文獻(xiàn)標(biāo)志碼:A
DOI: 10.16157/j.issn.0258-7998.222952
中文引用格式: 蔣青松,張志杰. 基于ZYNQ的陣列渦流無損檢測系統(tǒng)[J]. 電子技術(shù)應(yīng)用,2023,49(1):52-57.
英文引用格式: Jiang Qingsong,Zhang Zhijie. Array eddy current nondestructive testing system based on ZYNQ[J]. Application of Electronic Technique,2023,49(1):52-57.
0 引言
陣列渦流檢測技術(shù)作為一種新型的無損檢測技術(shù),不但具有常規(guī)渦流檢測技術(shù)的優(yōu)點,還克服了常規(guī)渦流傳感器檢測速度慢的缺點。隨著計算機、傳感器技術(shù)和信號處理技術(shù)的進(jìn)步,陣列渦流檢測技術(shù)已趨于成熟[1-2]。陣列渦流技術(shù)的檢測原理是將通入交變電流的激勵線圈放置在導(dǎo)電部件上,導(dǎo)體表面會產(chǎn)生渦流,導(dǎo)體中的缺陷會干擾渦流路徑,這種干擾可以通過檢測線圈來測量[3]。陣列渦流傳感器探頭結(jié)構(gòu)靈活多變,能適應(yīng)復(fù)雜工況,針對某些特殊結(jié)構(gòu)工件的缺陷檢測有著獨特優(yōu)勢,陣列探頭的不同布置方案會對輸出信號產(chǎn)生影響,陣列探頭會有多個線圈,通過分時復(fù)用芯片進(jìn)行通道采集[4-6]。陣列渦流檢測的一個重要應(yīng)用是磁感應(yīng)成像,磁感應(yīng)成像的原理是利用高頻磁場在不接觸被測組織的情況下測量組織的電導(dǎo)率,從而重構(gòu)組織內(nèi)部電導(dǎo)率的分布情況以及檢測電導(dǎo)率的變化情況[7-8]。陣列探頭的信號可以利用可編程門陣列(FPGA)進(jìn)行多路信號的采集和控制[9]。Zynq-7020包含一片F(xiàn)PGA和雙核ARM Cortex-A9處理器,利用ZYNQ可以方便擴展系統(tǒng)的功能[10]。
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作者信息:
蔣青松,張志杰
(中北大學(xué) 儀器科學(xué)與動態(tài)測試教育部重點實驗室,山西 太原 030051)