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400MHz 12bit TIADC電路設(shè)計(jì)與誤差校正

2009-04-28
作者:印茂偉

  摘? 要: 時(shí)域交錯(cuò)模數(shù)轉(zhuǎn)換(TIADC)是目前高速高分辨率ADC設(shè)計(jì)的一種有效方案。通過(guò)一個(gè)400MHz 12bit ADC的PCB設(shè)計(jì),闡述了TIADC設(shè)計(jì)中的一些普遍問(wèn)題,在誤差分析的基礎(chǔ)上給出一種硬軟件綜合校正方法。實(shí)測(cè)結(jié)果表明了設(shè)計(jì)的有效性。
  關(guān)鍵詞: 時(shí)域交錯(cuò)模數(shù)轉(zhuǎn)換;通道失配;Gram-Schmidt正交化;誤差校正;有效數(shù)據(jù)位數(shù)

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  雷達(dá)、偵察、通信等領(lǐng)域?qū)拵?、大?dòng)態(tài)信號(hào)的接收給模數(shù)轉(zhuǎn)換(ADC)提出了更高的要求。對(duì)ADC而言,寬帶意味著高的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換率,大動(dòng)態(tài)則要求有高的量化位數(shù)[1]。目前單片ADC芯片很難做到兩個(gè)指標(biāo)都很高。采用時(shí)域交錯(cuò)模數(shù)轉(zhuǎn)換器(TIADC)能夠有效地解決兩者的矛盾[5],但同時(shí)也帶來(lái)通道失配問(wèn)題。本文試圖通過(guò)一個(gè)400MHz 12bit ADC的PCB設(shè)計(jì)來(lái)分析TIADC設(shè)計(jì)中的一些問(wèn)題。
1 方案設(shè)計(jì)
  ADC芯片的選擇是方案設(shè)計(jì)中的首要問(wèn)題??紤]到器件的性能指標(biāo)、價(jià)格和可購(gòu)性以及PCB設(shè)計(jì)復(fù)雜度等方面的因素,AD公司的AD9430是一款較優(yōu)的選擇。其量化位數(shù)為12bit,數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換率可達(dá)210MS/s,內(nèi)置采樣保持器(S/H)可接收高達(dá)700MHz的滿幅模擬信號(hào)[2]。時(shí)鐘芯片選用Micrel公司的SY100EP32V,該芯片能完成二分頻和ECL差動(dòng)輸出,最高工作頻率大于4GHz,相位Jitter典型RMS僅0.2/s。方案采用兩片AD9430并行時(shí)域交錯(cuò)采集的方式,使實(shí)際的采樣頻率達(dá)到400MHz,即使用200MHz時(shí)鐘,ADC1在時(shí)鐘上升沿采樣,ADC2在時(shí)鐘下降沿采樣,兩路采樣數(shù)據(jù)合并后輸出。其原理如圖1所示。400MHz正弦時(shí)鐘信號(hào)經(jīng)時(shí)鐘芯片的二分頻和單端轉(zhuǎn)差分后,提供兩片ADC所需200MHz的差分時(shí)鐘。單端模擬信號(hào)經(jīng)過(guò)傳輸變壓器轉(zhuǎn)換為差分信號(hào)后分兩路分別送入ADC1和ADC2, 經(jīng)過(guò)ADC采樣量化后輸出數(shù)字信號(hào)DO和數(shù)字時(shí)鐘DCO。FPGA完成對(duì)兩路輸出數(shù)字信號(hào)的鎖存和誤差校正,最后以LVDS方式輸出數(shù)據(jù)DATA和時(shí)鐘CLK。

