《電子技術(shù)應(yīng)用》
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運(yùn)載火箭地面測(cè)試設(shè)備多路脈沖校準(zhǔn)裝置設(shè)計(jì)
來(lái)源:電子技術(shù)應(yīng)用2014年第5期
馬雪松1,姚靜波2,樂(lè) 天1,孫云鵬3
(1.裝備學(xué)院 研究生院,北京101416;2.裝備學(xué)院 航天裝備系,北京101416;3.酒泉衛(wèi)星
摘要: 在當(dāng)前快速測(cè)試的背景下,為解決運(yùn)載火箭地面測(cè)試設(shè)備校準(zhǔn)周期長(zhǎng)、工作效率和數(shù)據(jù)可靠性低的問(wèn)題,設(shè)計(jì)了一種地面測(cè)試設(shè)備校準(zhǔn)裝置。校準(zhǔn)裝置結(jié)合電磁兼容(EMC)設(shè)計(jì)原則,采用狀態(tài)機(jī)的模塊設(shè)計(jì)方法設(shè)計(jì)FPGA內(nèi)部邏輯門(mén),控制實(shí)現(xiàn)64路脈沖信號(hào)輸出,經(jīng)通用接口和總線對(duì)運(yùn)載火箭地面測(cè)試設(shè)備進(jìn)行校準(zhǔn)。輸出信號(hào)具有精度高、可靠性強(qiáng)的特點(diǎn),縮短校準(zhǔn)裝置校準(zhǔn)周期并提高了其通用性,增加了地面測(cè)試設(shè)備測(cè)試數(shù)據(jù)可靠性。
中圖分類(lèi)號(hào): TN79.1 TP206.1
文獻(xiàn)標(biāo)識(shí)碼: A
文章編號(hào): 0258-7998(2014)05-0018-03
A design of multi-channel pulse calibration device for launch vehicles ground test equipment
Ma Xuesong1,Yao Jingbo2,Le Tian1,Sun Yunpeng3
1.Company of Postgraduate Management of Equipment Academy, Beijing 101416,China;2.Department of Space Equipment of Equipment Academy, Beijing 101416,China;3.Jiuquan Satellite Launch Centre, Jiuquan 732750,China
Abstract: This paper designs a multi-channel pulse calibration device in the context of fast test, which can solve the test problems of launch vehicles ground test equipment such as long calibration cycle, low operating efficiency and low reliability of the data. This device is designed underlying EMC principles. The FPGA on calibration device controls pulse output of 64 channels with the method of state machine and calibrates launch vehicles ground test equipment by universal interface and bus. It is proved with features of high precision and reliability. It cuts down the calibration cycle and improves its versatility. This design also increases data-reliability of vehicles ground test equipment.
Key words : launch vehicles;fast test;calibration device;FPGA

    隨著我國(guó)航天技術(shù)的發(fā)展,用于搭載小衛(wèi)星的火箭機(jī)動(dòng)式發(fā)射和導(dǎo)彈發(fā)射對(duì)于測(cè)試系統(tǒng)的快速反應(yīng)能力提出了越來(lái)越高的要求,快速測(cè)試成為了航天試驗(yàn)的一個(gè)新課題[1]。快速測(cè)試要求縮短射前測(cè)試周期,提高測(cè)試效率和測(cè)試數(shù)據(jù)的可靠性,降低故障發(fā)生率,這就對(duì)地面測(cè)試設(shè)備的維修保障、校準(zhǔn)測(cè)試等工作提出了新的要求。
    運(yùn)載火箭發(fā)射前需要通過(guò)地面測(cè)試設(shè)備對(duì)其進(jìn)行綜合測(cè)試,地面測(cè)試設(shè)備的準(zhǔn)確性對(duì)于運(yùn)載火箭發(fā)射任務(wù)起著重要作用。采用傳統(tǒng)的方法進(jìn)行地面測(cè)試設(shè)備的校準(zhǔn)已經(jīng)無(wú)法滿足快速測(cè)試體系結(jié)構(gòu)的需求。由于運(yùn)載火箭結(jié)構(gòu)復(fù)雜、箭上設(shè)備和儀器多,因此用于運(yùn)載火箭地面測(cè)試任務(wù)的地面測(cè)試設(shè)備的測(cè)試項(xiàng)目也較多,配套的地面測(cè)試設(shè)備種類(lèi)多、數(shù)量大,并且不同型號(hào)的運(yùn)載火箭又對(duì)應(yīng)不同配套的地面測(cè)試設(shè)備。傳統(tǒng)的校準(zhǔn)測(cè)試方法存在校準(zhǔn)儀器設(shè)備數(shù)量大、類(lèi)型多、校準(zhǔn)方法復(fù)雜、通用性差、可同時(shí)測(cè)試的通道數(shù)少、校準(zhǔn)效率低、工作量大導(dǎo)致的人為誤差大、數(shù)據(jù)不可靠等缺點(diǎn),這些因素增加了運(yùn)載火箭的校準(zhǔn)測(cè)試周期,對(duì)運(yùn)載火箭測(cè)試任務(wù)的測(cè)試效率產(chǎn)生不利影響。因此,設(shè)計(jì)一種較準(zhǔn)方法簡(jiǎn)單、通道路數(shù)多、通用性好、性能穩(wěn)定可靠的校準(zhǔn)裝置,對(duì)快速測(cè)試體系結(jié)構(gòu)具有重要意義。
1 設(shè)計(jì)框架和結(jié)構(gòu)
1.1 框架設(shè)計(jì)

