555構(gòu)成的可控硅快速測(cè)試儀

2016-07-05 15:37
555構(gòu)成的可控硅快速測(cè)試儀 如圖所示為可控硅快速測(cè)試電路。該測(cè)試儀由脈沖信號(hào)發(fā)生器、閉合導(dǎo)通環(huán)路、發(fā)光二極管、可控硅SCR等組成。 脈沖信號(hào)發(fā)生器即為由時(shí)基電路555和R1、R2、C等組成的多諧振蕩器，其振蕩頻率為f=1.44/(R1 2R2)C。圖示參數(shù)對(duì)應(yīng)的振蕩頻率約為1Hz。由于R1<