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2 PCB設(shè)計(jì)
  對(duì)高速系統(tǒng)而言,如何避免信號(hào)間串?dāng)_、最大限度地保證信號(hào)的完整性,在PCB的設(shè)計(jì)時(shí)需要周詳考慮。ADC是模數(shù)混合集成芯片,除了一般高速電路PCB設(shè)計(jì)措施[4]外,還從以下幾個(gè)方面做了重點(diǎn)考慮。
2.1 電源和地的設(shè)計(jì)
  ADC9430的供電[2]分為數(shù)字3.3V和模擬3.3V兩種,時(shí)鐘芯片SY100使用3.3V模擬電源,F(xiàn)PGA需用數(shù)字3.3V I/O電壓和1.5V核電壓??紤]工作電流和電源噪聲等指標(biāo),設(shè)計(jì)中選用電源調(diào)整芯片LT1763和MIC29302提供相應(yīng)的模擬和數(shù)字電壓。
  考慮到PCB上數(shù)字信號(hào)均采用差分對(duì)傳送,地的處理參考評(píng)估板[2]采用了模擬地和數(shù)字地不分割但模擬和數(shù)字器件嚴(yán)格分區(qū)的方式,以保證每個(gè)信號(hào)都有最小的回流路徑[4]。
  為了保證電源良好的高頻噪聲抑制能力和實(shí)現(xiàn)一個(gè)低阻抗接地系統(tǒng),四層PCB板中,2、3層為電源層和地層。電源線盡 量寬,元件層和背面信號(hào)層做敷銅填充接地處理。這樣能減少電流密度,同時(shí)電源線和地層形成的大電容能起到良好的退藕作用。為減少連線電感,退藕電容應(yīng)盡量靠近芯片電源引腳。
2.2 信號(hào)輸入電路設(shè)計(jì)
  信號(hào)輸入電路主要完成輸入模擬信號(hào)的單端轉(zhuǎn)差分功能和匹配器件與傳輸線阻抗。由SMA頭輸入的單端信號(hào)經(jīng)射頻變壓器ADT1-1WT轉(zhuǎn)為差分信號(hào),之后經(jīng)過(guò)低通和隔直后送入AD9430。為了避免引入噪聲,輸入電路沒(méi)有任何有源器件。同時(shí)為了減少兩路模擬信號(hào)的不平衡度,也沒(méi)有采用功分器。
2.3 時(shí)鐘電路設(shè)計(jì)
  由于兩片ADC9430交錯(cuò)采樣時(shí)鐘高達(dá)200MHz,為了實(shí)現(xiàn)兩片ADC9430的等間隔采樣,設(shè)計(jì)中對(duì)兩路時(shí)鐘的占空比、抖動(dòng)、頻率、相位等都有很高的要求[2]
  實(shí)際設(shè)計(jì)中,將外部400MHz時(shí)鐘信號(hào)2分頻為200MHz作為輸入AD9430的時(shí)鐘輸入,這樣可以保證時(shí)鐘信號(hào)50%的占空比, 實(shí)現(xiàn)ADC9430的等間隔采樣(ADC9430內(nèi)部也采用時(shí)鐘上下沿交錯(cuò)采集技術(shù))。
  ADC1所需差分采樣時(shí)鐘由芯片SY100的同相和反相輸出端共同提供,交換同相和反相輸出端順序則構(gòu)成ADC2的時(shí)鐘輸入。這樣就杜絕了因使用功分器和反相器而引入的兩路時(shí)鐘不平衡,最大限度地保證兩路時(shí)鐘的相位關(guān)系。同時(shí)SY100本身的結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)潔,使得輸出的差分時(shí)鐘信號(hào)有精度高和抖動(dòng)小的優(yōu)點(diǎn)。
  為減小其他信號(hào)對(duì)時(shí)鐘的干擾,專門(mén)為時(shí)鐘信號(hào)設(shè)計(jì)了單獨(dú)的信號(hào)電流回流路徑。
2.4 LVDS傳輸方式
  LVDS是一種低擺幅的差分信號(hào)傳輸技術(shù),具有終端適配容易、功耗低、由fail-safe特性確保的高可靠性以及低成本等諸多優(yōu)點(diǎn),很適合高速數(shù)據(jù)傳送。同時(shí)LVDS驅(qū)動(dòng)和接收器不依賴于特定的供電電壓,因此很容易遷移到低壓供電的系統(tǒng)中,且性能不變。
  由于兩片ADC輸出數(shù)據(jù)速率高達(dá)4.8Gb/s,為了降低串?dāng)_,ADC與FPGA之間的信號(hào)傳輸以及FPGA數(shù)據(jù)輸出均采用LVDS規(guī)范[3]。
2.5 阻抗匹配和布線
  在高速電路設(shè)計(jì)中,阻抗匹配是保證信號(hào)完整性的重要條件。對(duì)于模擬信號(hào)和時(shí)鐘信號(hào)輸入電路,采用50?贅交流阻抗匹配方式。布線采用3W原則,即線距和線寬保持在3倍以上。LVDS傳輸線路的阻抗匹配和布線應(yīng)符合規(guī)范要求。
3 誤差分析與校正
  多路ADC通道失配會(huì)使轉(zhuǎn)換結(jié)果產(chǎn)生失真并降低有效數(shù)據(jù)位數(shù)(ENOB),而設(shè)計(jì)TIADC必須面對(duì)和解決這一問(wèn)題。通道失配誤差種類很多[5,6],對(duì)ENOB影響較大的可校正因素主要有ADC增益誤差、通道間直流偏移誤差以及時(shí)鐘相位誤差導(dǎo)致的非均勻采樣。針對(duì)以上誤差,可以分別從硬件和軟件算法上進(jìn)行校正。
3.1 ADC增益誤差
  增益誤差表現(xiàn)為兩路ADC輸出信號(hào)的幅度差異,可通過(guò)對(duì)轉(zhuǎn)換輸出乘上一個(gè)增益系數(shù)來(lái)校正,但是要在FPGA中實(shí)現(xiàn)大于200MHz的乘法運(yùn)算代價(jià)很大。
  從硬件角度考慮,由于ADC 轉(zhuǎn)換的量化電平正比于參考電壓,所以只要調(diào)整器件參考電壓即可控制轉(zhuǎn)換增益,實(shí)現(xiàn)原理如圖2所示。為了保證兩路參考電壓的相干性,圖中以ADC1的內(nèi)部參考電壓Vref1為基準(zhǔn),經(jīng)過(guò)精密運(yùn)放調(diào)整后得到ADC2的參考電壓Vref2。ADC9430的參考電壓模式[2]有兩種,通過(guò)相應(yīng)引腳來(lái)控制,如圖2中的SENCE引腳,懸空為內(nèi)部參考電壓模式,置高電平則由外部提供參考電壓。