    為滿足測(cè)試地面測(cè)試設(shè)備數(shù)字通道測(cè)試需求,檢定各數(shù)字通道以及各個(gè)通道數(shù)據(jù)采集的相互關(guān)系,本文以地面測(cè)試設(shè)備的數(shù)字時(shí)序?yàn)檠芯繉?duì)象,設(shè)計(jì)校準(zhǔn)裝置單板以10 ms為間隔排隊(duì)輸出周期性脈沖信號(hào),采用該信號(hào)控制負(fù)載電路,結(jié)合外接電源輸出不同電壓等級(jí)的脈沖信號(hào),可同時(shí)測(cè)試地面測(cè)試設(shè)備的多個(gè)數(shù)字通道以及各個(gè)通道之間的信號(hào)采集情況,同時(shí)信號(hào)幅值能滿足不同運(yùn)載火箭配套地面測(cè)試設(shè)備電壓等級(jí)需求。
    校準(zhǔn)裝置采用PXI總線技術(shù),通過(guò)可編程FPGA和硬件描述語(yǔ)言Verilog實(shí)現(xiàn)邏輯設(shè)計(jì)。64個(gè)I/O管腳輸出64路以10 ms為間隔排隊(duì)觸發(fā)周期性脈沖信號(hào),經(jīng)過(guò)集成驅(qū)動(dòng)電路ULN2803放大,輸出接口采用100 pin的SCSI-100通用接口,集電極開(kāi)路驅(qū)動(dòng)負(fù)載負(fù)極,采用外接電源控制可實(shí)現(xiàn)輸出時(shí)序信號(hào)的幅值為10 V~40 V。
    設(shè)計(jì)框圖如圖1所示,F(xiàn)PGA芯片采用Altera公司Cyclone III系列的EP3C10E144C8N芯片,低壓差電壓調(diào)節(jié)器采用LM1117系列芯片,可實(shí)現(xiàn)5 V電壓到1.2 V和2.5 V的電壓轉(zhuǎn)換。FPGA配置方式采用AS和JTAG同時(shí)配置的方式,EPROM采用Altera公司的EPCS4I8N芯片。FPGA輸出電流僅有4 mA,無(wú)法驅(qū)動(dòng)負(fù)載電路,而八達(dá)林頓晶體管ULN2803具有8通道的驅(qū)動(dòng)能力,可滿足驅(qū)動(dòng)電路驅(qū)動(dòng)放大需求[2]。

1.2 FPGA功能模塊設(shè)計(jì)
    FPGA選用Altera公司Cyclone系列的型號(hào)為EP3C-10E144C8N的芯片。通過(guò)Quartus 9.0軟件平臺(tái)完成FPGA內(nèi)部邏輯設(shè)計(jì),實(shí)現(xiàn)64路脈沖信號(hào)排隊(duì)輸出。狀態(tài)轉(zhuǎn)換圖如圖2所示。


    采用狀態(tài)機(jī)設(shè)計(jì)方法,將整個(gè)時(shí)序邏輯劃分為S0~S45個(gè)狀態(tài),RS為RESET信號(hào),低電平有效;T0~T4為5個(gè)觸發(fā)信號(hào),高電平觸發(fā);CLK1為排隊(duì)計(jì)時(shí)信號(hào),用于控制排隊(duì)間隔。64路信號(hào)存在如下?tīng)顟B(tài):各通道初始狀態(tài)S0;初始態(tài)到信號(hào)觸發(fā)的過(guò)渡狀態(tài)和全部通道輸出低電平狀態(tài),過(guò)渡狀態(tài)和全部通道輸出低電平狀態(tài)各通道輸出信號(hào)一致,故可視為一個(gè)狀態(tài)S1;各通道排隊(duì)輸出高電平狀態(tài)S2;全部通道輸出高電平狀態(tài)S3;各通道排隊(duì)輸出低電平狀態(tài)S4。狀態(tài)邏輯關(guān)系表如表1所示。
2 系統(tǒng)仿真實(shí)現(xiàn)及結(jié)果檢定
2.1 FPGA軟件仿真

