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基于ADμC7020及Si5040誤碼測試系統(tǒng)設(shè)計[嵌入式技術(shù)][其他]

長期平均誤碼率,簡稱誤碼率(BitErrorRate,BER),是光通信網(wǎng)絡(luò)及設(shè)備的重要指標之一。目前光通信網(wǎng)絡(luò)及設(shè)備正朝著小型化、高頻率、高速率、大容量的方向發(fā)展,對作為測量儀器的誤碼測試儀速率及功能的要求也越來越高。雖然國內(nèi)外儀器儀表廠,如安捷倫(Agilent)、泰克(Tektronix)等推出了各種高速誤碼測試儀,但是大多價格昂貴,并且系統(tǒng)復雜。所以,對于國內(nèi)通信行業(yè),開發(fā)一種價廉、方便、速率可達10Gb/s的高速誤碼測試系統(tǒng),具有實用價值。1系統(tǒng)概述本誤碼測試系統(tǒng)由兩部分組成:誤碼測試部分和上位機人機界面部分。其中誤碼測試部分由高速誤碼儀、光衰減器、光功率計和光源等組成。高速誤碼儀以微控制器ADμC7020為核心,控制XFP收發(fā)控制器Si5040來實現(xiàn)。ADμC7020是ADI公司的基于ARM7TDMI的體系結(jié)構(gòu)的控制器,支持16/32位精簡指令集(RISC)。片內(nèi)集成了12位的ADC(1MSPS)、4通道12位帶緩沖的DAC、電壓比較器、62KB可在系統(tǒng)中編程(ISP)的片內(nèi)閃速/電擦除存儲器Flash和8KBRAM,串行接口包括UART、SPI、2個I2C、用于下載/調(diào)試的JTAG端口、4個定時

發(fā)表于:8/1/2012