《電子技術(shù)應(yīng)用》
您所在的位置:首頁 > 模擬設(shè)計 > 設(shè)計應(yīng)用 > 基于LpLVDS和CTL技術(shù)的便攜產(chǎn)品I/O設(shè)計[圖]
基于LpLVDS和CTL技術(shù)的便攜產(chǎn)品I/O設(shè)計[圖]
摘要: 具有低電磁干擾、高吞吐量、低功耗、抗噪聲干擾等特性的接口技術(shù),將成為超便攜和消費產(chǎn)品市場的重要組成部分。本文將討論基于下一代I/O技術(shù)的一些應(yīng)用,這種新的I/O技術(shù)能把重新設(shè)計的風(fēng)險降至最低,從而加快視頻基帶設(shè)計,并降低電磁干擾(EMI)和總體成本。
關(guān)鍵詞: 接口IC LpLVDS CTL I/O
Abstract:
Key words :
具有低電磁干擾、高吞吐量、低功耗、抗噪聲干擾等特性的接口技術(shù),將成為超便攜和消費產(chǎn)品市場的重要組成部分。本文將討論基于下一代I/O" title="I/O">I/O技術(shù)的一些應(yīng)用,這種新的I/O技術(shù)能把重新設(shè)計的風(fēng)險降至最低,從而加快視頻基帶設(shè)計,并降低電磁干擾(EMI)和總體成本。

亞太地區(qū)(尤其是中國)的手機和便攜設(shè)備市場是世界最大的市場。這些市場的競爭焦點不僅在于這類產(chǎn)品的成本和性能,而且在于它們投入市場的時間。在中國,本地手機供應(yīng)商占了總體市場過半。隨著中國手機制造商研發(fā)能力快速增長,他們能夠迅速在設(shè)計中采用無線射頻(RF)和基帶設(shè)計等新技術(shù),工程師和最終用戶對于能夠縮短設(shè)計周期、降低成本和改善系統(tǒng)性能的技術(shù)極感興趣。以下將要討論基于下一代I/O技術(shù)的一些應(yīng)用。

設(shè)計挑戰(zhàn)

1、高數(shù)據(jù)吞吐量需要新的信令方案

由于高端手機LCD顯示器的分辨率超過了SVGA(800×600),而翻蓋式電話中應(yīng)用處理器和LCD模塊之間的RGB數(shù)據(jù)吞吐量甚至超過750Mbps(XGA模式,60Hz刷新速度)?,F(xiàn)有的晶體管-晶體管邏輯(TTL)技術(shù)在基帶控制器和LCD模塊之間的高擺幅(0V至VCC)限制了邏輯轉(zhuǎn)換之間的信號數(shù)據(jù)吞吐量,特別是低電磁干擾要求對邊緣速率提出了限制。對于數(shù)據(jù)傳輸速率較高的TTL技術(shù),移動電話的翻蓋和機體之間的低帶寬柔性電纜也可能會增加誤碼率,以致需要返修和重新設(shè)計基帶,從而嚴(yán)重推遲產(chǎn)品上市時間。

此外,由于下一代拍照手機具有三百萬像素以上的分辨率,RGB數(shù)據(jù)吞吐量(在快拍時被讀回至基帶處理器)進一步把現(xiàn)有TTL技術(shù)推向極限。在所有這些因素下,業(yè)界需要一種新的信令方案來解決這類問題。

基于<a class=CTL" title="CTL">CTL" p="" src="http://files.chinaaet.com/images/20110519/8a855ca7-05b5-4503-98ee-3624f656f2e1.jpg" title="CTL" width="405" />

圖1:各種接口信號技術(shù)的簡要比較以及CTL技術(shù)在1Gbps速度下的眼圖

2、電磁干擾和敏感性

低電磁干擾幾乎成為所有手機設(shè)計人員普遍面對的設(shè)計挑戰(zhàn)。由于具有較大的振幅,為了快速切換邏輯狀態(tài),傳統(tǒng)的TTL技術(shù)通常具有較高的邊緣速率,因而造成反射和電磁干擾問題。降低TTL信號的邊緣速率雖然可以減小反射和電磁干擾,但卻限制了數(shù)據(jù)吞吐量。這一問題在使用低帶寬柔性電纜發(fā)送信號的手機設(shè)計中更為明顯。為了達到更大的數(shù)據(jù)吞吐量,TTL邏輯的邊沿變化速率必須提高,但這也會造成更高的電流變化速率,并且會在一個較大的頻率段上引起更高的電磁干擾輻射。此外,在邏輯電平變換時發(fā)生的任何反射不僅會引起更多磁性輻射而且會增加誤碼率。對于手機設(shè)計而言,柔性電纜周圍的電磁干擾噪聲很大,因此需要更好的共模噪聲抑制能力,而這正是低電壓差分信令(LVDS)等差分信號技術(shù)的特點。
I/O解決方案