    FPGA的開(kāi)發(fā)選用硬件描述語(yǔ)言Verilog,開(kāi)發(fā)平臺(tái)選擇Quartus 9.0軟件,該軟件集成了Altera的FPGPA開(kāi)發(fā)流程所涉及的所有工具和第三方軟件接口;仿真工具采用ModelSim,該軟件是業(yè)界最通用仿真器之一,具有功能強(qiáng)大、調(diào)試手段多、仿真精度高、速度快等特點(diǎn)[3-4]。
    仿真時(shí)序圖如圖3、圖4所示,通過(guò)時(shí)序圖觀察可知,校準(zhǔn)裝置核心器件FPGA實(shí)現(xiàn)了64路脈沖信號(hào)以10 ms間隔排隊(duì)輸出的功能。圖中CLK為8 MHz時(shí)鐘信號(hào),周期為125 ps;CLK1是經(jīng)分頻產(chǎn)生的周期為10 ms的脈沖信號(hào),用于觸發(fā)各排隊(duì)通道,控制排隊(duì)間隔;RESET信號(hào)在t=1 s時(shí)變?yōu)榈碗娖剑現(xiàn)PGA執(zhí)行復(fù)位操作,RESET持續(xù)1 s后恢復(fù)高電平觸發(fā)脈沖信號(hào)開(kāi)始發(fā)生;T1、T2、T3、T4是內(nèi)部邏輯狀態(tài)觸發(fā)信號(hào)。由仿真圖可知,F(xiàn)PGA能按要求產(chǎn)生以10 ms為排隊(duì)間隔的周期脈沖信號(hào),脈沖信號(hào)的周期為1 s。

 

 

2.2 硬件實(shí)現(xiàn)
    由于用于航天測(cè)試的各類(lèi)設(shè)備均要通過(guò)電磁兼容(EMC)認(rèn)證測(cè)試,而采用傳統(tǒng)方法生產(chǎn)出樣品后進(jìn)行認(rèn)證測(cè)試,存在成本高、故障定位困難等問(wèn)題。因此,研發(fā)初期將EMC方面的問(wèn)題定位并解決,對(duì)提高產(chǎn)品質(zhì)量、降低研發(fā)成本是十分必要的[5]。校準(zhǔn)裝置結(jié)合EMC設(shè)計(jì)原則,從原理圖設(shè)計(jì)開(kāi)始,對(duì)電源、時(shí)鐘外圍電路設(shè)計(jì)濾波器濾,PCB布線時(shí),對(duì)電源線、地線、信號(hào)線的布線位置、寬度和間距以及過(guò)孔寬度和元件位置等進(jìn)行調(diào)整[6-7],結(jié)合其他設(shè)計(jì)準(zhǔn)則進(jìn)行PCB電路圖設(shè)計(jì),得到的校準(zhǔn)裝置具有較弱的電磁干擾和較強(qiáng)的電磁抗擾度。
2.3 結(jié)果檢定
    校準(zhǔn)裝置的時(shí)鐘晶振標(biāo)稱頻率為8 MHz,頻率精度等級(jí)為5×10-8,屬于高精度時(shí)鐘源。采用通用精度等級(jí)較高的E312A通用計(jì)數(shù)器對(duì)校準(zhǔn)裝置的各個(gè)通道輸出進(jìn)行結(jié)果檢定,隨機(jī)選取6個(gè)通道進(jìn)行測(cè)量,測(cè)得其輸出信號(hào)周期如表2所示。

    由上表可知,輸出脈沖信號(hào)的周期理論值為1 s,測(cè)得周期的最大絕對(duì)誤差為0.1×10-6 s。由此可知,校準(zhǔn)裝置可發(fā)出高精度的周期脈沖信號(hào)。采用雙通道控制門(mén)控雙穩(wěn)的啟動(dòng)和停止來(lái)進(jìn)行測(cè)量的方法,一個(gè)通道用于啟動(dòng)門(mén)控雙穩(wěn),另一個(gè)通道用于控制雙穩(wěn)復(fù)原,啟動(dòng)通道采用正斜率觸發(fā),停止通道采用負(fù)斜率觸發(fā),對(duì)校準(zhǔn)裝置隨機(jī)選擇兩個(gè)通道進(jìn)行測(cè)量,測(cè)得結(jié)果如表3所示。排隊(duì)間隔理論值為10 ms,測(cè)得最大絕對(duì)誤差為10-5 s,由此可知,脈沖信號(hào)排隊(duì)時(shí)間間隔具有較高的精度。
    通過(guò)軟件仿真和對(duì)輸出結(jié)果的檢定,得出脈沖校準(zhǔn)裝置輸出信號(hào)的周期和排隊(duì)時(shí)間間隔具有精度高的特點(diǎn),由通用接口總線可實(shí)現(xiàn)單板的64路信號(hào)輸出,輸出信號(hào)的幅值可通過(guò)外接電源控制,滿足地面測(cè)試設(shè)備不同電壓等級(jí)脈沖信號(hào)的測(cè)試需求。利用該裝置可實(shí)現(xiàn)不同型號(hào)運(yùn)載火箭的不同類(lèi)型地面測(cè)試設(shè)備校準(zhǔn)需求,實(shí)現(xiàn)“即插即測(cè)”,具有測(cè)試速度快、測(cè)試方法簡(jiǎn)單、通用性強(qiáng)的特點(diǎn),增加了測(cè)試數(shù)據(jù)的可靠性,縮短了校準(zhǔn)測(cè)試周期,對(duì)后續(xù)測(cè)試任務(wù)的順利進(jìn)行以及構(gòu)建快速測(cè)試體系結(jié)構(gòu)具有重要意義。
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