×4 MIMO-OFDM system
Fang Hanlin,Ge Lijia,Zhu Guoqing
Chongqing Key Laboratory of Emergency Communication,Chongqing Communication Institute,Chongqing 400035,China
Abstract: This paper builds a 2×4 MIMO-OFDM system which is based on the V-BLAST structure, and determines the K value of K-Best algorithm in this system. Then the K-Best detector has been designed and accomplished by the Xilinx Virtex-5 chip. The resource consumption and the clock frequency of the detector is provided. Finally,the correctness of the detector is validated by the simulation of the performance.
Key words : MIMO-OFDM;K-Best algorithm;complexity;FPGA

0 引言

  MIMO-OFDM系統(tǒng)接收端檢測(cè)算法中,最大似然檢測(cè)(Maximum Likelihood,ML)算法具有最優(yōu)檢測(cè)性能,但其復(fù)雜度會(huì)隨著天線數(shù)量和調(diào)制階數(shù)增加呈指數(shù)增長(zhǎng)。K-Best算法[1]克服了ML算法復(fù)雜度較高的缺點(diǎn),并且能夠取得與ML算法相似的誤比特率(Bit Error Rate,BER)性能,因而受到廣泛關(guān)注。

  目前已實(shí)現(xiàn)的K-Best檢測(cè)器主要分為專用集成電路(Application Specific Integrated Circuit,ASIC)[2-3]和現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列(Field Programmable Gate Array,FPGA)[4]兩類。其中:參考文獻(xiàn)[2]設(shè)計(jì)并實(shí)現(xiàn)吞吐率達(dá)到424 Mb/s的K-Best檢測(cè)器。參考文獻(xiàn)[3]中的半徑自適應(yīng)K-Best算法結(jié)合了深度球形解碼和寬度球形解碼的特點(diǎn),以較低的功耗和硬件資源消耗達(dá)到了252 Mb/s的數(shù)據(jù)吞吐率。而后參考文獻(xiàn)[4]改進(jìn)了K-Best算法對(duì)路徑度量的排序方法,并基于FPGA實(shí)現(xiàn)了K+-Best檢測(cè)器,其數(shù)據(jù)吞吐率達(dá)到455 Mb/s。上述K-Best檢測(cè)器均用于4×4天線系統(tǒng)中,并需設(shè)置較大的K值以獲得較高的BER性能。

  本文首先介紹了K-Best算法基本原理,然后在構(gòu)建的2×4(2根發(fā)送天線、4根接收天線)MIMO-OFDM系統(tǒng)中仿真確定了K-Best算法中的K值,之后對(duì)K-Best檢測(cè)器進(jìn)行了硬件架構(gòu)設(shè)計(jì),最后采用FPGA對(duì)所設(shè)計(jì)檢測(cè)器進(jìn)行編程實(shí)現(xiàn),給出檢測(cè)器資源消耗和時(shí)鐘頻率等性能指標(biāo),并通過仿真驗(yàn)證了檢測(cè)器的正確性。

1 K-Best算法分析

  1.1 算法原理

  假設(shè)在一個(gè)MIMO-OFDM系統(tǒng)中配置M根發(fā)送天線和N根接收天線(N≥M),則該系統(tǒng)的信號(hào)模型可以表示為:

  y=Hs+n(1)

  其中,s為M維發(fā)送信號(hào),y為N維接收信號(hào),n為N維加性高斯白噪聲。信道矩陣H是復(fù)數(shù)域的N×M維矩陣。為避免復(fù)數(shù)運(yùn)算帶來額外硬件開銷,可將信號(hào)模型(1)實(shí)數(shù)化分解:

  R(y)I(y)=R(H)  I(H)I(H)  R(H)R(s)I(s)+R(n)I(n)(2)

  其中,R(?駐)和I(?駐)分別表示復(fù)數(shù)?駐的實(shí)部與虛部。實(shí)數(shù)化后的信號(hào)模型由式(3)表示:

  3.png

  然后對(duì)信道矩陣實(shí)施QR分解,即H=QR,采用最大似然準(zhǔn)則求解(3)可得:

  4.png

  其中,Q為2N×2N維正交矩陣;R為2N×2M維矩陣;y=QTy為2N維向量;為實(shí)數(shù)化后的星座點(diǎn)集合,例如采用4QAM調(diào)制時(shí),星座集合為{-1,1}。

001.jpg

  根據(jù)式(4)可得,K-Best算法的檢測(cè)過程可以近似為圖1所示的樹形結(jié)構(gòu)。定義參數(shù)K為每層保留節(jié)點(diǎn)個(gè)數(shù),檢測(cè)過程從第2M層開始,各層需計(jì)算歐式距離增量(INC),并與上一層累積歐式距離(PED)相加得到當(dāng)前層的PED,然后將PED進(jìn)行排序判決,保留其中較小的K條PED和其對(duì)應(yīng)的K個(gè)節(jié)點(diǎn),刪除廢棄節(jié)點(diǎn)的所有信息。當(dāng)檢測(cè)到最后一層時(shí),從保留的K條PED再次選出最小累積歐式距離,并將其對(duì)應(yīng)的節(jié)點(diǎn)作為檢測(cè)結(jié)果??梢钥闯觯琄-Best算法中的K值對(duì)算法最終的BER性能和復(fù)雜度起著關(guān)鍵性作用。

