文獻(xiàn)標(biāo)識碼: A
DOI:10.16157/j.issn.0258-7998.174887
中文引用格式: 初飛,宋奎鑫,趙元闖,等. 一種應(yīng)用于LDO的可編程電流限電路設(shè)計(jì)[J].電子技術(shù)應(yīng)用,2018,44(4):23-26.
英文引用格式: Chu Fei,Song Kuixin,Zhao Yuanchuang,et al. A programmable current limit circuit for LDO[J]. Application of Electronic Technique,2018,44(4):23-26.
0 引言
隨著便攜式電子產(chǎn)品的流行,低壓差線性穩(wěn)壓器(LDO)和開關(guān)型電壓調(diào)整器得到越來越廣泛的應(yīng)用。開關(guān)型電壓調(diào)整器的效率很高,通??蛇_(dá)到90%以上[1]。但是,由于開關(guān)型調(diào)整器需要用到電感,導(dǎo)致它難以集成、成本增加,還引入了電磁干擾(EMI),而且開關(guān)型調(diào)整器的輸出紋波和噪聲比較大,不適用于對輸出電壓要求比較嚴(yán)格的場合。與開關(guān)型電壓調(diào)整器相比,LDO的優(yōu)點(diǎn)在于輸出電壓的紋波和噪聲小,而且占用的芯片面積也比開關(guān)型電壓調(diào)整器小[2]。LDO的保護(hù)電路也是在設(shè)計(jì)中需要考慮的問題。本文設(shè)計(jì)了可編程電流限保護(hù)電路,可編程電流限可以將過流時(shí)LDO的負(fù)載電流限制在一定范圍內(nèi),避免過長時(shí)間的大電流對電路中的功率管造成損壞[3]。傳統(tǒng)結(jié)構(gòu)的限流保護(hù)電路會存在一些弊端,當(dāng)LDO工作在輸入輸出壓差較大的情況下,若電流限值較大,將直接導(dǎo)致功率管因長期工作在大負(fù)載條件下而燒毀芯片。在實(shí)際應(yīng)用中,用來保護(hù)LDO不被過高電流損壞的高性能過流保護(hù)電路同樣是穩(wěn)壓器性能的主要指標(biāo)之一[4]。
本文針對寬范圍輸入-輸出的大功率LDO線性穩(wěn)壓器限流閾值無法可調(diào)的缺點(diǎn),在傳統(tǒng)限流保護(hù)電路的基礎(chǔ)上進(jìn)一步改進(jìn),提出了一種可編程電流限電路,該電路采用TSMC 0.25 μm BCD工藝實(shí)現(xiàn)了可編程電流限值的調(diào)節(jié),具有結(jié)構(gòu)簡單、實(shí)用方便、電流可精準(zhǔn)采樣的特點(diǎn)。
1 傳統(tǒng)限流保護(hù)電路分析
LDO線性穩(wěn)壓器的傳統(tǒng)限流保護(hù)電路結(jié)構(gòu)如圖1所示[5]。圖中,功率管P1、誤差放大器EA和反饋電阻網(wǎng)絡(luò)構(gòu)成LDO線性穩(wěn)壓器的反饋環(huán)路,EA的反向端為帶隙基準(zhǔn)輸出的參考電壓VREF,同向端為經(jīng)過反饋網(wǎng)絡(luò)電阻的反饋電壓VFB,輸出電壓根據(jù)電阻R1和R2進(jìn)行調(diào)節(jié)[6]。
其中,AEA為誤差放大器的閉環(huán)增益,API為功率管P1的閉環(huán)增益,β為
限流保護(hù)的工作原理為:采樣管P2管按照比例鏡像功率管P1的電流,如式(2)。
鏡像電流IP2經(jīng)過電阻R3轉(zhuǎn)化為電壓比較器A1的反向端V1,與固定電壓V2進(jìn)行比較來控制開關(guān)管P3的導(dǎo)通或者關(guān)斷,從而控制功率管P1的柵端電壓。當(dāng)流過功率管的電流IP1較小時(shí),V1<V2,比較器A1輸出高電平,P3管截止,LDO的輸出正常;隨著流過功率管P1的電流逐漸增大,使得V1>V2,導(dǎo)通開關(guān)管P3,鉗位功率管P1的柵極電壓,從而限制輸出電流。傳統(tǒng)的限流保護(hù)電路存在較多缺點(diǎn),該傳統(tǒng)結(jié)構(gòu)需要將電流轉(zhuǎn)化為電壓再比較,目前國內(nèi)工藝廠商的電阻精度較低且會占用較大的版圖面積,較低的電阻精度直接影響限流值大小,從而導(dǎo)致電路工作在大功率下燒毀或者限制最大輸出電流而導(dǎo)致LDO無法正常工作,且針對電流采樣并不精準(zhǔn)。
