《電子技術(shù)應(yīng)用》
您所在的位置:首頁(yè) > 模擬設(shè)計(jì) > 設(shè)計(jì)應(yīng)用 > 一款定性測(cè)試電容器漏電的電路
一款定性測(cè)試電容器漏電的電路
摘要: 電解電容器時(shí)間用長(zhǎng)后就會(huì)出現(xiàn)漏電現(xiàn)象,附圖所示的電路能讓你測(cè)試電容器的漏電,并且決定它們是否值得使用,你可以通過(guò)CREF/RREF的比值抑制泄漏。
關(guān)鍵詞: 定性測(cè)試 電容器 漏電
Abstract:
Key words :

電解電容器時(shí)間用長(zhǎng)后就會(huì)出現(xiàn)漏電現(xiàn)象,附圖所示的電路能讓你測(cè)試電容器的漏電,并且決定它們是否值得使用,你可以通過(guò)CREF/RREF的比值抑制泄漏。

附圖中的比值適用于從1納法的陶瓷電容器到1000微法的電解電容器等所有電容器的通用測(cè)試。電路中CREF的數(shù)值與待測(cè)電容器CX的數(shù)值相近,你也可以通過(guò)一個(gè)旋轉(zhuǎn)開(kāi)關(guān)選擇RREF,使其大于或小于22MΩ。

<a class=定性測(cè)試電容器漏電的電路圖Capacitor leakage tester" height="394" src="http://files.chinaaet.com/images/20111026/12ede169-db03-4753-9967-dcaf6416ade2.jpg" width="612" />

工作原理

當(dāng)按鈕開(kāi)關(guān)合上時(shí),電容器CREF和CX通過(guò)它們各自的PNP晶體管進(jìn)行充電。當(dāng)該開(kāi)關(guān)斷開(kāi)時(shí),電容器CREF和CX開(kāi)始放電。假定CREF處在良好狀態(tài),它具有一個(gè)附加的放電外接電阻RREF,待測(cè)電容器CX通過(guò)其內(nèi)部電阻放電。

如果CX的放電比CREF通過(guò)RREF的放電快,此時(shí)其電壓將下降較快,這樣,運(yùn)算放大器的同向端輸入電壓將比其反向端輸入電壓低,迫使運(yùn)算放大器的輸出變低,從而點(diǎn)亮紅色發(fā)光二極管。該發(fā)光二極管指明待測(cè)電容器CX漏電,該測(cè)試電路表明甚至一個(gè)1納法的陶瓷電容器都適應(yīng)來(lái)比作參考,測(cè)試前請(qǐng)檢查待測(cè)電容器CX的標(biāo)稱電壓應(yīng)比其待充電電壓要高。

運(yùn)算放大器LF357具有10V的最小電源電壓,本測(cè)試電路只選取6V電壓是為了容許待測(cè)電容器CX一個(gè)低的上限電壓。

此內(nèi)容為AET網(wǎng)站原創(chuàng),未經(jīng)授權(quán)禁止轉(zhuǎn)載。