  1.2 K-Best算法K值的確定

  貝爾實(shí)驗(yàn)室提出的垂直分層空時(shí)結(jié)構(gòu)(Vertical-BLAST,V-BLAST)是MIMO空間復(fù)用的典型代表[5],具有時(shí)延小、處理簡(jiǎn)單等特點(diǎn)。本文基于V-BLAST構(gòu)建的2×4 MIMO-OFDM系統(tǒng)模型如圖2所示。

002.jpg

  圖3為在上述系統(tǒng)中對(duì)K-Best算法的BER性能仿真結(jié)果。從圖中可以看出,當(dāng)收發(fā)天線為4×4且分別設(shè)置K=1、2時(shí),算法BER性能較差;只有當(dāng)K=16時(shí),算法BER性能才與ML算法性能一致(此時(shí)已遍歷整個(gè)樹形結(jié)構(gòu)中的所有節(jié)點(diǎn)),故該復(fù)用方案下K值大小對(duì)算法BER性能影響很大。而當(dāng)收發(fā)天線數(shù)為2×4,則只有K=1時(shí)算法BER性能較差,K=2時(shí)獲得的BER性能與K=10和ML算法性能基本一致,故在后續(xù)的K-Best檢測(cè)器FPGA實(shí)現(xiàn)中將K值設(shè)為2。

2 K-Best算法的硬件實(shí)現(xiàn)

  2.1 QR分解模塊


004.jpg

  QR分解是K-Best檢測(cè)算法的基礎(chǔ),采用CORDIC運(yùn)算的脈動(dòng)陣列是實(shí)現(xiàn)QR分解的常用結(jié)構(gòu)[6]。圖4是8×4信道矩陣QR分解結(jié)構(gòu),其中圓形是邊界單元,正方形是內(nèi)部單元,邊界單元工作于CORDIC運(yùn)算向量模式,將信道元素組成的向量旋轉(zhuǎn)至x軸,實(shí)現(xiàn)元素消零并向右輸出旋轉(zhuǎn)角度,內(nèi)部單元工作于CORDIC運(yùn)算旋轉(zhuǎn)模式,根據(jù)輸入角度對(duì)向量進(jìn)行旋轉(zhuǎn),并向下輸出旋轉(zhuǎn)后向量虛部和向右傳遞輸入角度。左邊4×4維上三角陣列用于計(jì)算R矩陣,其輸入是列延時(shí)后的信道矩陣;右邊的4×8維陣列用于計(jì)算Q矩陣,其輸入是列延時(shí)后的單位陣,輸出的4×8維矩陣經(jīng)轉(zhuǎn)置后得到Q矩陣。

  2.2 乘加陣列模塊

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  乘加陣列結(jié)構(gòu)如圖5所示,由2.1中QR分解得到的QT矩陣作為乘加陣列上端輸入,在T1~T4時(shí)刻分別輸入QT矩陣的1~4行(x=1,2,3,4),接收信號(hào)作為乘加陣列左端輸入,在T1~T4時(shí)刻始終輸入1~8。經(jīng)過乘加陣列,在T1~T4分別輸出1~4。

  2.3 K-Best樹形檢測(cè)模塊

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  K-Best樹形檢測(cè)模塊如圖6所示,其中PEDi,1~PEDi,K表示第i層K條最小PED,s4~s1表示第4層到第1層的檢測(cè)結(jié)果。由于在收發(fā)端配置2×4的天線,故K-Best檢測(cè)的層數(shù)總共為4層。當(dāng)調(diào)制階數(shù)為M時(shí),每個(gè)父節(jié)點(diǎn)有個(gè)子節(jié)點(diǎn),故當(dāng)K-Best中K≥時(shí)第4層只需進(jìn)行INC計(jì)算,無需進(jìn)行排序判決。其他3層均由干涉選擇單元、累積歐氏距離增量計(jì)算單元(Distance Calculation Unit,DCU)與排序選擇單元(Sorting and Select Unit,SSU)構(gòu)成。

  待選生成:由式(4)可知K-Best算法在每層均需計(jì)算多次TI7L2O)R}_]61D4N0ERY0%O.jpg,重復(fù)計(jì)算將導(dǎo)致過大的硬件資源消耗。因此在設(shè)計(jì)中采用待選生成結(jié)構(gòu)將避免TI7L2O)R}_]61D4N0ERY0%O.jpg和Ri的反復(fù)計(jì)算,節(jié)省了硬件資源。待選集合在每層計(jì)算INC之前生成,由上層確定的j作為選擇器輸出各Rij,并與本層i擴(kuò)展后得到的±Rii共同送入該層INC計(jì)算中。

