《電子技術(shù)應(yīng)用》
您所在的位置:首頁(yè) > 嵌入式技術(shù) > 業(yè)界動(dòng)態(tài) > 嵌入式系統(tǒng)調(diào)試挑戰(zhàn)

嵌入式系統(tǒng)調(diào)試挑戰(zhàn)

2008-03-19
作者:凱思.諾頓

摘 要:消費(fèi)者及客戶對(duì)市場(chǎng)上出售的產(chǎn)品性能要求越來(lái)越高,因而,嵌入式系統(tǒng)" title="嵌入式系統(tǒng)">嵌入式系統(tǒng)微處理器(SoC)中有多個(gè)同構(gòu)核(如多個(gè)ARM核)或多個(gè)異構(gòu)" title="異構(gòu)">異構(gòu)核(如兼有ARM核和DSP核)的設(shè)計(jì)非常普遍,實(shí)時(shí)操作系統(tǒng)" title="實(shí)時(shí)操作系統(tǒng)">實(shí)時(shí)操作系統(tǒng)(RTOS)或平臺(tái)操作系統(tǒng)(OS)的應(yīng)用也變得常見(jiàn)。系統(tǒng)調(diào)試" title="系統(tǒng)調(diào)試">系統(tǒng)調(diào)試環(huán)境的日漸復(fù)雜化,對(duì)嵌入式系統(tǒng)調(diào)試帶來(lái)了極大的挑戰(zhàn)。本文旨在說(shuō)明如何迎接上述挑戰(zhàn),并對(duì)ARM最新的RealView調(diào)試工具" title="調(diào)試工具">調(diào)試工具特性進(jìn)行介紹。

?

嵌入式系統(tǒng)調(diào)試挑戰(zhàn).pdf

本站內(nèi)容除特別聲明的原創(chuàng)文章之外,轉(zhuǎn)載內(nèi)容只為傳遞更多信息,并不代表本網(wǎng)站贊同其觀點(diǎn)。轉(zhuǎn)載的所有的文章、圖片、音/視頻文件等資料的版權(quán)歸版權(quán)所有權(quán)人所有。本站采用的非本站原創(chuàng)文章及圖片等內(nèi)容無(wú)法一一聯(lián)系確認(rèn)版權(quán)者。如涉及作品內(nèi)容、版權(quán)和其它問(wèn)題,請(qǐng)及時(shí)通過(guò)電子郵件或電話通知我們,以便迅速采取適當(dāng)措施,避免給雙方造成不必要的經(jīng)濟(jì)損失。聯(lián)系電話:010-82306118;郵箱:aet@chinaaet.com。