3.2 通道間直流偏移誤差
  本質(zhì)上,當(dāng)電路設(shè)計(jì)采用交流耦合時(shí)并不存在直流偏移,但是當(dāng)差分信號(hào)對(duì)地阻抗不相等(變壓器抽頭不對(duì)稱、耦合電容不等值等原因)時(shí),會(huì)在ADC 輸入端產(chǎn)生共模信號(hào),該共模信號(hào)造成ADC的直流偏移。解決該問(wèn)題需對(duì)每路ADC輸出數(shù)據(jù)減去直流偏移量。如式(1)所示,通過(guò)對(duì)i(i=1,2)路ADC的輸出數(shù)據(jù)li(n)求均值可估計(jì)直流偏移量di。計(jì)算如下:
  
  式(1)中,E{}表示均值運(yùn)算。直流偏移會(huì)受溫度變化的影響,該偏移量必須在系統(tǒng)估計(jì)。
3.3 相位、增益、直流偏移誤差的同時(shí)校正
  當(dāng)采樣率滿足fs=4f0/(2l+1)且fs≥2B(其中f0、B分別為信號(hào)中心頻率和帶寬,l=0,1,2,…)時(shí),可以把該兩路ADC看作數(shù)字正交化采樣。信號(hào)后續(xù)處理如果采用正交數(shù)字下變頻時(shí),兩路ADC的相位誤差同樣反映在下變頻輸出的 I、Q兩路信號(hào)中,于是可以對(duì)I、Q兩路信號(hào)進(jìn)行正交化校正,實(shí)現(xiàn)對(duì)ADC和下變頻誤差的同時(shí)校正。
  采用Gram-Schmidt正交化,設(shè)I、Q兩路信號(hào)為:
  
  由此得到的校正算法流程如圖3所示。詳細(xì)誤差分析和其他的校正方法[5-7]在此不作贅述。


4 ENOB實(shí)測(cè)結(jié)果
  有效數(shù)據(jù)位數(shù)(ENOB)是ADC的關(guān)鍵指標(biāo)之一,采用FFT測(cè)量方案,如圖4所示。高速ADC所需外部400MHz時(shí)鐘由頻綜儀提供,模擬測(cè)試信號(hào)由任意波形發(fā)生器提供近滿功率的單音信號(hào)[2],測(cè)試中采用外同步技術(shù)保證信號(hào)源與時(shí)鐘源相參,輸出數(shù)據(jù)由后續(xù)信號(hào)處理板上FPGA內(nèi)部邏輯分析儀得到。

  ENOB計(jì)算如下:
  ENOB=(SINAD-1.76)/6.02   (8)
  式(8)中,SINAD為信號(hào)的實(shí)際信噪比[1](噪聲包括高次諧波失真、雜散和寬帶噪聲等),可通過(guò)對(duì)輸出數(shù)據(jù)做FFT后計(jì)算得到。TIADC輸出數(shù)據(jù)幅度譜如圖5所示。由圖5知,經(jīng)過(guò)校正后,直流分量已消失,幅度、相位誤差引起的頻率雜散分量也得到較好的抑制。

  TIADC是目前解決ADC高采樣速率和高量化位數(shù)之間矛盾的一種有效設(shè)計(jì)方案。本文通過(guò)一個(gè)400MHz、12bit ADC的PCB設(shè)計(jì),闡述了TIADC設(shè)計(jì)中的一些普遍問(wèn)題,分析了通道失配來(lái)源,并結(jié)合工程實(shí)際給出了一種基于Gram-Schmidt正交化的硬軟件校正方法。設(shè)計(jì)過(guò)程中始終遵循優(yōu)先硬件設(shè)計(jì)再軟件校正的設(shè)計(jì)原則。實(shí)測(cè)結(jié)果表明設(shè)計(jì)方案可行,硬件設(shè)計(jì)措施合理,校正算法有效。
  通道失配是TIADC的固有缺陷,不可能通過(guò)硬件設(shè)計(jì)來(lái)消除,寬帶信號(hào)全頻段的實(shí)時(shí)校正仍是一個(gè)有待深入研究的問(wèn)題。


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