如上所述,低功耗、高吞吐量以及超低電磁干擾信令技術(shù)是便攜和消費產(chǎn)品應(yīng)用設(shè)計的關(guān)鍵。因此,類似LVDS的差分信令技術(shù)在改善數(shù)據(jù)吞吐能力、抗噪聲能力或電磁干擾性能方面成為系統(tǒng)的一個重要設(shè)計環(huán)節(jié)。LVDS的最大優(yōu)點之一是其在正和負(fù)輸出端的電流方向相反。如果輸出正負(fù)端靠得夠近,應(yīng)該能夠使電磁輻射相互抵消,這將大幅降低手機的電磁干擾和對手機本身通訊信號的影響。在手機等電池供電應(yīng)用要求更低功耗的情況下,具有較低VCC工作能力的降低功耗LVDS技術(shù)版本(LpLVDS" title="LpLVDS">LpLVDS)是滿足便攜設(shè)計需求的關(guān)鍵。除了LpLVDS,飛兆半導(dǎo)體還開發(fā)了下一代I/O技術(shù),即電流傳送邏輯(CTL),以提供更低功耗和更低電磁干擾的優(yōu)勢。

圖1所示為各種接口信號技術(shù)的簡要比較以及CTL技術(shù)在1Gbps速度下的眼圖。與傳統(tǒng)LVDS技術(shù)相比,CTL技術(shù)每個通道的功耗要小30%。同時,CTLI/O的電磁干擾比傳統(tǒng)LVDS技術(shù)低10dB,比TTL技術(shù)低20dB。使用圖1中的波形圖可以解釋原因,對于相同的時間間隔(這意味著相同的吞吐量),CTL技術(shù)可以使用低很多的邊沿上升速率輕易地在邏輯“0”和“1”之間進行切換,而CTL的擺幅僅為65mV,較傳統(tǒng)LVDS技術(shù)的350mV量級相比小得多。較低的di/dt無疑能有效地減小磁性輻射。

數(shù)據(jù)傳送解決方案

LpLVDS和CTL只提供針對LCD、相機成像器以及基帶處理器之間接口的I/O解決方案。只有在采用某些并行至串行數(shù)據(jù)傳送方案時,兩者才能發(fā)揮其強大功能。借著鎖相環(huán)路(PLL)技術(shù),可以利用PLL輸出的倍頻頻率將多個并行輸入轉(zhuǎn)換成串行流,這種電路一般稱為串化器。使用同樣的方式,當(dāng)數(shù)據(jù)抵達顯示屏一側(cè)時,串行流經(jīng)內(nèi)部第二個PLL解碼,并被變換回并行TTL信號以驅(qū)動LCD模塊(LCM)。解碼電路被稱作解串器,傳統(tǒng)的串化器和解串器的雙PLL結(jié)構(gòu)會增加功耗,飛兆半導(dǎo)體公司的單PLLuSerDes可以幫助設(shè)計人員借助LpLVDS和CTLI/O進一步節(jié)省功率,降低功耗。

基于LpLVDS和CTL技術(shù)的便攜產(chǎn)品I/O設(shè)計[圖]

圖2:uSerDes在帶有RGB接口的智能電話設(shè)計中的應(yīng)用實例。

設(shè)計實例

圖2所示為典型的LCD屏的“寫”操作,此處采用基于LpLVDS或CTLI/O技術(shù)的uSerDes,從基帶處理器向LCD顯示器傳遞RGB數(shù)據(jù)。這是雙處理器的翻蓋式智能電話設(shè)計中一種典型RGB接口。使用LpLVDS技術(shù)或CTL技術(shù),應(yīng)用處理器上LCD接口輸出的16位TTL并行數(shù)據(jù)總線,被串行化成單一高吞吐量差分?jǐn)?shù)據(jù)流(D+和D-)。這種設(shè)計不僅有效地降低電磁干擾,而且因為省去了機體和翻蓋之間大量電纜和連接器,所以成本也得以顯著降低。此外,由于LpLVDS和CTL技術(shù)的電磁干擾輻射超低,因此無需采用電磁干擾濾波器,進一步降低了成本。

本文小結(jié)

隨著未來3G手機的高分辨率顯示器和相機等多媒體應(yīng)用需求的增長,設(shè)計人員將逐漸從現(xiàn)時的并行TTL接口技術(shù)轉(zhuǎn)向差分串行互聯(lián)技術(shù)。具有低電磁干擾、高吞吐量、低功耗、抗噪聲干擾等特性的接口技術(shù),將成為超便攜和消費產(chǎn)品市場的重要組成部分,而這些產(chǎn)品市場包括了手機、攝像機、打印機,以及其它對功率和電磁干擾有限制的顯示終端。

此內(nèi)容為AET網(wǎng)站原創(chuàng),未經(jīng)授權(quán)禁止轉(zhuǎn)載。