  干涉選擇:經(jīng)上層PED排序判決確定的j送入干涉選擇單元,對(duì)已生成的Rij待選集合進(jìn)行選擇,經(jīng)加法器后的輸出結(jié)果與i共同確定式(4)中TI7L2O)R}_]61D4N0ERY0%O.jpg。當(dāng)調(diào)制階數(shù)為M時(shí),TI7L2O)R}_]61D4N0ERY0%O.jpg的計(jì)算次數(shù)達(dá)到[A{K{W8GT_Z$`4]R54SZTBY.png,引入待選集合和干涉選擇模塊后,每層TI7L2O)R}_]61D4N0ERY0%O.jpg的計(jì)算次數(shù)減少到K次[7],調(diào)制階數(shù)越高時(shí)計(jì)算次數(shù)減少得越明顯。

  DCU單元:在式(4)中,每層[A{K{W8GT_Z$`4]R54SZTBY.png條INC是由TI7L2O)R}_]61D4N0ERY0%O.jpg和±Rii進(jìn)行減法操作后模平方得到的。然后與上層保留的K條PED對(duì)應(yīng)相加得到本層的PED,之后將本層的PED送入SSU單元進(jìn)行排序選擇。

  SSU單元:DCU單元中輸出的[A{K{W8GT_Z$`4]R54SZTBY.png條PED送入SSU單元進(jìn)行排序選擇操作,選出歐氏距離較小PED對(duì)應(yīng)的K個(gè)節(jié)點(diǎn)作為本層的輸出結(jié)果。排序選擇采用“冒泡排序法”,對(duì)于[A{K{W8GT_Z$`4]R54SZTBY.png條PED,需要K路2K級(jí)的排序選擇電路來進(jìn)行判決。

3 FPGA實(shí)現(xiàn)結(jié)果

  本設(shè)計(jì)利用Xilinx Virtex-5(XC5VSX50T)芯片對(duì)K-Best檢測(cè)器進(jìn)行FPGA實(shí)現(xiàn)。調(diào)制方式為4QAM,設(shè)置K=2。表1給出了檢測(cè)器硬件資源消耗和時(shí)鐘頻率的性能指標(biāo)。

007.jpg

  為了驗(yàn)證所設(shè)計(jì)K-Best信號(hào)檢測(cè)器是否能夠?qū)崿F(xiàn)對(duì)信號(hào)正確的檢測(cè),將使用MATLAB、ISE和Modelsim軟件對(duì)檢測(cè)器進(jìn)行行為仿真(Behavior Simulation)和BER性能仿真驗(yàn)證。具體仿真參數(shù)如表2所示。

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  首先將MATLAB中實(shí)數(shù)化后的星座點(diǎn)集合?贅、信道矩陣和接收信號(hào)存為Modelsim可讀取的文件(由于輸入數(shù)據(jù)需為定點(diǎn)數(shù)??紤]到溢出情況,將位寬設(shè)置為16位,首位為符號(hào)位,這里將MATLAB中的數(shù)據(jù)放大212倍,放大倍數(shù)越大,最終的精度越高,但占用的資源也就越多)。經(jīng)ISE調(diào)用Modelsim讀取所存文件,然后運(yùn)行Modelsim對(duì)檢測(cè)器進(jìn)行行為仿真。整個(gè)過程完成了8×4信道矩陣的QR分解、矩陣Q與接收信號(hào)的乘累加、EDI和CED的計(jì)算以及CED的排序選擇。數(shù)據(jù)輸入端口分別為dr、dq、dq2、rec、s41和s42。其中dr用于存放8×4信道矩陣,dq和dq2存放8×8的單位陣,rec存放接收信號(hào),s41和s42分別存放4QAM調(diào)制實(shí)數(shù)化后的星座點(diǎn)-1和1,計(jì)算完成后最終的輸出結(jié)果為s4~s1(輸出結(jié)果位寬為2 bit,首位為符號(hào)位)。


  接下來將s4~s1存為MATLAB可讀取文件(由于前面將數(shù)據(jù)放大212倍,故這里需要縮小相應(yīng)的倍數(shù)),與直接用MATLAB進(jìn)行K-Best信號(hào)檢測(cè)的結(jié)果共同轉(zhuǎn)換為復(fù)數(shù),然后進(jìn)行星座逆映射,并與發(fā)送數(shù)據(jù)進(jìn)行序列比較,最終得到如圖7所示的BER性能比較圖。通過對(duì)比可以看出,二者的BER性能基本一致,這也反映了所設(shè)計(jì)檢測(cè)器的正確性。

010.jpg

4 結(jié)束語

  本文基于V-BLAST結(jié)構(gòu)構(gòu)建了2×4 MIMO-OFDM系統(tǒng)模型,并在該系統(tǒng)下對(duì)K-Best算法進(jìn)行仿真,確定了算法的主要參數(shù);而后根據(jù)確定的參數(shù)設(shè)計(jì)了K-Best檢測(cè)器,介紹了檢測(cè)器的各個(gè)模塊硬件架構(gòu),并采用Xilinx Virtex-5芯片對(duì)檢測(cè)器加以實(shí)現(xiàn),給出檢測(cè)器的RTL結(jié)構(gòu)圖、資源消耗和時(shí)鐘頻率等性能指標(biāo);最后文章通過MATLAB、ISE和Modelsim聯(lián)合仿真驗(yàn)證了K-Best檢測(cè)器的BER性能。

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