《電子技術(shù)應(yīng)用》
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NI模塊擴(kuò)展PXI平臺(tái)的功能,降低半導(dǎo)體研究分析和測(cè)試的成本

每個(gè)引腳數(shù)字參數(shù)測(cè)量和高密度的源測(cè)量單元模塊都是半導(dǎo)體研究、測(cè)試的理想選擇
2011-09-09
作者:美國(guó)國(guó)家儀器有限公司

  美國(guó)國(guó)家儀器有限公司(National Instruments,簡(jiǎn)稱(chēng)NI)擴(kuò)展其PXI平臺(tái)的功能,通過(guò)新發(fā)布的每個(gè)引腳參數(shù)測(cè)量單元模塊(PPMU)和源測(cè)量單元模塊(SMU)用于半導(dǎo)體的特性描述和生產(chǎn)測(cè)試。NI PXIe-6556 200 MHz高速數(shù)字I / O具備PPMU, NI PXIe- 4140和NI PXIe-4141四通道的SMU可降低資本設(shè)備成本,縮短測(cè)試時(shí)間,并提升各種測(cè)試設(shè)備的混合信號(hào)靈活性。
 
  使用NI PXIe-6556高速數(shù)字I / O模塊,工程師可以產(chǎn)生和獲得一個(gè)高達(dá)200 MHz的數(shù)字波形或在同一針腳上,以 1% 誤差率執(zhí)行 DC 參數(shù)測(cè)量,從而簡(jiǎn)化布線,減少測(cè)試時(shí)間和提高直流參數(shù)測(cè)試儀的測(cè)量密度。此外,其內(nèi)置的時(shí)序校準(zhǔn)功能可自動(dòng)調(diào)整時(shí)序,幫助工程師們消除不同連線與線路長(zhǎng)度所造成的時(shí)序偏移,。NI PXIe-6556可選擇是否以其他精度更高的NI SMU切換,工程師可基于硬件或軟件觸發(fā)器,進(jìn)而觸發(fā)參數(shù)測(cè)量。
 
  NI PXIe-4140/41 SMU模塊可用于PXI Express插槽,提供多達(dá)4個(gè)SMU的通道,而4U的單一PXI機(jī)箱可提供多達(dá)68個(gè)SMU的通道,以輕松應(yīng)對(duì)高針數(shù)設(shè)備的測(cè)試。高達(dá)每秒600,000樣本的采樣率,工程師們可以大大減少測(cè)量時(shí)間,或獲取設(shè)備重要的瞬態(tài)特性。此外,NI PXIe-4141具備新一代的SourceAdapt技術(shù),工程師們可根據(jù)任何給定的負(fù)載自定義調(diào)整SMU輸出,以實(shí)現(xiàn)最大的穩(wěn)定性和最小的瞬態(tài)倍。傳統(tǒng)SMU技術(shù)無(wú)法提供此功能。
  
  結(jié)合使用NI LabVIEW系統(tǒng)設(shè)計(jì)軟件,這些新PPMU和SMU模塊為半導(dǎo)體測(cè)試提供了模塊化的軟件定義測(cè)量方式,從而提高質(zhì)量,降低成本并減少整個(gè)測(cè)試驗(yàn)證,特性研究和生產(chǎn)的時(shí)間。 LabVIEW具有靈活性編程語(yǔ)言與先進(jìn)的工程工具的力量,使工程師能夠滿(mǎn)足特定、定制化的要求。
 
  了解更多關(guān)于產(chǎn)品的信息請(qǐng)?jiān)L問(wèn)www.ni.com/lp/semiconductor
 

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