大功率2651A型數(shù)字源表進一步豐富了2600A系列產品。該源表專門針對大功率電子器件的特性分析和測試而優(yōu)化設計，可幫助用戶在研發(fā)、可靠性及生產領域提高生產力，包括高亮度LED、功率半導體、DC/DC轉換器、電池，以及其他大功率材料、元件、模塊和組件的特性分析和測試。

　　與2600A系列產品的每個成員一樣，2651A具有高靈活性、四象限電壓和電流源/負載，組合了精密電壓和電流表。該源表可作為：

　　半導體特性分析儀器

　　電壓或電流波形發(fā)生器

　　電壓或電流脈沖發(fā)生器

　　精密電源

　　真電流源

　　數(shù)字多用表(直流電壓，直流電流，電阻和功率，分辨率達5½位)

　　精密電子負載

Part II 2651A的特性

　　兩種測量模式：數(shù)字化或積分

　　2651A型有兩種測量模式可對瞬態(tài)和穩(wěn)態(tài)行為進行精密地特性分析，包括快速變化的熱效應。每種模式均由其獨立的模/數(shù)(A/D)轉換器定義。

　　在數(shù)字化測量模式下，連續(xù)進行1μs/點采樣，每秒可捕獲1,000,000個讀數(shù)。其18位A/D轉換器使用戶能夠精密測量瞬態(tài)特性。對于更準確的測量，可利用基于22位A/D轉換器的積分測量模式。全部2600A系列儀器均具有積分測量模式。

　　每種測量模式下使用兩個A/D轉換器(一個用于電流，另一個用于電壓)，可同時運行用于準確源讀回，不會影響測試效率。

　　雙數(shù)字化A/D轉換器以高達1μs/點速率進行連續(xù)采樣，同時對電流和電壓波形進行特性分析。

　　高速脈沖

　　2651A型能夠準確輸出和測量短至100μs的脈沖，將測試期間的自熱效應影響降至最低。更大的控制靈活性使用戶能夠在100μs至DC范圍內編程脈寬，在1%至100%范圍內編程占空比。單臺儀器可輸出高達50A電流脈沖，兩臺組合可輸出高達100A電流脈沖。

　　擴展能力

　　利用TSP-Link，可將多臺2651A和其他2600A系列儀器組合在一起，形成最多64路通道的更大集成系統(tǒng)。利用內置500ns觸發(fā)控制器，確保精密定時和嚴格通道同步。源表儀器的完全隔離、獨立通道確保了真正的SMU-per-pin測試。

　　吉時利的TSP和TSP-Link技術確保實現(xiàn)真正的SMU-per-pin測試，不存在基于主機系統(tǒng)的功率和/或通道限制。

　　此外，兩臺2651A型采用TSP-Link并聯(lián)時，電流量程從50A擴展至100A。當兩個單元串聯(lián)時，電壓范圍從40V擴展至80V。內置智能特性使多個單元可作為單臺儀器進行尋址，簡化了測試，由此形成業(yè)內最佳的動態(tài)范圍(100A至1pA)。這種能力確保用戶可測試各種各樣的功率半導體和其他器件。

　　高達50A (2個單元可達100A)的精密測量確保更完善和準確的特性分析。

　　1μV測量分辨率和高達50A (2個單元可達100A)的電流源輸出確保低電平Rds測量，支持新一代器件。

　　2600A系列儀器的標準能力

　　每款2651A均具備其他2600A系列儀器提供的全部特性和能力，包括：

　　既可作為臺式I-V特性分析工具，又可作為多通道I-V測試系統(tǒng)的組成部分。

　　無需編程或安裝，TSP Express軟件即可快速、簡便地執(zhí)行常見的I-V測試。

　　ACS基本版軟件，用于半導體元器件特性分析(選件)。ACS基本版軟件現(xiàn)在具備一種Trace模式，用于產生一套特性曲線。

　　吉時利的TSP®(測試腳本處理器)軟件，能夠創(chuàng)建用戶自定義測試腳本，實現(xiàn)自動化程度更高的測試，并且支持創(chuàng)建編程序列，使儀器在沒有PC直接控制的情況下異步工作。

　　多臺2600A系列儀器連接在一個系統(tǒng)中，實現(xiàn)并行測試和精密定時。

　　符合LXI class C標準。

　　14位I/O線，與探針臺、元件裝卸裝置或其他自動化工具直接交互。

　　USB端口，利用USB存儲裝置實現(xiàn)更大的數(shù)據(jù)和程序存儲空間。

Part III 2651A的應用領域

　　輕松支持當今具有挑戰(zhàn)性的應用：

　　功率半導體、HBLED和光器件特性分析和測試

　　GaN、SIC及其他復合材料和器件的特性分析

　　半導體結溫特性分析

　　高速、高精度數(shù)字化

　　電遷移研究

　　大電流、大功率器件測試

　　1.每種測量模式下使用兩個A/D轉換器(一個用于電流，另一個用于電壓)，可同時運行用于準確源讀回，不會影響測試效率。

　　當用于一個系統(tǒng)時，全部2600A系列的通道以500ns同步，實現(xiàn)真正的SMU-per-pin測試，主機不存在功率或通道限制。

　　2.將熱效應降至最小，準確特性分析半導體結溫效應

　　準確源出和測量短至100μs的脈沖，并且脈沖從100μs 至直流、上升時間從25μs、占空比從1%至100%可編程。

　　捕獲快速變化現(xiàn)象，速率達1,000,000讀數(shù)/秒，連續(xù)1μs/點采樣。

　　3.提高試驗可靠性和可重復性

　　精密定時和嚴格的通道同步對當今的測試要求至關重要。2651A型具有一款高性能觸發(fā)型號，精確控制每一源測量步驟的定時。它還嚴格同步通道之間和/或其他2600A系列儀器之間的工作，采用TSP-Link，硬件速度<500ns。更重要的是，SMU-per-pin測試防止測量和負載信號失真。這些功能可幫助您提高吞吐量，降低可能損壞DUT的影響，并獲得高準確度和可復現(xiàn)的測量結果。

　　4.快速、簡便地執(zhí)行I-V測試

　　無需編程或安裝，TSP® Express軟件工具即執(zhí)行常見的I-V測試。嵌入式測試腳本處理器(TSP®)使用戶能夠創(chuàng)建儀器可直接運行的腳本，進一步提高測試自動化。

　　該TSP Express測量屏幕所示為利用兩臺2651A單元并聯(lián)獲得100A脈沖能力。能夠以圖形或表格格式查看結果，然后導出至.csv格式文件，可用于電子表格軟件。

　　從基本測試到高級測試，利用TSP Express都能快速、簡便的配置。