《電子技術(shù)應(yīng)用》
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探討影響時(shí)間間隔精度的因素
力科公司
摘要: WaveMaster系列示波器的時(shí)間間隔測量精度采用下述公式表示:±((0.06 * 采樣間隔) +(1 ppm的測量間隔))。這一公式反映了數(shù)字示波器上時(shí)間測量不確定性的兩個(gè)主要來源。第二個(gè)部分(1 ppm的測量間隔)表示由于示波器時(shí)基導(dǎo)致的不確定性。WaveMaster系列示波器采用1 ppm的時(shí)基,這是當(dāng)前精度最高的示波器時(shí)基。這個(gè)部分影響著較長的時(shí)間間隔。例如,如果測量的是1 GHz時(shí)鐘(1 ns周期),那么由于時(shí)基導(dǎo)致的不確定性是1 fs。
Abstract:
Key words :

WaveMaster系列示波器時(shí)間間隔測量精度采用下述公式表示:±((0.06 * 采樣間隔) +(1 ppm的測量間隔))。這一公式反映了數(shù)字示波器上時(shí)間測量不確定性的兩個(gè)主要來源。第二個(gè)部分(1 ppm的測量間隔)表示由于示波器時(shí)基導(dǎo)致的不確定性。WaveMaster系列示波器采用1 ppm的時(shí)基,這是當(dāng)前精度最高的示波器時(shí)基。這個(gè)部分影響著較長的時(shí)間間隔。例如,如果測量的是1 GHz時(shí)鐘(1 ns周期),那么由于時(shí)基導(dǎo)致的不確定性是1 fs。

 

時(shí)間間隔精度的第一個(gè)部分(0.06 * 采樣間隔)與示波器的測量內(nèi)插器和時(shí)基短期穩(wěn)定性有關(guān)。在力科示波器中,時(shí)基對不確定性的影響非常小。內(nèi)插器是測量信號越過一定門限值的時(shí)間位置的軟件組件。鑒于力科提供了20 GHz的最大采樣率,因此在大多數(shù)情況下必需使用內(nèi)插。在任何一定邊沿上存在三個(gè)或三個(gè)以下的樣點(diǎn)時(shí),示波器中會(huì)自動(dòng)執(zhí)行內(nèi)插。在整個(gè)波形上不執(zhí)行內(nèi)插。但是,在測量中只內(nèi)插越過門限周圍的點(diǎn)。為找到越過點(diǎn),我們使用立方內(nèi)插,然后線性擬合到內(nèi)插的數(shù)據(jù),如圖1所示。

 

內(nèi)插精度取決于許多因素。主要因素是信號的跳變時(shí)間、采樣率、垂直噪聲和有效垂直分辨率。圖2是通過使用簡單的模型,利用8位數(shù)字化器以20 GS/s采樣率對300 ps邊沿信號的典型計(jì)算方式。信號幅度是全標(biāo)的80%。垂直分辨率和時(shí)間分辨率之間的關(guān)系是:

Dt = Dv/ dv/dt

 

其中:

Dt 時(shí)間不確定性

Dv 幅度不確定性

dv/dt 跳變沿

 

對1 l.s.b.(1/256的全標(biāo))的垂直不確定性,以及在6個(gè)樣點(diǎn)中0.8的全標(biāo)的跳變沿(300 ps @ 50 ps/樣點(diǎn)),等效時(shí)間不確定性為:

 

Dt = (1/256) / (0.8/6)

= 0.03個(gè)采樣周期

 

由于采樣周期是50 ps,這一測量的不確定性是1.5 ps。這種時(shí)間不確定性適用于任何一項(xiàng)測量。

 

大多數(shù)這類測量不是以孤立方式進(jìn)行的。多個(gè)測量允許用戶研究測得值變化。與所有測量中一樣,在多項(xiàng)測量中,測得值的中間值的不確定性會(huì)下降。對高斯分布,測量不確定性會(huì)以測量數(shù)量的平方根下降。因此,重復(fù)測量100次可以使采樣中間值的精度提高10倍。圖3顯示了在700 MHz方波上進(jìn)行20套period@ level參數(shù)測量的結(jié)果。每套測量都在包括35,000個(gè)周期的采集上執(zhí)行。這會(huì)把指定的不確定性降低到大約16 fs。測量與頻率計(jì)數(shù)器相關(guān),頻率計(jì)數(shù)器從同一個(gè)軸上繪制曲線。注意,示波器測量很好地位于歸一化后的指標(biāo)極限內(nèi),與計(jì)數(shù)器測量結(jié)果高度一致。注意,圖上的水平標(biāo)度是每格20 fs。

1 測量內(nèi)插的圖形視圖,顯示怎樣在采樣的波形上確定越過時(shí)間(TOC)。

[圖示內(nèi)容:]

threshold: 門限

1. locate points bracketing threshold: 1. 定位越過門限的點(diǎn)

2. add new “cubicity” interpolated points: 增加新的”立方”內(nèi)插點(diǎn)

3. estimate TOC “linearity”: 估算TOC“線性度”

 

使用采樣數(shù)據(jù)不會(huì)把定時(shí)測量精度限制在采樣周期中??梢砸云っ爰壍姆直媛试谡_采樣的波形上進(jìn)行定時(shí)測量,并支持直到幾十飛秒的中間值統(tǒng)計(jì)精度。

2 簡單的模型,表明垂直不確定性與定時(shí)不確定性的映射關(guān)系。

[圖示內(nèi)容:]

Measurement Threshold: 測量門限

Sample: 樣點(diǎn)

3 20次采集中進(jìn)行period @ level測量的可重復(fù)性。

[圖示內(nèi)容:]

Accuracy of P@Level For 700 MHz Sqaurewave: 700 MHz方波的P@Level精度

Counter Reading: 計(jì)數(shù)器讀數(shù)

P@Level lower accuracy limit: P@Level精度下限

upper accuracy limit: 精度上限

Acquisition Number: 采集數(shù)量

Period (ns): 周期(ns)

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