2 本文提出的可編程電流限保護(hù)電路
針對傳統(tǒng)限流保護(hù)電路電流采樣不精準(zhǔn)和電流限閾值無法調(diào)節(jié)等缺點(diǎn),本文在傳統(tǒng)限流保護(hù)電路結(jié)構(gòu)的基礎(chǔ)上設(shè)計(jì)了可編程電流限保護(hù)電路。本設(shè)計(jì)的LDO最大帶載能力為3 A,該電流限電路可實(shí)現(xiàn)對功率管的精準(zhǔn)采樣,并通過改變片外電阻的大小(8 kΩ~70 kΩ)來調(diào)整電流限值(0.2 A~4.5 A),具體電路如圖2所示。
采樣管P0管根據(jù)MOS管尺寸比例關(guān)系鏡像功率管P1管的輸出電流,得到式(3):
P4~P6管和M1~M4管為串聯(lián)結(jié)構(gòu)電流鏡,串聯(lián)PMOS管的作用是為了減小版圖制作過程中的復(fù)雜度和削弱管子的溝道長度調(diào)制效應(yīng),通過增加MOS管的L值來減小溝道長度調(diào)制系數(shù)[7],從而實(shí)現(xiàn)了高PSRR。同時(shí),代替?zhèn)鹘y(tǒng)結(jié)構(gòu)的電壓比較器使兩個(gè)電流直接進(jìn)行比較,實(shí)現(xiàn)對P2管的漏端即功率管柵端電壓的控制。
當(dāng)ICS大于IPCL時(shí),M3和M4管工作在線性區(qū),A點(diǎn)電壓小于VTHN,導(dǎo)通P2管,使得功率管的柵極電壓鉗位為VCC,功率管被強(qiáng)制關(guān)斷從而輸出電流變小,起到了限流保護(hù)的作用[8];當(dāng)IPCL大于ICS,P3和P4管工作在線性區(qū),A點(diǎn)電壓大于VCC-|VTHP|,P2管處于截止?fàn)顟B(tài),LDO正常工作。
其中,電阻RPCL為可編程電流限的芯片外接電阻,通過外設(shè)大小來改變電流限的值,其范圍為8 kΩ~160 kΩ。VREF為內(nèi)部基準(zhǔn)電壓產(chǎn)生的0.6 V電壓,VOUT為LDO的輸出電壓,VFB為LDO的反饋電壓,P0為LDO的調(diào)整管,P1為與P0管寬長比比例為1:54 000的采樣管,此比例即式(3)中的CSR為5 400。
運(yùn)算放大器AMP1的同相端為采樣管P1的漏極、反相端為LDO的輸出VOUT,根據(jù)運(yùn)放的“虛短虛斷”原理,P1管的漏極電壓鉗位為VOUT電壓,使得P1管的三端電壓與功率管P0的三端電壓完全一致[9],以便得到精準(zhǔn)的鏡像采樣電流,實(shí)現(xiàn)調(diào)整管電流的1/54 000的采樣。
同樣的原理,通過運(yùn)算放大器AMP2使得端口PCL的電壓等于反饋電壓VFB的值,在固定電壓下,通過改變外接電阻RPCL的大小實(shí)現(xiàn)電流限的可編程設(shè)置,如式(4):
其中,本論文中VREF=0.6 V,CSR為電流采樣比例,本文為56 000。
在LDO工作在較大的輸入-輸出壓差下,若電流限電流較大,則容易因?yàn)楣奶蠖鴵p壞芯片,此時(shí)應(yīng)該增大電阻RPCL來預(yù)防LDO工作在大功耗下燒毀芯片;當(dāng)LDO工作在較小的輸入-輸出壓差下,應(yīng)減小RPCL來增大電流限的閾值,從而避免大負(fù)載電流情況下的限流保護(hù)誤操作[10]。通過對電流限的可編程設(shè)計(jì),可滿足電路在不同輸入-輸出配置下的正常工作。
3 仿真結(jié)果
根據(jù)上述理論分析和設(shè)計(jì)過程描述,設(shè)計(jì)了一種應(yīng)用于LDO的可編程電流限電路。以下是基于TSMC 0.25 μm BCD工藝,對本文設(shè)計(jì)的電路進(jìn)行組合仿真,通過配置輸入電壓、輸出電壓和片外電阻RPCL驗(yàn)證本文的理論推斷。
在相同的輸入電壓(5.5 V)、相同的輸出電壓(1.8 V)情況下,通過設(shè)置不同的RPCL電阻值,進(jìn)行負(fù)載變化的瞬態(tài)仿真,觀察可編程電流限值的變化,仿真曲線如圖3所示。
仿真曲線圖3中,曲線1片外電阻RPCL為10 kΩ,可編程電流限為3.38 A;曲線2片外電阻RPCL為22.5 kΩ,可編程電流限為1.6 A;曲線3片外電阻RPCL為35 kΩ,可編程電流限為1.06 A;曲線4片外電阻RPCL為47.5 kΩ,可編程電流限為758.6 mA;曲線5片外電阻RPCL為60 kΩ,可編程電流限為616.7 mA。實(shí)現(xiàn)了在相同輸出下不同片外電阻RPCL對電流限值可編程的設(shè)計(jì)。
在相同的輸入電壓(5.5 V)、相同的RPCL電阻(10 kΩ)情況下,通過設(shè)置不同的輸出電壓,進(jìn)行負(fù)載變化的瞬態(tài)仿真,觀察可編程電流限值的變化,仿真曲線如圖4所示。
仿真曲線圖4中,輸入電壓均為5.5 V,片外電阻RPCL為10 kΩ,輸出分別在0.8 V、1.2 V、1.8 V、3.3 V和4.9 V情況下的電流限曲線,可以看出,在不同輸出配置下,電流限值均為3.4 A左右,符合本設(shè)計(jì)原理,在相同的RPCL下可編程電流限值均相同。
在相同的輸出電壓(1.8 V)、相同的RPCL電阻(10 kΩ)情況下,通過設(shè)置不同的輸入電壓,進(jìn)行負(fù)載變化的瞬態(tài)仿真,觀察可編程電流限值的變化,仿真曲線如圖5所示。
相同的RPCL電阻值(10 kΩ)情況下,設(shè)置不同的輸入電壓,曲線1的輸入電壓為5.0 V、曲線2的輸入電壓為3.3 V、曲線3的輸入電壓為2.2 V??梢钥闯?,在不同輸入電壓、RPCL保持固定值的情況下,可編程電流限值均在3.4 A左右,符合設(shè)計(jì)原理。
在輸入電壓5.0 V,輸出電壓配置為1.8 V情況下,通過調(diào)節(jié)可編程電流限電阻RPCL的大小進(jìn)行仿真試驗(yàn),得到可編程電流限和電阻RPCL的對應(yīng)關(guān)系,如圖6所示。
將擬合曲線中的RPCL帶入式(5)中,得到的理論結(jié)果與圖6中的仿真結(jié)果誤差范圍在10%以內(nèi),可以較好地實(shí)現(xiàn)電流限的可編程。
在輸入電壓2.5 V、輸出電壓配置為1.8 V情況下,輸出電壓隨負(fù)載的變化曲線如圖7所示。
仿真曲線圖如圖7所示,對本文所設(shè)計(jì)的LDO在TT工藝角下總體仿真,仿真結(jié)果顯示負(fù)載電流在0~3 A范圍內(nèi)變化,LDO均可正常輸出,且VOUT的變化僅為70 μV左右。
4 結(jié)論
本文基于TSMC的0.25 μm BCD工藝,設(shè)計(jì)了一種應(yīng)用于LDO的可編程電流限電路,有效地避免了傳統(tǒng)電流限保護(hù)電路限流值不可調(diào)的缺點(diǎn)。本文的電流限值可以通過配置外部電阻RPCL的大小來調(diào)整。在2 V~5.5 V的輸入電壓、1.2 V~5 V的輸出電壓范圍內(nèi),實(shí)現(xiàn)了最大帶載能力3 A,可編程電流限值可在0.2 A~4.5 A范圍內(nèi)調(diào)節(jié)。仿真結(jié)果顯示,本文設(shè)計(jì)的電流限電路實(shí)現(xiàn)了電流限閾值的可編程,符合設(shè)計(jì)要求。
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作者信息:
初 飛1,2,宋奎鑫2,趙元闖2,郭 威2,馬 悅2,孔 瀛2
(1.南京航空航天大學(xué) 經(jīng)濟(jì)與管理學(xué)院,江蘇 南京211106;2.北京時(shí)代民芯科技有限公司,北京100076)